Патенты с меткой «деформированного»

Номер патента: 1619018

Опубликовано: 07.01.1991

Авторы: Бахтин, Глухов, Городнюк, Костюченко, Николаев, Перк

МПК: G01B 11/16, G01B 9/021

Метки: голографический, деформированного, напряженно, объектов, параметров, состояния

...состояния,Вытравливание полосок, параллельных линии крепления, обусловлено следующим. При вытравливании идентичных полосок, проходящих через круглое отверстие, происходит частичная разгрузка окружной компоненты тензора остаточных напряжений по контуру полосок. По голографической интерферограмме можно определить распределение окружной компоненты по контуруполосок, Для этого по распределению окружной компоненты сначала определяют распределение радиальной компоненты в темплете, а затем рассчитывают компоненты обьемного напряженного состояния ввалке, т.е. вытравливание полосок позволяет определить параметры напряженно-деформированного состояния бандажированного 20 25 30 35 40 45 валка, В результате вытравливания полосок происходит...

Номер патента: 1753268

Опубликовано: 07.08.1992

Авторы: Богусонова, Гуревич, Гусев, Данилов, Разинков

МПК: G01B 21/00

Метки: вращающихся, голографический, деформированного, объектов, состояния

...связанным с лазером 4непрерывного излучения, и лепестком 13,предназначенным для установки на объектеи перекрывания оптического входа,45 Сопоставительный анализ признаковотличительной части формулы изобретенияи аналогов показал наличие. критерия "Существенные отличия", т,к, они не совпадаютили дают качественно различающиеся свой 50 ства.Благодаря новым операциям синхрони-зации моментов открытия модулятора добротности и моментов поджига лампынакачки обеспечивается возможность пол 55 учения на одной фотопластинке двух скоррелированных голографическихизображений объекта, соответствующих нетолько одинаковым, но и различным угловым скоростям вращения, При этом использование различных схем голографических испекл-интерферометров позволяет...

Номер патента: 1796332

Опубликовано: 23.02.1993

Авторы: Жварницкий, Костава, Савчинский

МПК: B21J 5/00

Метки: деформированного, поковок, состояния

...я)йвненияЯФ ил среза на границ-р зи 01) а рар; 30 ибрурмальных соации на гра" СтВВЛ 1113 ЦЙ 2 Ж п ат=,1, г,О О фЬк 1 - МОщНОСтЬ йнера в области 2 Д 1адах ФЗбЯп ОКЯнтОВ Кн2О ЯНКЯХ аф Чрд: Й-р в 4 4 вввМ тейнера ласти 3; Я -рзи д) зи д)зи 6 деформации;рмирования;и металла в конкре р- удельное усилие Чо - скорость дефо я- предел текучест х режимах деформац ф - интенсивность 45 рврв ФИ р зи О) зи ИИ;скор Ф5 тей дефо Я ТДВНИЯ. прошивнем 3 телескопического пуансона в контейнере 4,После чего прошитую модель поковки просвечивают рентгеновскими лучами и фиксируот на светочувствительном материале состояние координатных узлов без разьема модели и нарушения сплоиности материала,Полученную деформированную точечную сетку аппроксимируют В принятой...

Номер патента: 1820408

Опубликовано: 07.06.1993

Авторы: Гольдман, Попов

МПК: G11B 15/20, G11B 5/008

Метки: воспроизведения, деформированного, записи, информации, ленточного, магнитной, носителя, цифровой

...считывания информации магнитной головкой 1 воспроизведения с обратной поверхности ленточного кольца 6. В вышесказанном не трудно убедиться, если на кусок магнитного носителя с записанной информацией кодом без возврата к нулю, например системой "Тестер", наложить отрезок предварительно намагниченной постоянным магнитным полемдо насыщения ленты и плотно прижать другк другу. При нанесении магнитной суспензии на поверхности ленты проявляются кодовые импульсы, записанные на магнитном носи",еле, При разьединении поверхностей носителя и ленты кодовые импульсы с ленты исчезают. Четкость импульсов зависит от плотности прижатия и ат толщины ленты.Четкость импульсов характеризует уровень отношения сигнал-помеха при воспроизведении. Отсюда...

Номер патента: 1018315

Опубликовано: 27.09.1996

Авторы: Нагорная, Одесюк, Петров

МПК: B28D 5/00

Метки: алмаза, деформированного, кристалла, огранки

1. Способ огранки деформированного кристалла алмаза преимущественно при изготовлении бриллиантов, включающий установку кристалла алмаза в держатель, поворот кристалла алмаза по часовой стрелке вокруг оси держателя на угол 22o30', пробное шлифование в различных направлениях относительно кристаллографических осей алмаза, выбор направления шлифования с наибольшей интенсивностью съема и последующее шлифование и полирование граней, отличающийся тем, что, с целью повышения производительности, пробное шлифование осуществляют последовательно в трех положениях держателя с кристаллом алмаза относительно направления шлифования, первое из которых составляет положительный угол от 29o45' до 30°, второе - перпендикулярно, а третье...