Патенты с меткой «контуру»

Номер патента: 1746240

Опубликовано: 07.07.1992

Авторы: Казакова, Стадник, Тарасов, Шарапов

МПК: G01M 13/02

Метки: замкнутому, зубчатых, испытания, колес, контуру, силовому, стенд

...поясков рабочих дорожек, например крайние правые образующие аЬ секторных участков 20, 21 и 22, могут быть расположены в одной диаметральной плоскости,Тогда количество зубьев отдельных секторных участков венца испытуемого колеса, расположенных на дугах начальной окружности в пределах центральных углов ао = 360/ - ,81; а 1 = Р 1 - А; а 2 = ф 2 - рз и аз = рз, противоположно расположенных против равных им центральных углов секторных участков рабочих дорожек, установленных на одном валу с колесом дисков программного пакета, соответственно равно Уо, Е 1, 72 и Ез. Тогда, например, при отношении чисел зубьев Еб/Ъ, равном единице, на обоих испытуемых колесах с числом зубьев Еп в пределах каждого из.секторов с числом зубьев Еп/ или 2 п/3...

Номер патента: 1772255

Опубликовано: 30.10.1992

Авторы: Горшков, Зак, Касаткин, Сафин, Эскин

МПК: D05B 21/00

Метки: заданному, контуру, копира, швейных

...копира осуществляется следующим образом.По краю металлической плоской пластины 1, вырезанной в соответствии с контуром обрабатываемой швейной детали, выполняют отверстия 2 по всему периметру ее и соединяют зубчатый элемент 3 с пластиной 1 посредством отверстий 2.Зубчатый элемент 3 изготавливают иэ термопластичного материала с выступом 4 на его противоположной стороне от рабочей поверхности 5. В выступе 4 выполняют поперечные прорези 6 и продольный паз 7 для размещения в нем торца 8 пластины 1.Соединение зубчатого элемента 3 с ответствиями 2 пластины 1 осуществляют путем нагрева участка термопластичного зубчатого элемента .3, расположенного напротив соответствующего ответствия пла1772255 Составитель А.ТарнавскаТехред М.Моргентал едак...

Номер патента: 1778207

Опубликовано: 30.11.1992

Авторы: Хлебалин, Эскин

МПК: D05B 21/00

Метки: заданному, закрепления, контуру, обработке, полуавтомате, швейном, швейных

...в зонуукладки обработанных деталей Д.На фиг. 2 приведена схема устройства для зажима, которая можетбыть применена в случае неавтоматического съема деталей.Работает устройство следующ об 1778207В тот момент, когда необходимоосуществить съем обработанной детали, съемник 15 поворачивается пострелке Р. Толкатель 14, двигаясь пострелке Б, нажимает на площадку 12двуплечего рычага 10, который поворачиваясь вокруг оси 9 под действием пружины 8, отводит ролик 11 отскоса б,1 ООсвобожденный упор 5, выполненныйвместе с крышкой 4, поворачиваетсявокруг оси 7, Деталь Д освобождается и, зажатая захватом 16, можетбыть с помощью съемника 15 изъята 1 с;иэ кассеть 1,В свободную кассету укладываютсяновые заготовки, Закрывая крышку 4(вручную),...

Номер патента: 1401777

Опубликовано: 30.09.1994

Автор: Барков

МПК: B23K 37/02, B23K 37/04

Метки: автоматической, замкнутому, контуру, плоскому, сварки

1. УСТРОЙСТВО ДЛЯ АВТОМАТИЧЕСКОЙ СВАРКИ ИЗДЕЛИЙ ПО ЗАМКНУТОМУ ПЛОСКОМУ КОНТУРУ, содержащее станину, прижим для закрепления изделия с пневмоцилиндром, штоком и упорами, копир с двумя копирными поверхностями, размещенными в основном и дополнительном пазах, каретки со сварочными горелками и двуплечими рычагами, снабженными основным и дополнительным копирными роликами, взаимодействующими с копирными поверхностями основного и дополнительного паза копира, и механизм перемещения кареток, выполненный в виде двух втулочно-роликовых цепей, соединенных между собой стержнями и расположенных на звездочках по контуру свариваемого изделия, и электропривода с ведущими звездочками, отличающееся тем, что, с целью повышения качества сварного шва за счет...

Номер патента: 1382368

Опубликовано: 27.05.1996

Авторы: Андреев, Дубовик

МПК: H03H 3/02

Метки: колебаниями, контуру, пьезоэлемент, сдвига

Пьезоэлемент с колебаниями сдвига по контуру, содержащий пластину монокристалла лантан-галлиевого силиката La3Ga5SiO14 и электроды на основных гранях пластины, отличающийся тем, что, с целью повышения температурной стабильности частоты сдвиговых колебаний, угол между нормалью к главной грани пластины и кристаллографической осью Y выбран в пределах от 1 до 15o.