Устройство для диагностирования логических блоков

СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИК 1/28 151) 4 ЗОБР У СВИДЕТЕЛ ВТОРСН и элем то ое нт ический соотве и б рм В.В. а х о ва,инфо ед И.Сосни мационным оединенно одами сче блока инд а,во СССР8, 1981.СССР6, 1980,ДИАГНОСТ в рым вустансоединИЛИ, рез п ходом о вигаементаом чеочный ен ервый второг вычс по мо- генервыми лючеенный ре- ода- по троденыконтмулент ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТ( 54)( 57) 1, УСТРОЙСТВО ДЛЯРОВАНИЯ ЛОГИЧЕСКИХ БЛОКОВ, содщее первый и второй формироватодиночных импульсов, соединенныходами соответственно с устаноным и счетным входами счетчикаблок индикации, блок сверткидулю два, первый элемент ИЛИратор тестов, соединенный певыходами с клеммами для подк входов объекта диагностики сумматор по модулю два, соедин выходом с информационным входо гистра сдвига, соединенного вых ми с первыми входами сумматора модулю два, о т л и ч а ю щ е тем, что, с целью повьппения бы действия устройства, в него вв многоконтактный зонд, задатчик ролируемых выводов, элементы И типлексор, регистр, второй эле ИЛИ, первый и второй элементы ки, причем входы многоконтактн зонда соединены с клеммами для подключения выводов одной из микросхем ,диагностируемого логического блока, выходы - с соответствующими первыми тов И, вторые входы ены с выходами задатуемых выводов, выхоствующими первыми ин входами мультиплексо ока свертки по модулюго выходом с вторым входом мультиплексо го адресными входами тчика и с первыми вх икации, выходом с вт умматора по модулю дваход регистра сд одом первого эл ого первым вход мент задержки с выформирователя одиноч ного импульса, первым входом вто . рого элемента ИЛИ и с управляющим С входом регистра, соединенного выхо-., дами с вторыми входами блока инди- Я кации, соединенного третьим входомВил с вторым выходом генератора тестов, четвертым входом - с входом генератора тестов и с выходом второго элемента задержки, соединенного входом с выходом второго элемента ИЛИ,соединенного вторым входом с выходом пер 1вого формирователя одиночного импульса Ь 9 и с вторым входом первого элемента ИЛИ,2, Устройство по п.1, о т л ич а ю щ е е с"я тем, что блок индикации содержит. индикатор готовности сигнатуры, соединенный первым и вто- ДЬ рым входами соответственно с третьим и четвертьк входами блока индикации, индикатор сигнатуры и ийдикатор номера вывода, соединенные входами соответственно с вторыми и первыми входами блока индикации.1 1206732Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может бытьиспользовано при поиске неисправностей логических блоков с точностью докорпуска микросхемы. 5Цель изобретения - повышение быстродействия устройства.На чертеже представлена блок-схемапредлагаемого устройства.Устройство для диагностирования 10неисправностей объекта 1 диагностики содержит генератор 2 тестов, сумматор 3 по модулю два, блок 4 свертки по модулю два, регистр 5 сдвига,блок 6 индикации, первый 7 и второй 8 15формирователи одиночного импульса,счетчик 9, мультиплексор 10, регистр11, первый 12 и второй 13 элементыИЛИ, первый 14 и второй 15 элементызадержки, многоконтактный зонд 16,задатчик 17 контролируемых выводов,элементы И 18.Блок 6 индикации содержит индикатор 19 готовности сигнатуры, инди-катор 20 сигнатуры, индикатор 21 номера вывода, Выходы первого 7 и второго 8 формирователей одиночногоимпульса соединены соответственно сустановочным и счетным входами счетчика 9. Первые выходы генератора 2.тестов соединены с клеммами для подключения входов объекта 1 диагностики. Выход сумматора 3 по модулю двасоединен с информационньв входом регистра 5 сдвига, соединенного выходами с первыми входами сумматора 3 помодулю два. Входы многоконтактногозонда 16 соединены с клеммами для под-.