Патенты с меткой «251094»

Номер патента: 251094

Опубликовано: 01.01.1969

МПК: G01R 31/26

Метки: 251094

...чертеже приведена принципиальная схема устройства для многократных испытаний полупроводниковых приборов на вторичный пробой.Устройство содержит клеммы 1, 2 для подключения сиспытуемого полупроводникового прибора 3, генератор 4 импульсов запуска,схему 5 формирования импульсов управления и быстродействующую короткозамыкающую цепь 6, Т.Схема формирования импульсов управле ния содержит ограничитель уровня напряжения (стабилитрон 8 и резистор 9), дифференцирующую цепь (конденсатор 10 1 с входное сопротивление транзистора 11) и инвертор (транзистор 11 и рези:гор 12). Для измерения тока испытуемого прибора в цель вклк чен резистор 13.Прннцип действия устройства следующий.С генератора 4 на исследуемый прибор 3подается одиночный импульс...