Способ измерения параметров полупроводниковых приборов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 449322
Автор: Терентьев
Текст
С блока задания исходных режимов 1, в котором помещен испытуемый прибор, измеряемый сигнал подается на вход блока 2, где измеряемый сигнал развертывается об 5 разцовым сигналом, имеющим периодическии характер (фиг, 2, а), Формирователь 3 формирует фазоманипулированный сигнал с заданной амплитудой, имеющий скачки фаз на Г в точках уравновешивания контроли 10 ,руемой и образцовой величин (фиг. 2, б), а формирователь 4 формирует периодический сигнал, период которого совпадает по амп-литуде, форме и длительности с первыми двумя дискретами фазоманипулированного15 сигнала (фиг, 2,в), Выходные сигналы формирователей подаются на блок 5, где производится вычитание периодического сигнала из фазоманипулированного и разность приводится к виду псходного фазома 20 нипулированного сигнала. По разности вычисляют распределение нестабильности во времени. Затем определяют спектральную: мощность разностного сигнала, которая позволяет судить о величине нестабильности и ее распределении по частотному диапазоОписываемый способ позволяет получить более полную информацию о поведении транзистора во время испытаний, формированне фазоманипулирозанного сигнала обеспечивает высокую точность и помехоустойчивость последующих преобразований;фазоманипулированный сигнал является хорошим приближением для теоретически оптимального сигнала, обеспечивающего при измерении наибольшее отношение сигнал/помеха; использование простых преобразователей развертывания, вычитания упрощает аппаратурную реализацию способа.Предмет изобретенияСпособ измерения параметров полупроводниковых приборов, например нестабильности, путем сравнения контролируемой и образцовой величин, о т л и ч а ю ш и йс я тем, что, с целью повышения точности измерений, формируют фазоманипулированный сигнал с постоянной амплитудой, имеющий скачки фаз величиной Л в точках равенства контролируемой и образцовой величин, и периодический сигнал, совпадающий по амплитуде, форме и длительности с первыми двумя дискретами фазоманипулированного сигнала, вычитают периодичес,;.лй сиги:. нал из фазоманипулированного и по полученной разности определяют нестабильность., а 449322 С. итааитель З,Чепноковаокор Т.Орловская екред Т.Ку 1 знлко Корр"Ор 1 Лебм -ва и 1 ая( Ю 9 11 одиисиое зд. ы /ОИ Заказ редприитие .11 аеит, Москва ренскоискаи иаб, 24 1111 осударстиеииоио комиа Совета Мииистроа ОТР ио делам изобретений и о 1 крытий Москаа, 130;15, Раушекаи иаб., 4 фРУиюЮ 7
СмотретьЗаявка
1702667, 04.10.1971
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ А-1561
ТЕРЕНТЬЕВ НИКОЛАЙ НИКОЛАЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01R 31/26, H01L 21/66
Метки: параметров, полупроводниковых, приборов
Опубликовано: 05.11.1974
Код ссылки
<a href="https://patents.su/4-449322-sposob-izmereniya-parametrov-poluprovodnikovykh-priborov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения параметров полупроводниковых приборов</a>
Предыдущий патент: Устройство для испытания электронных ламп
Следующий патент: Феррозондовый магнитометр
Случайный патент: Всвсоюэнаясатитг: ». • •л.,; г,; »гд, библиотека мбд