Импульсный электромагнитный дефектоскоп
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСНИХРЕСПУБЛИК М 27/90 ПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИ ЙЬ 1 ц;Оа К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ абалуе измерений. /1972,ированнаядного- Дмитров 90).НИТНЫЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТ(56) Методы неразрушающихПод ред. Р.Шарпа, М.; Мирс. 414.Васильев В,П, Автоматиустановка комплексного вхконтроля оболочек твэлов.град, 1981. (Препринт/37((57) Изобретение относится к методамнеразрушающего контроля и можетбыть использовано для определениякачества электропроводящих изделий.Цель изобретения - повьппение точнос-ти измерений. Импульсный электромагнитный дефектоскоп содержит вихретоковый преобразователь с двумя возбуждающими и одной измерительной обмотками, соединенные последовательноисточник питания и первый ключ, подключенный к первой возбуждающей обмотке, соединенные последовательнотактовый генератор, выход которогоподключен к первому ключу, счетчик,схему управления и цифроаналоговыйпреобразователь, два блока задержки,подключенные к тактовому генератору,коммутатор, входы которого подключены к выходам блоков задержки, а входуправления соединен со счетчиком, иблок регистрации, подключенный к цифроаналоговому преобразователю и счетчику, а также соединенные последовательна делитель напряжения, подключенный к источнику питания, сумматор,второй вход которого подключен к циф- фроаналоговому преобразователю, и второй ключ, вход управления которогоподключен к тактовому генератору, а Свыход - к второй возбуждающей обмотке, и соединенные последовательноформирователь, подключенный к измерительной обмотке, и третий ключ, управляющий вход которого подключен квыходу коммутатора, а выход - к схеме управления. 1 ил, 1 12Изобретение относится к методамнеразрушающего контроля и может бытьиспользовано для определения качества электропроводящих изделий.Цель изобретения - повышение точности измерений,На чертеже представлена блок в схема импульсного электромагнитного дефектоскопа.Дефектоскоп содержит соединенныепоследовательно источник 1 питания,ключ 2 и возбуждающую обмотку 3 вихретокового преобразователя (на чертеже не показан), соединенные последовательно делитель 4 напряжения,подключенный к источнику 1 питания,сумматор 5, второй ключ 6 и вторуювозбуждающую обмотку 7, соединенныепоследовательно измерительную обмотку 8, формирователь 9, третий ключ 10,схему 11 управления и цифроаналоговый преобразователь 12, выход которого подключен к второму входу сумматора 5.Устройство содержит также блок 13регистраций, подключенный к цифроаналоговому преобразователю 12, два блока 14 и 15 задержки, коммутатор 16,включенный между выходами блоков 14и 15 задержки и вторым входом ключа 10, и соединенные последовательно тактовый генератор 17, выход которого подключен к входам ключей 2и 6 и блоков 14 и 15 задержки, исчетчик 18 тактовых импульсов, выход которого подключен к коммутатору 16 и блоку 13 регистрации.Дефектоскоп работает следующимобразом,Сигналы с выхода тактового генератора 17 открывают по их управляющим входам ключи 2 и 6, через которые поступает напряжение на возбуждающую обмотку 3 с выхода источника 1 питания и на возбуждающую обмотку 7 с выхода сумматора 5, на одиниз входов которого напряжение источника 1 питания подается через делитель 4 напряжения. Амплитуда импульса, поступающего с измерительной обмотки на вход формирователя 9, равна разности амплитуд импульсов, питающих возбуждающие обмотки 3 и 7.Коэффициент деления делителя 4 напряжения выбирается равным величине,при которой амплитуда импульса наизмерительной обмотке 8 при нулевомнапряжении на выходе цифроаналогового преобразователя 12 была равна по 21580 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 ловине амплитуды импульса, создаваемого на этой же обмотке максимальнымвыходным напряжением цифроаналогового преобразователя 12 при холостомрежиме (в отсутствие дефектов в зонеконтроля), При появлении дефекта навыходе формирователя 9 появляетсясигнал, отличающийся от исходного.В процессе измерения этого сигналана выходе цифроаналогового преобразователя 12 в каждом такте устанавливается напряжение, компенсирующеесигнал от дефекта. Очередной тактпреобразования начинается с поступления сигнала с выхода ключа 10 насоответствующий вход схемы 11 управления, Порядок изменения напряжениясоответствует методу последовательных приближений, т.