Патенты с меткой «матричныхиспытаний»

Номер патента: 851414

Опубликовано: 30.07.1981

Авторы: Клоков, Колпаков, Милькевич, Сычев, Шевелев

МПК: G06F 17/16

Метки: матричныхиспытаний, микроэлектронных, проведения

...логический блок с числом пар состояний, соответствующих числу параметров исследуемой схемы. Каждая пара состояний характеризует нижнюю и верхнюю границу допустимых значений одного параметра. Компоненты первого начального случайного вектора, поступающие на его входы, опрокидывают обе его границы в положение, в цифровом эквиваленте соответствующее пришедшему номинальному значению каждого параметра исследуемой схем. Компоненты второго случайного вектора опрокидывают одну из каждой пары его границ, причем левую (нижнюю) или правую (верхнюю) в зависимости от того, меньше или больше соответствующая компонента второго начального случайного. вектора соответствующей компоненты первого начального случайного вектора, Компоненты каждого...