Способ юстировки устройств лазерной диагностики

Номер патента: 1290234

Авторы: Долотов, Зюрюкина, Соловьев, Цикин

ZIP архив

Текст

СОВЕТСНИХЛИСТИЧЕСНИ 19) И А 1 9023 СПУБЛИ 59 4 С 02 В 27/62 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯН АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ ее ОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИИ(71) Научно-исследовательский инсти тут механики и физики при Саратовском государственном университете (725 Л.Е. Долотов, О.В. Зюрюкина, А.П, Соловьев и Б.Г. Цикин(54) СПОСОБ ЮСТИРОВКИ УСТРОЙСТВ ЛАЗЕРНОЙ ДИАГНОСТИКИ(57) Изобретение может быть использовано для диагностики плазмы и эле тронных пучков с помощью рассеяния лазерного излучения. Целью изобретения является повышение точности юстировки при одновременном упрощенииреализации способа. Способ юстировки основан на совмещении в камере 2наблюдаемого приемным элементом 3объема с объемом, зондируемьщ лазерным излучением. Приемным элементом 3регистрируют релеевское рассеяниесфокусированного излучения зондирующего лазера 1 из камеры 2 и перемещают приемный элемент 3 относительно камеры 2 по трем независимым на,правлениям, не лежащим в одной плоскости, до получениямаксимальной вличины релеевского рассеяния. Этоположение его соответствует совмещению области наблюдения с фокусомзондирующего излучения. 3 ил.Изобретение относится к способам юстировки устройств, предназначенных для диагностики плазмы и электронных пучков с помощью рассеяния лазерного излучения. 5Цель изобретения - повьппение точности юстировки при упрощепии реализации способа.На фиг, 1 схематически представлено устройство для лазерной диаг О ностики, которое нужно юстировать (устройство содержит зондирующий лазер с объективом ввода излучения 1, камеру 2, предназначенную для диагностики плазмы, приемную систему 3); на фиг. 2 - зависимость величины релеевского рассеяния от смещения приемного элемента перпендикулярно осям зондирующего излучения и наблюдения; на фиг. 3 - зависимость величины релеевского рассеяния от смещения приемного элемента вдоль оси лазера.Способ юстировки устройств лазерной диагностики осуществляют следую 25 щим образом.Излучение зондирующего лазера 1 фокусируют в камеру 2, предназначенную для лазерной диагностики. Регистрируют приемным элементом 3 релеев ское рассеяние из камеры. Перемещают приемный элемент 3 относительно камеры 2 по трем взаимно независимым направлениям, не лежащим в одной плоскости. Такими направлениями мо гут быть, например, следующие: вдоль оси лазерного излучения, поперек оси лазерного излучения, вдоль. оси наблюдения. При перемещении регистрируют величину релеевского рассея ния и соответствующее взаимное расположениекамеры и элементов (элемента) приемной системы. Направление перемещения выбирают в сторону возрастания величины релеевского рассеяния. 45 Отыскивают расположение приемного элемента относительно камеры, при котором величина релеевского рассеяния имеет максимальное значение, Это положение соответствует совмещению об ласти наблюдения с фокусом зондирующего излучения. Пример реализации способа юстировки устройства лазерной диагностики, 55 Для юстировки устройства использовался тот же лазер 1, та же камера 2 и та же приемная система 3,кото рые использовались в дальнейшем дляцелей диагностики,Юстировку осуществляли следующимобразом.Фокусировали излучение лазера 1 вопределенную точку внутри камеры 2.Юстировочные элементы устройстваобеспечивали перемещения приемногоэлемента 3 системы в таких трех направлениях; вдоль оси наблюдения приемного элемента (направление Х),составляющей угол 120 с направлением оси зондирующего излучения;вдоль оси зондирующего излучения (направление У); перпендикулярно осямзондирующего излучения и наблюдения(направление 2). Осуществляли предварительную юстировку устройства, длячего перемещали приемный элемент 3так, чтобы область наблюдения приемной. системы совпадала с предполагаемым местом нахождения фокуса лазера1 в камере 2. Регистрировали приемным элементо; 3 релеевское рассеяние1 из камеры 2 при давлении азота500 мм рт,ст. Перемещали приемныйэлемент 3 вдоль оси 2, одновременнорегистрировали величину релеевскогорассеяния 1 (фиг, 2), Отметили положение (2,) приемного элемента, прикотором 1 имела максимальное значение1. Это положение соответствовалопересечению области наблюдения с осьюзондирующего излучения. Перемещалиприемный элемент 3 в направлении Упроходящем через точку 2одновременно с этим регистрировапи величинурелеевского рассеяния (фиг. 3), Отметили положение У , в котором величина релеевского рассеяния имела максимальное значение 1 . Перемещалиприемный элемент 3 вдоль оси Х через точку (У Е,), отмечали величину релеевского рассеяния. Практически при перемещении вдоль оси Х величина релеевского рассеяния оставалась неизменной, поскольку глубина резкости использованной приемнойсистемы существенно превосходиларазмеры области, зондируемой лазером 1, в этом направлении. Помещалиприемный элемент 3 в положение Хо,/У 2 . При этом Х соответствовалоэначению Х при предварительной юстировке, .В этом положении приемный элемент 3 зарегистрировал максимальноезначение величины релеевского сигнала из камеры 2 при направленииоси приемного элемента, определяемой особенностями устройства. Это означало, что наблюдаемый объем совпал с областью фокального пятна лазера 1.5формула изобретенияСпособ юстировки устройств лазерной диагностики, основанный на Ю совмещении в камере объема, наблюдаемого приемным элементом, с объемом зондирующим лазерным излучением,о тл и ч а ю щ и й с я тем, что, сцелью повышения точности при упрощении реализации, регистрируют релеевское рассеяние зондирующего излучения из камеры, а совмещение производят путем перемещения приемногоэлемента относительно камеры по тремнезависимым направлениям, не лехащимв одной плоскости, до получения максимальной величины релеевского рассеяния.Кравченнич оставительехред М,Код Корректор А. ИльинПодписное Редактор НГорва Тираж 543ВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий3035, Москва, Ж, Раушская набд, 4/54,Заказ 7897 оизводственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул, Проектная,

Смотреть

Заявка

3967327, 14.10.1985

НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ МЕХАНИКИ И ФИЗИКИ ПРИ САРАТОВСКОМ ГОСУДАРСТВЕННОМ УНИВЕРСИТЕТЕ

ДОЛОТОВ ЛЕОНИД ЕВГЕНЬЕВИЧ, ЗЮРЮКИНА ОЛЬГА ВИКТОРОВНА, СОЛОВЬЕВ АЛЕКСАНДР ПЕТРОВИЧ, ЦИКИН БОРИС ГЕННАДЬЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G02B 27/62

Метки: диагностики, лазерной, устройств, юстировки

Опубликовано: 15.02.1987

Код ссылки

<a href="https://patents.su/4-1290234-sposob-yustirovki-ustrojjstv-lazernojj-diagnostiki.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ юстировки устройств лазерной диагностики</a>

Похожие патенты