Патенты с меткой «автоинномикроскопического»
Способ автоинномикроскопического анализа точечных дефектов в металлах
Номер патента: 852102
Опубликовано: 23.02.1985
Автор: Суворов
МПК: H01J 37/285
Метки: автоинномикроскопического, анализа, дефектов, металлах, точечных
...в двумерном случае связями атомов в самой верхней плоскости. Связь атомов характеризуется их атомным окружением, а именно числом ближайшим соседних атомов (соседей) в , И, числом соседей, вторых по удаленности - Н 2 и т.п., при этом сила связимежду атомами быстро убывает с увеличением между ними расстояния (для приближения оценок можно положить это убывание пропорциональным шестой степени расстояния),Для конфигурации, изображенной на фиг. 1, наименьшей энергией связи обладают атомы, обозначенные индексами А, иэ них слабее всего связаны атомы А- тип Связи 2,1.1,1. (числа Б, И, Б 5, И 4, И), немного лучше - атомы А"2 (2. 1.1.2,1) и т.д.852102 Энергия связи атома определяет неко-торое среднее время его устойчивого присутсвия на поверхности...