Патенты с меткой «микрометрических»
Стенд для испытания микрометрических приборов
Номер патента: 593100
Опубликовано: 15.02.1978
Авторы: Мусихин, Сергеев, Сыгучев
МПК: G01M 13/02
Метки: испытания, микрометрических, приборов, стенд
...и предназначено, в частности, для испытания микрометрических измерительных приборов,Известен стенд для испытания пары ходовой винт-гайки, содержащий привод, кинематически связанный с испытуемыми элементами, и устройство нагружения в виде узла стабилизации измерительного усилия 11.Однако известный стенд невозможно использовать для испытания микрометрических приборов,По технической сущности и достигаемому эффекту наиболее близким к изобретению является стенд для испытания микрометрических приборов разомкнутого типа, содержащий привод, кинематически связанный с ним конический зубчатый редуктор, механизм для соединения с испытуемыми приборами и устройство управления стендом 21.Недостатком отмеченного стенда является невысокая точность...
Устройство для доводки измерительных поверхностей пятки и микровинта микрометрических скоб больших размеров
Номер патента: 769298
Опубликовано: 07.10.1980
Автор: Кустов
МПК: G01B 5/00
Метки: больших, доводки, измерительных, микровинта, микрометрических, поверхностей, пятки, размеров, скоб
...25 между доводимымп поверхностями 18 и 19.На колонне крепится измерительный блок, состоящий из хомута 20 и поворотного индикатора 21.Устройство работает следующим обра зомСкобу 8 устанавливают в основании 1 и зажимают при помощи крепежных элементов. Между измерительными поверхностями скобы устанавливается колонна 14 с наконечниками 1 б и 1 б и измерительным блоком из хомута 20 и индикатора 21, а на доводимую пятку 10 скобы 8 насадкой наконечник, по плоскости, которого может передвигаться подпятник 12, в который упирается наконечник 1 б колонны 14. Другим сво им наконечником 1 б,колонна базируется на микровинте 9.Положение подпятника 12, а следовательно, и оси колонны 14 фиксируется в произвольном положении, Вращением ко...