Устройство для сравнительного исследования (идентификации) дактилоскопических отпечатков
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
Лодпасная группа Лф И 1 Л, Г. Эджубов и С. А. Литинский УСТРОИСТВО ДЛЯ СРАВНИТЕЛЬНОГО ИССЛЕДОВАНИЯЗаявлено 17 января 1959 г. за Я 701272/31 в Комитет по делам изоор тенин и открьпий при Совете Министров О.С,Р еОиупликоиаио в 1 злоллетене изобретений,Хе 20 за 1959 г. Г 1 редметом изобретения является устройство для сравнительного исследования дактилоскопических отпечатков посредством автоматического сопоставления кодов исследуемого ц сравниваемого отпечатков.Известныс устройства для сравнительного исследования дактилоскопических отпечатков, снабженные оптико-механическим, фото- элементным, дешифраторным и усилительным блоками, имеют недостаток: они не обеспечивают требуемой точности сопоставления дактилоскопических отпечатков путем исключения влияния нестабильности сигналов фотоэлементов вследствие случайных причин (старение, колебание режима освещенности и др.),Для устранения этого недостатка в описываемом устройстве применены схемы групповых совпадений, на входы которых поступают импульсы от кипп-реле фотоэлементов, формирующих сигналы зональных групп наличия и отсутствия характерных признаков на отпечатках, а также схема совпадений для выработки импульсов считыванияНа фиг, 1 изображена принципиальная схема сцнального фотоэлементного блока устройства для сравнительного исследования дактилоскопических отпечатков; на фиг. 2 - схема совпадений для выработки импульсов считывания.Сигнальный фотоэлементный блок дактилоскопического устройс гва вырабатывает импульсы вкльочения блока считывания номера кадра в случае совпадения сравниваемого и исследуемого кодов ц состоит из чувствительных устройств и устройств логического действия.Чувствительными устройствами являются фотоэлементы Ф, - Фв, на фотокатоды которых проецируется изображение соответствующих 1 оц с характерными признаками дактилоскопических отпечатков. Для123358формирования идентичных импульсов-сигналов служат кипп-релеКР, - КР. Интервал логического анализа устанавливается импульсами, вырабатываемыми схемой центровки КРЦ.Этотимпульспоявляетсятолько тогда, когдасравниваемый и исследуемый закодированные отпечатки принимаюгт заданное взаимное расположение в оптико-механическом блоке,Перед пуском производится настройка устройства логическогодействия, Для этого на поле фотоблока проецируется (на просвет) исследуемый закодированный отпечаток и производится измерение статических выходных сигналов всех фотоэлементов по показаниям индикаторов И 1 - И 8,По показаниям индикаторов фотоэлементы распределяются на двегруппы - плюсовую и минусовую. В плюсовую группу входят те фотоэлементы, индикаторы которых показали превышение нормальноготемнового тока, в минусовую группу - те фотоэлементы, индикаторы которых показали нормальный темновой ток.Посредством коммутатора К распределительного устройства, содержащего ряд ключей и разъемов, производится электрическое группирование. С этой целью выходы всех кипп-реле фотоэлементов плюсовой группы подключают через коммутатор на входы схемы плюс совпадений СС+. Аналогично выходы всех кипп-реле фотоэлементов минусовой групы подключают через коммутатор на входы минус совпадений СС -При совпадении сравниваемого и исследуемого кодов в моментпоявления импульса центровки устройство логического действия вырабатывает сигнал да - импульс включения схемы считывания шифрованного номера кода. В этом случае все кипп-реле соответствующихфотоэлементов вырабатывают одинаковые по величине и длительностиимпульсы с положительной полярностью (например, с длительностьюОО мк сек), вследствие чего схема СС 1 вырабатывает импульс да,имеющий те же параметры, что и сопоставляемые импульсы. Аналогичный импульс вырабатывает схема СС, Оба указанных импульсапоступают в схему плюс-минус совпадений СС.ф-, на которую подается также импульс со схемы центровки, имеющий аналогичные параметры. При совпадении всех трех указанных импульсов схема СС вырабатывает аналогичный общий импульс для включения считывающего блока.Схемы СС" и СС идентичны и имеют одинаковое количествовходов, равное количеству фотоэлементов. При отсутствии импульсовчерез диоды Д, - Д 19 проходит постоянный ток от источника тока Е(фиг. 2). Поэтому напряжение на выходе близко к нулю (при условии,что сопротивление Ро = Яь где /= Й= - Й Я.,). При настройкесхемы на ее входы подаются импульсы соответствующих кипп-реле,Незанятые входы схемы, обозначенные на фиг. 2 звездочками, разрываются. В момент поступления на все занятые входы идентичных положительных импульсов все диоды запираются, Поэтому на общем выходе схемы возникает выходной импульс.Схема плюс-минус совпадений работает аналогично. Она дает выходной импульс совпадения только тогда, когда на все три входа поступают одновременно идентичные импульсы от схем СС", СС и КРЦ.П р ед м ет изобретенияУстройство для сравнительного исследования (идентификации)дактилоскопических отпечатков, снабженное оптико механическим, фо23358 тоэлементным, дешифраторным и усилительным блоками, о т л и ч а ющееся тем, что, с целью повышения точности сопоставления дактилоскопических отпечатков путем исключения влияния нестабильности сигналов фотоэлементов и учета наличия и отсутствия характерных признаков в определенных участках дактилоскопического узора, в нем применены схемы групповых совпадений, на входы которых поступают импульсы от кипп-реле фотоэлементов, формирующих сигналы зональных групп наличия и отсутствия характерных признаков на отпечатках, а также схема совпадений для выработки импульсов считывания. Дф -фй а. Лей 1 ехред А М. То едактор рректор Ю, М. Федулов Поди. к печ. 3 ак. 6754Хг. Формат бум. 70 Х 108/и Тирак 550 ри Комитете по делам изобретений при Совете Министров СССР осква, Центр, М. Черкасский пер., ъем ОЛ 5 изд л. Цена 7 кои. БТИ ткрыт д. 2/6 пография ЦБТИ Комитета по делам изобретений и открытийпои Совет Министров ГГСР, Москва, Петровка 14.
СмотретьЗаявка
701272, 17.01.1959
Литинский С. А, Эджубов Л. Г
МПК / Метки
МПК: G06K 9/68
Метки: дактилоскопических, идентификации, исследования, отпечатков, сравнительного
Опубликовано: 01.01.1959
Код ссылки
<a href="https://patents.su/4-123358-ustrojjstvo-dlya-sravnitelnogo-issledovaniya-identifikacii-daktiloskopicheskikh-otpechatkov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для сравнительного исследования (идентификации) дактилоскопических отпечатков</a>
Предыдущий патент: Устройство для приведения в действие, например торгового автомата несколькими монетами
Следующий патент: Пуговица безниточного крепления
Случайный патент: Устройство для измерения скорости распространения ультразвука