Способ электрических испытаний дискретных элементов

(71) Харьковское научно-производствен ное объединение по системам автоматизированного управления(56) Авторское свидетельство СССР У 650030 кл, С 01 К 31/26, 1976.ТранзисторыПараметры, методы измерения и испытания. М.: Советское радио, 1968, с. 48, рис. 210 (54) СПОСОБ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ИСПЫТАНИЙ ДИСКРЕТНЫХ ЭЛЕМЕНТОВ Изобретение относится к электрическим испытаниям дискретных элементов автоматики и систем управлення:(в дальнейшем - элементы), время пребывания которых в открытом или закрытом состоянии в рабочем режиме наодин или несколько порядков превышаетвремя переключения из одного состояния в другое, и может быть использовано для испытания и технологического прогона элементов на заводах-из"готовителях, а также потребителями элементов,Цель изобретения - повышение экономичности электрических испытаний а схема осуиг, 2, 3 (а, способа на токе соответГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯ ПРИ ГКНТ СССРОПИСАНИЕК АВТОРСКОМУ СВИ дискретных элементов.На фиг, 1 представле ществления способа; на б) ". схемы осуществлени постоянном и переменном ственно,2(57) Изобретение относится к электронной технике и может быть использовано при электрических испытанияхдискретных элементов автоматики исистем управления,.в частности.прииспытаниях программируемых контроллеров с большим числом входов-выходов.Цель изобретения - повышение экономических электрических испытаний дискретных элементов, Испытуемый элемент нагружается током от высоковольтного источника и от низковольтного. Ток низковольтного источника,существенно больший по величине, по дается синхронно с открыванием испытуемого элемента, 3 ил,На вход испытуемого элемента (клем- амы 1, 2) подключен источник управляю-щих сигналов дискретных уровней(фиг, 1). При наличии одного уровнявходного сигнала дискретный элемент3 закрыт. Через испытуемый элемент отисточника через ограничивающий резистор 4 протекает ток утечки элемента1 з, Его величина незначительная, такчто потенциал выхода приближается кнапряжению источника питания (Е 1),подключенного к клеммам 5, 6, Ключ7 закрыт и дополнительный источник(Е 2), соединенный с клеммами 5, 8,отключен, Дополнительный источник питания (Е 2)одним выводом подключенк клемме 8 и через резистор 9 и ключ7 к выходу элемента 3, а другим - кк клемме 5,При поступлении на вход дискретного элемента 3 сигнала противополож596292ного уровня дискретный элемент 3 открыт, от источника,: подключенного к клеммам, 6, протекает ток 1, величина которого больше величины остаточ 5 ного тока 1, вследствие чего потенциал выхода элемента приближается к потенциалу общей шины. Ключ 7 открывается, .От дополнительного источника питания через клеммы 5, 8 и ограничи- О вающий резистор 9, элемент 3 протекает ток 1, величина которого знака- тельно превышает величину тока 1, но их сумма должна соответствовать величине заданного тока. 15Для,качественной оценки сокращения потерь электроэнергии по способу испытания расход электроэнергии И 1 от первого источника питания при испытании по существующему способу определяется 2001 о Рэ 39 (1) где Р, , Р - потребляемая мощность от источникапитанияпри открытоми закрытом состоянии 25дискретного элементасоответственноГ, г.5 - время пребывания элемента в открытом изакрытом состоянииза исгитываежй период С соо тв ет ст венно .Потребляемые мощности, определяютсяР 0,=1 (К+К,31 (2)3 3( 3)ф (3)К, К 5 - выходное сопротивлениев открытом и закрытомсостоянии соответственно; 40К - сопротивление дискретного элемента,Суммарная мощность Р определяется:г45д .