е, в первом такте с выхода схемы 11 управления навход цифроаналогового преобразователя 12 поступает двоичный код с единицей в старшем разряде, что соответствует напряжению на выходе цифроаналогового преобразователя 12, равному половине максимального,Если этого напряжения недостаточно для компенсации воздействия контролируемого параметра объекта, на выходе формирователя 9 появляется сигнал положительной полярности, которыйпоступает через ключ 10 на один извходов схемы 11 управления, увеличивая код на ее выходе на единицу вразряде, следующем за старшим в сторону уменьшения, и на выходе цифроаналогового преобразователя 12 устанавливается напряжение, равное1/2 Б, + 1/4 Б . Если напряжение,установленное на выходе цифроаналогового преобразователя в первом такте больше величины, необходимой длякомпенсации, то полярность выходногосигнала формирователя 9 отрицательнаи при поступлении его через ключ 10на тот же вход схемы 11 управлениякод на ее выходе уменьшается в результате установки в старшем разряденуля, а в следующем за ним - единицы, а напряжение устанавливаетсясоответственно равным 1/21/4 Б, В следующем такте напряжениена выходе цифроаналогового преобразователя 12 изменяется на величину,равную 1/8 П в зависимости от полярности выходного сигнала формирователя 9. Число тактов преобразованияопределяется числом разрядов цифроаналогового преобразователя 12 и счет 1221580чика 18, на выходе которого после окончания преобразования в цифровой код появляется импульс, поступающий на другой вход схемы 11 управления и на управляющие входы коммутатора 16 и блока 13 регистрации. Выбор двух стробируемых точек выходного сигнала измерительной обмотки 9 осуществляется установкой величины задержки тактового импульса в блоках 14 и 15 задержки, которые поочередно через коммутатор 16 подключаются к управляющему входу ключа 10, при поступлении импульса на управляющий вход которого происходит открывание ключа 10 для прохождения через него сигнала с выхода формирователя 9. Подключение очередногоблока задержки к выходу коммутатора 16 производится при поступлении сигнала на его управляющий вход после окончания заданного числа тактов преобразования, Таким образом, в двух цифровых и двух аналоговых каналах блока 13 регистрации регистрируются изменения амплитуд сигналов, обусловленных изменением контролируемых параметров, получаемых стробированием импульса в два момента времени (двух точках), )определяемых блоками 15 и 14 задержки,Формула изобретенияИмпульсный электромагнитный дефектоскоп, содержащий вихретоковый преобразователь с двумя возбуждающими и одной измерительной обмотками,соединенные последовательно источникпитания и первый ключ, подключенныйк первой возбуждающей обмотке, соединенные последовательно тактовыйгенератор, выход которого подключенк первому ключу, счетчик, схему управления и цифроаналоговый преобра эователь, два блока задержки, подключенные к тактовому генератору,коммутатор, входы которого подключены к,выходам блоков задержки, авход управления соединен со счетчи ком, и блок регистрации, подключенный к цифроаналоговому преобразователю и счетчику, о т л и ч а ющ и й с я тем, что, с целью повышения точности измерений, он снабжен 20 соединенными последовательно делителем напряжения, подключенным к источнику питания, сумматором, второйвход которого подключен к цифроаналоговому преобразователю, и вторым 25 ключом, вход управления которогоподключен к тактовому генератору, авыход - к второй возбуждающей обмотке , и соединенными последова -тельно формирователем , подключенЗ 0 ным к измерительной обмоткеи третьим ключом , управля -ющий вход которого подключен к выходу коммутатораа выход - к схеме управле -ния е1221580 Составитель Ю.ГлазковТехред В.Кадар Корректор В,Бутяга Редактор М.Дыпын филиал ППП "Патент", г.Ужгород, ул.Проектная, 4 Заказ 1607/51 Тираж 778 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5
СмотретьЗаявка
3795982, 02.10.1984
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ М-5881
ЛЕЩИНСКИЙ АНАТОЛИЙ ГРИГОРЬЕВИЧ, ЗАБАЛУЕВ АЛЕКСАНДР ЛЕОНИДОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 27/90
Метки: дефектоскоп, импульсный, электромагнитный
Опубликовано: 30.03.1986
Код ссылки
<a href="https://patents.su/4-1221580-impulsnyjj-ehlektromagnitnyjj-defektoskop.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Импульсный электромагнитный дефектоскоп</a>
Предыдущий патент: Магнитный дефектоскоп
Следующий патент: Способ измерения времени распространения поперечных волн
Случайный патент: Холодильная установка