ZIP архив

Текст

25 Ю 94 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Солса Советокик Социалистических РеспубликЗависимое от авт. свидетел ва 1 д, 1102 1091516126-25) Заявлено 20.И,1966 с присоединением зас МПК Н Комитет по деламобретений и открытийри Совете МинистровСССР иорич УДК 621.3.082.6;62 .382.2 (088.8) ллетеьсь чо 27 221970 ано 26.И.1969,Опублико Дата опубликовани исаи авторысзобретени ВЖСс.Щ ;:1 Германский, Н. В, Галенко и В, Я. Майстров т РЛТИТП 0- техничеп;ля сООТ ЗаявителУСТРОЙСТВО ДЛЯ МНОГОКРАТНЪХ ИСПЫТАНИЙ ПОЛУПРОВОДНИКОВЪХ ПРИБОРОВ НА ВТОРИЧНЬЙ ПРОБОЙИзвестно устройство для многократных испытаний полупроводниковых приборов на вторичный, пробой, содержащее генератор импульсов мощности и короткозамыкающую быстродеиствующую цепь,Описываемое устройство позволяет многократно испытывать на вторичный пробой все известные типы полупроводниковых приборов независимо от исходного магериала, типа проводимости и технологии изготовления. С помощью предлагаемого устройства может быть определена область безопасной работы и получена возможность исследовать развитие вторичного пробоя при разных условиях окружающей среды и различных режимах работы полупроводникового прибора.Это достигается тем, что устройство содержит схему формирования, импульсов управления, вслсоченссусо между испытуемым прибором и короткозамыкающей цепью и содержащусо ограничитель, дифференцирующую цепь и инвертор.На чертеже приведена принципиальная схема устройства для многократных испытаний полупроводниковых приборов на вторичный пробой.Устройство содержит клеммы 1, 2 для подключения сиспытуемого полупроводникового прибора 3, генератор 4 импульсов запуска,схему 5 формирования импульсов управления и быстродействующую короткозамыкающую цепь 6, Т.Схема формирования импульсов управле ния содержит ограничитель уровня напряжения (стабилитрон 8 и резистор 9), дифференцирующую цепь (конденсатор 10 1 с входное сопротивление транзистора 11) и инвертор (транзистор 11 и рези:гор 12). Для измерения тока испытуемого прибора в цель вклк чен резистор 13.Прннцип действия устройства следующий.С генератора 4 на исследуемый прибор 3подается одиночный импульс мощности, позволяющий ввести прибор во вторичныи пробой. Напряжение с исследуемого прибора 3 подает"я на ограничитель уровня напряжения - стабилитрон 8. При появлении резкого спада напряжения в момент развития вторичного пробоя на исследуемом приборе ниже порога ограничения дсифференцирующая цепь формирует короткий иас 1 пульс, соответствующсий по времени этому спаду, который после инвертирования (транзистор 11) включает короткозамыкающий тиристор 6. Таким образом, исследуемый,полупроводиковый прибор в момент свалссвансся во торичный пробой оказывается обесточенным,251094 Предмет изобретения Составитель Г. Петрова Редактор Б. С. Панкина Техред т. П. Курилко Корректор Р. И. Крюаказ 3790,5 Тирагк 480 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Мипистров СССР Моска Ж, Рау 1 пскаи паб., д. 4/5 шографин, пр. Сапунова, 2 Устройство для многократных испытаний полупроводниковых приборов на вторичньш пробой, содергкащее клеммы для подключения испытуемого прибора, генератор импульсов управления, короткозамыкающую быс 1 родействующую цепь, отличпющееся тем, что, с целью предотвращения разрушения испытус.мого полупроводникового прибора при многократных испытаниях на вторичный,пробой, оно содергкит схему формирсвания импульсов 5 управления, включенную между испытуемымприбором и короткозамыкающей цепью и содержащую ограничитель, дифференцирующую цепь и ипвсртор.

Смотреть

Заявка

1091516

МПК / Метки

МПК: G01R 31/26

Метки: 251094

Опубликовано: 01.01.1969

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-251094-251094.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">251094</a>

Похожие патенты