Устройство для измерения виброперемещений

,801492 А 514 С 01 ОО ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИ ИЗМЕРЕНИЯ ВИБР риветосаьнаявиброаска измериь испольр е мещений,ение проости иэонтрастГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЭОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМПРИ ПНТ СССР К А ВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВ(56) Авторское свидетельство СССРР 962767, кл. О 01 Н 9/00, 1982.(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯПЕРЕ МЕ 1 ЕНИЙ(57) Изобретение относится к иэм тельной технике, Цель иэобретени повышение производительности и д товерности измерений за счет пов ния контрастности изображения, С вой поток от осветителя с конден тором попадает на маску, связываемую с контролируеиим объектом при помощи держателя. В маске выполнены щелевые прорези и ступенчато расположенные прямоугольные отверстия. В держателе установлены заслонки, каждая иэ которых закрывает одну из прорезей. Одна из прорезей, выбранная в соответствии с диапазоном амплитуд контролируемых виброперемещений, оставлена незакрытой, Механизмом перемещения осветителя с конденсатором и подвижками измеИэ о бр е те ние о тно сит ся к тельной технике и может быт зовано .для контроля вибропеЦель изобретения - повыш иэводительности и достоверн мерений эа счет повышения к ности изображения,рительного микроскопа добиваются симметричного расположения в поле зрениямикроскопа изображений незакрытойпрорези и прямоугольных отверстий.При виброперемещениях объекта прямоугольные отверстия видны в микроскоп как размытые светлые узкие полосы, а незакрытая прорезь видна какширокая полоса. Одну иэ рисок шкалымикроскопа совмещают с торцом широкой полосы, другую риску совмещаютс торцом узкой полосы, которая недоходит до широкой полосы на расстояние 1, измеряемое по шкале микроскопа. Визуально подсчитывают количество светлых узких полос, перекрываеьыХширокой полосой, Величину амппитудыР виброперемещений определяют поформуле Р=Н(п-)-1+(К+)шН, где Н -шаг растра, образованного прямоугольными отверстиями; 1 - расстояние между торцами широкой и узкой полоси - количество узких полос перекрываемых широкой полосой; К - номер используемой прорези ( начало отсчетасо стороны расположения прямоугольныхотверстий); ш - общее количество прямоугольных отверстий. 3 ил,На фиг, 1 показана принципиал схема устройства для измерения перемещений фид А; на фг.2 - м с прорезями, узел 1; на фиг,3 - иэображение маски, наблюдаемог окуляр измерительного микроскоп процессе измерений.Устр йство содержит о 5 ветитсльс конденсатором 2 и мех-,5 иэмом 3 ихперемещения параллельно э 5 тическойоси в направлении, совпадающем с направлением конгролируеких перемещений, В маске 4связываемой с контролируемым вибрирующим объектом 5 припомощи держателя 6, выгк пнены щелевые прорези ", и ступенчато располо- Оженнье прямоугольные отверстия 8( фиг,2), Маска 4 з креплена так, чтодлинные стороны прорезей 7 перпендикулярны направлению контролируекьхперемещений, Заслонки 9 установлены 15в держатель 6 так, что каждая иэ нихзакрывает одну из прорезей 7, Однаиэ прорезей 7 составлена незакрытой.Для фиксации заслонок 9 их поперечные сечения и соответствующие им пазы 20в держателе 6 могут иметь трапецеидальную форму (фиг, 1) .За маской 4 расположен измерительный микроскоп 1 О с микрометрическимвинтом 11, служащий для определениясоставной части виброперемещений путем визуального подсчета количестваполосок 12 (фиг, 3) и путем линейногоизмерения с помощью микрометрическоговинта 11 (фиг, 1), Микроскоп 10 имеетмеханизм 13 вертикальногс перемещения,Перед работой производят юстировкуустройства, При юстировке проверяетсяправильность наведения микроскопа иосветителя с конденс.атором в плоскости, перпендикулярной направлению виброперемещений, Правильность наведенияхарактеризуется симметричным расположением одной из прорезей 7 и прямоугольных отверстий 8 в поле зрениямикроскопа 10 и в поле направленныхсветовых лучей осветителяс конденсатором 2, Затем проверяется перпендикулярность прорезей 7 маски 4 плоскости вибрации, Для этого вибрирующему объекту 5 задаются виброперемещения, близкие пределу измерения данного устройства при использовании первой по отношению к отверстям 8 прорези 7. Освещенная осветителем 1 через конденсатор 2 прорезь 7 и прямоугольные отверстия 8 на маске 4 видныв микроскоп 10 как размытые светлыеузкие полосы 12 (фиг3)образованные 55прямоугольными отверстиями 8( фи г. 2),и широкая полоса 14 (фиг,3), образованная открытой прорезью 7, Есливнешние стороны первой и последнейподсчитывают количество светлых узких полос 12, перекрываеььх ширэкой пол осой 14, Э ти вели чины псд ст авляют в формулу для определения амплиту ды Р виброперемещений: Р=К( и) -1+(К) гН,шаг растра, образо прямоульными отвер расстояние между т рокой и узкой поло где Н ванногостиями 8эрцами шис;олос, пер епол осойколичество узких икры в ае мых щир о койномер и спол ьэ уе мой7 (начало отсчета прорези со сторо ны расположения прямоугольныхотверстий 8);ш - общее количество прямоугольых отверстий 8,По сравнению с известньм в прсдлд га.мом устройстве выше контрастность иэображения, в силу чего у неговьпде достоверность измерений эа счетснижения утомляемости оператора, Кроме того, устрой ство дешевле иэ-э а э амены поляроидов заслонками,Фор мул а из обретения Устройство для измерения виброперемещений, содержащее последовательно установленные осветитель с конденсатором маску с держателем, предназначенным для связи с контролируемым объектом, и измерительный микроскоп, в маске выполнены п щелевых прорезей и ступенчато расположенные прямоульные отверстия, о т л и ч узких полос 12 не совпадают с внешними сторонами широкой полосы 14,то маске 4 в отсутст"ии вибрации придается такое положение, чтобы привибрации эти сториы совпадали.з мерения перемещений произ водятпо результатам наблюденийпроизводимыхх при помощи микроскопа 10 следующим образом,Одну иэ рисок 15 (фиг. 3) шкалымикроскопа 10 совмещают с торцом широкой полосы 14 механизмом 13 ( фиг,1)вертикального перемещения микроскопа 1 О и риску 16 ( фиг,З) механически связанную с микрометрическим винтом 11 ( фиг,1) микроскопа 1 О совмещают с торцом узкой полосы 12, которая не доходит до широкой полосы 14(фиг,З на расстояние " измеряемоепо шкале микроскопа 1 О, Визуально149222ю щ е е с я тем, что, с целью повышения производительности и достоверности измерений за счет повышения контрастности изображения оно снаб 15 жено, изаслонками, предназначенными для закрепления в держателе с 2 6возможностью перекрытия каждой эас-лонкой одной щелевой прорези маски,а осветитель с конденсатором установлены с воэможностью перемещения параллельно оптической оси устройства.492222 каэ 3866744 Тирак 51 ПодписноНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 ГКНТ СС В иэводственно-издательский комбинат "Патент", г. Уагород, ул. Гагарина, 1 Составитель С,Грачевдактор Н.Рогулич Техред Л.Олийнык Корректор М.Максимишинец