Способ изготовления образца для поверки электромагнитных приборов

(2) 3978362/25-28 (22) 2285 (46) 23.03.87. Бюл (71) Научно-исслед на уста,3 ктрома ельский и веряе- птолнееих е наласти он тличаполь 1 для ого ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ ПИСАНИЕ ИЗОБ тут интроскопии(56) Авторское свидетельство СССРУ 526817, кл. О О И 27/90, 1974.(54) СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ОБРАЗЦА ДЛЯПОВЕРКИ ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫХ ПРИБОРОВ(57) Изобретение относится к измерительной технике. Цель изобретения -повышение точности поверки электромагнитных ферритометров за счет изготовления образца с равномерной кон(51) 4 О 01 М 27/90 центрацией феррита по объемуданном участке. На пластину 2навливают пластину 1 толщиной0,5 глубины проникновения эленитного поля преобразователямого прибора. Пластины 1 и 2ны из аустенитной стали. На оповерхностях пластины 1, а таприлегающей к ней поверхностины 2 выбирают по одному участрасположенному один под другимцентрация феррита на которыхется не более чем на 1 ОЖ, и изуют рабочий участок пластиныустановки преобразователя повприбора-ферритометра. 1 ил.Изобретение относится к измерительной технике, а именно к измерению электромагнитным методом, например, ферритной составляющей в сталях аустенитного класса, и может быть 5 применено в различных областях машиностроения.Цель изобретения - повышение точности поверки электромагнитных ферритометров за счет изготовления образца с равномерной концентрацией феррита по объему на заданном участке.На чертеже представлен образец для поверки электромагнитного ферритометра.Образец содержит первую 1 и вторую 2 пластины, Пластинаразмещена на пластине 2, Обе пластины 1 и 2 выполнены из аустенитной стали. Толщина первой пластины 1 выбирается равной 0,3-0,5 глубины проникновения электромагнитного поля преобразователя поверяемого прибора, а суммарную толщину пластин 1 и 2 выбирают больше глубины проникновения указанного поля.Образец изготавливают следующим образом.На противоположных поверхностяхЗО первой пластиныи на одной из поверхностей пластины 2, прилегающей к пластине 1, механической обработкой получают полированную поверхность, далее на каждую поверхность 35 наносят мелкодисперсную коллоидную магнитную пасту, После этого обрабатывают поверхность моющим средством типа жидкого мыла "Прогресс", Подставляя полированную поверхность под слабую струю воды, смывают раствор, при этом на магнитной составляющей металла - ферритной составляющей (или дельтаферрите), магнитные частицы остаются, Приготолвенный микрошлиф высушивают под струей теплого воздуха, после чего приступают к его исследованию под металломикроскопом. Магнитные микрочастипы, осевшие на магнитной составляющей металла - дельтаферрите, образуют черные поля и четко обозначают феррит на светлом фоне парамагнитной аустенитной составляющей металла. Исследуя поверхность, находят участки с наиболее равномерно распределенным по площади дельтаферритом. Таким образом, исследуя обе поверхности пластины 1, на которой на каждой поверхности находят расположение оцин над другим два участка 3 с примерно одинаковым содержанием дельтаферрита (концентрация феррпта на этих участках не должна отличаться более чем на 107.), Также исследуют полированную поверхность пластины 2, на которой находят участок 3 с концентрацией дельтаферрита примерно равной количеству дельтаферрита на участках пластины(отличающейся не более чем на 107). При составлении образца пластину 1 устанавливают на пластину 2 так, что все три участка 3 совмещены (находились один над другим). В общем случае пластина 1 может быть смещенной относительно пластины 2, а не так, как показано на чертеже, где габариты пластины 1 точно совмещены с габаритами пластины 2.Наибольшее различие между собой по количеству дельтаферрита на трех участках 3, расположенных один над другим, не должно превышать 107 В конкретном случае, с учетом электромагнитных параметров преобразователя ферритометра (не показан) ц = 232 10 Гц, диаметр измерительных обмоток преобразователя равен 2 мм, участок 3 выбирается в ниде квадрата со стороной а=5 мм, толщина пластины 1, выполненной иэ стали,1 мм. Приближение преобразователя от центра к краю образца ближе чем на 5 мм приводит к изменению его показаний ,более, чем на %.Таким образом, учитывая распространение электромагнитного поля по плоскости, а также учитывая допустимую погрешность измерений прибора, равную 103, сторону участка 3 выбирают равной 5 мм. Наибольшая глубина проникновения электромагнитного поля в металл в этом случае составляет а=2 мм. Максимальная глубина, на которой количество феррита в наименьшей степени отличается от его содержания на поверхности, составляет 0,5 мм. Поэтому с учетом 8 и возможности определения дельтаферрита с обеих сторон пластины 1 толщина ее составляет 1 мм или 0,5 о, Возможна большая, чем в указанном случае, неравномерность распределения дельтаферрита по глубине металла, В таких случаях толщина пластины должна быть меньше и составлять не более 0,6 мм3 1298 бЗ или 0,38. Возможность определять количество дельтаферрита в трех сечениях позволяет с наибольшей точностью учитывать его распределение не только по плоскости, но и по глубине. С уче том этого, располагая соответствующим образом, пластину 1 относительно пластины 2, получают участок 3 образца, в котором с минимальной погрешностью опредепена объемная концентра- Ю ция дельтаферрита. Таким образом, наиболее точно определена концентрация феррита в объеме образца, прилегающем к участку 3 (рабочему участку), на который при поверке прибора 15 устанавливается его преобразователь. Наиболее точная функциональная зависимость имеет место между показаниями прибора и концентрацией дельтаферрита на участке на рабочей поверх ности участка 3 пластины 1. Количественное отличие концентрации дельтаферрита в нижележащих слоях (не более 107.) приводит к изменению показаний прибора не более 1 Х.Таким образом, с учетом неравномерности распределения дельтаферрита как в плоскости, так и по глубине, а также с учетом неточности определения площади, занятой дельта феррцтом, металлографическим прибором, не превышающий 17, общая суммарная погрешность определения концентрации феррита составляет не более 37 35 Формула изобретенияСпособ изготовления образца для поверки электромагнитных приборов,4 4заключающийся в том, что используютдве пластины с заданной величинойпараметра, по которому осуществляютповерку прибора, толщину одной изпластин выбирают меньше глубиныпроникновения электромагнитного поля преобразователя поверяемого прибора, размещают эту пластину на поверхности второй пластины, а суммарную толщину обеих пластин выбираютбольше глубины проникновения электромагнитного поля преобразователяповеряемого прибора, о т л и ч а ющ и й с я тем, что, с целью повыше ния точности поверки электромагнитных Ферритометров, пластины выполняют из аустенитной стали, толщинупервой пластины выбирают равной 0,30,5 глубины проникновения электромагнитного поля преобразователя, определяют концентрацию феррита на еерабочей и противоположной ей поверхностях, находят на них противолежащие участки, концентрация ферритана которых различается не более,чем на 10%, определяют концентрациюферрита наодной из поверхностейвторой пластины и на ней находятучасток, концентрация феррита на котором отличается от концентрации феррита на одном, по крайней мере, изнайденных участков рабочей поверхности первой пластины не более чемна 10%, при размещении пластин совмещают данные участки, а в качествепараметра используют концентрациюферрита на найденном участке рабочейповерхности первой пластины.298634Составитель И, Рекунова Редактор М. Бланар Техред М,Ходанич Корректор Г. Решетник Заказ 881/45 Тираж 777 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб д, 4/5 Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул, Проектная, 4