+Рз 1 (К+Ко)+1 з (Р+КЗ) (4)Мощность, потребляемая элементом от двух источников Рг по предлагаемому способу, определяется. составляющей В Открытом сОстОЯнии РР 1 К,+1 ф К +(1,+1 )К, (5; и составляющей в закрытом состоянии 55Р фф 1 " (К,К,), (6) Разность потребляемой мощности Ропределяется:Р-Р-Р,-1(К+К,)+1,(К+К ) - 1,К,++1 К +(1 +1 )2 К .1 (К ,Д ) (8)Сокращение потерь электроэнергииУ равно1=Р(Е, +е,), (9)где С, и С - время нахождения н открытом и закрытом состоя нии,Учитывая, что ток утечки закрытогоэлемента 1 З на несколько порядковменьше тока задаваемой величины 1,ток 1 потребляежй, от источникаЕ 1 на один или несколько порядковзадают меньше тока 1 г, потребляемого от дополнительного источника питания, причем сумма токов 1, и 1 гРавна задаваемой величине тока 1, авыходное сопротивление закрытого элемента Кз на несколько порядков больше сопротивлений ограничивающих резисторов 4, 9 и сопротивления открытого элемента К, с достаточной дляпрактических расчетов степенью точности, преобразовав формулу (9),сокращение потерь электроэнергии Упри применении предлагаемого способапропорционально произведению величины задаваемого тока 1, времени проведения испытания и и разности напряжения источника питания элементаи дополнительного источника питания,т. е.И=ХС(Е 1-Е 2) .Вариант реализации схем на постоянном токе приведен на фиг. 2.В качестве ключа 7 применен диод 1 О. Источники питания подключаются через соответствующие цепи к выходу элемента 3 с соответствующей (в данном случае положительной) полярностью.В закрытом состоянии элемента диод О заперт разностью напряжений источников (Е и Е 2), К элементу черезрезистор 4 приложено напряжение исто ника питания Е 1,В открытом состоянии элемента 3диод 1 О отпирается. От источника пи-,тания Е 2 ток протекает через ограничивающий резистор 9, диод 10 и элемент 3. От источника Е 1 - через резистор 4 протекает ток, значительноменьше тока, протекающего от источникаЕ 2,Способ электрических испытаний дискретных элементов, з аключающийся 25 в том, что навыходы испытуемого дискретного элемента в закрытом состоя 5 159Вариант реализации схем испытания на переменном токе приведен нафиг. За и б.Принцип работы схемы аналогиченпринципу работы схеж (фиг. 2), Напряжения, поступающие на элемент 3от обмоток 11 и 12 трансформатора.13через соответствующие резисторы 4,9 и ключ 7, последовательно включенный в цепи резистора 9, должны бытьсинфаэ ными.,Ключ 7 коммутирует обе полуволны тока при открытом элементе 3 изаперт при закрытом элементе 3. В качестве ключа применяют реле, опто 1 иристоры и другие элементы. Управление работой ключа осуществляется отпадения напряжения нарезисторе 4 илиот внешнего источника Б подключенВхного к клеммам 14 и 15,Формул а из обр етения 6292 6нии подают заданный уровень напряжения, на управляющий вход испытуемогодискретного элемента - импульсное 5воздействие, ограничивают ток черезВиспытуемый дискретный элемент на за".данном первом значении, о т л и ч а "ю щ и й с я тем, что, с целью повыше"ния экономичности электрических испытаний дискретных элементов, синхронно с подачей импульсного воздействияна управляющий вход испытуемого дискретного элемента формируют второезначение тока через испытуеьый дискретный элемент, совпадающее с первымзаданным значением по направлению,превосходящее его.по.величине и удовлетворяющее условию1 м 1 ном 11 е20 где 1 - номинальный ток при элек-Номтрических испытаниях дискретного элемента;1 - первое заданное значениетока через исйытуежй элемент;1 - второе значение тока черезиспытуемый элемент.1596292 оставитель В,Степанкинехред И.Дидык Коррек Бес Редактор М Тираж 563 одписное НИИПИ Государственного комитета по изо 113035, Москва, Ж, Роизводственно-издательский комбинат "Патент", гужгород, ул, Гагарина, 1 13 оказ 290 ениям и открытиям при ГКНТ СССРкая наб., д. 4/5