ключения выводов одной из микросхемдиагностируемого логического блока,выходы - с соответствующими первымивходами элементов И 18,вторые входыкоторых соединены с выходами задатчика 17 контролируемых выводов, выходы - с соответствующими первыми информационными входами мультиплексора 10 и с входами блока 4 свертки помодулю два, соединенного выходом свторым информационньщ входом мультиплексора 10, соединенного адреснымивходами с выходами счетчика 9 и спервыми входами блока 6 индикации,выходом с вторым входом сумматора 3по модулю два. Установочный вход регистра сдвига соединен с выходом первого элемента ИЛИ 12соединенного первым входом через первый элемент 14 задержки с выходом второго формирователя8 одиночного импульса, с первым входом второго элемента ИЛИ 13 и с управляющим входом регистра 11, соединенного выходами с вторыми входамиблока 6 индикации, соединенного .третьим входом с вторым выходом генератора 2 тестов, четвертым входомс входом генератора 2 тестов и с выходом второго элемента 15 задержки,соединенного входом с выходом второго элемента ИЛИ 13, соединенного вторым входом с выходом первого формирователя 7 одиночного импульса и свторым входом первого элемента ИЛИ12,Устройство работает следующим об-,разом. С помощью устройства осуществляется автоматизированный поиск неисправностей объекта 1 диагностики сточностью до корпуса неисправноймикросхемы. Поиск начинается с неисправного по тесту выхода объекта 1 25диагностики, при этом с помощьюэлектрической схемы объекта 1 диагностики выявляется микросхема, работающая на неисправный выход объек- "та 1 диагностики. К выводам корпуса этой микросхемы подключаютсямногокоитактный зонд 16, обеспечивающий съем сигналов со всех входных и выходных выводов микросхемы.Затем определяется соответствие 35 сигналов на выходных выводах микросхемы эталонньв. Для этого спомощью задатчика 17 контролируемыхвыводов, выполненного, например, натумблерах, формируются разрешающие 40 сигналы на входы элементов И 18,соответствующих выходным выводам мик:росхемы, к которой подключен многоконтактный зонд 16, С помощью формирователя 7 одиночного импульса, за дается одиночный импульс, которыйустанавливает счетчик 9 в состояние1111, регистр 5 сдвига через.элемент ИЛИ 12 - в нулевое состояние,Код 1111 с выходов счетчика 9 50 поступает на адресные входы мультиплексора 10, что приводит к подключению через мультиплексор 10 выходаблока 4 свертки по модулю два к информационному входу сигнатурного ана лизатора, выполненного на сумматоре 3 по модулю два и регистре 5 сдвига. Одиночный импульс с выхода формирователя 7 поступает также через3 1206732 элемент ИЛИ 13 и элемент 15 задержки на вход генератора 2 тестов и на вход блока 6 индикации, выключая в нем индикатор 19 готовности сигнатуры. Индикатор 19 готовности 5 сигнатуры выключен в течение всего времени работы генератора 2 тестов, что указывает оператору, что очередная сигнатура в регистре 5 сдвига еще не получена и можно обрабатывать 10 предшествующую сигнатуру (сравнивать ее с эталонной). По запускающему сигналу с выхода элемента 15 задержки генератор 2 тестов задает на входы объекта 1 диагностики входные воздей ствия, причем при недостаточно высокой частоте работы генератора 2 тестов и большом числе тестов время их задания становится сравнимым со временем обработки предшествующей сигнатуры оператором, что позволяет совмещать задание тестов для получения +1-й сигнатуры с. анализом -й сигнатуры. 20 25 30 Реакции с выходных контактов диагностируемой микросхемы проходятчерез зонд 16 и открытые задатчиком 17 элементы И 18 на входы блока 4свертки по модулю два, где для каждого из входных тестовых воздействийна объект 1 диагностики формируетсясвертка по модулю два выходных реакций диагностируемой микросхемы. Результат свертки, полученной в блоке 4, поступает через мультиплексор 10 на вход сумматора 3 по модулюдва, где суммируются с содержимым регистра 5 сдвига, сдвиг в котором осуществляется синхронйо с подачей тестов от генератора 2. Сигнатурныйанализатор на сумматоре 3 по модулюдва и регистре 5 сдвига суммирует полученные на всех тестовых воздействиях свертки по модулю два выходныхсигналов диагностируемой микросхемы и формирует соответствующую сигнатуру, которая поступает на входы регистра 11.По окончании цикла работы генератора 2 тестов он выдает сигнал наблок 6 индикации, где включается индикатор 19 готовности сигнатуры,4сигнализирующий оператору о том, чтоочередная +1-я сигнатура получена иможно, окончив анализ 1-й сигнатуры,перейти к анализу х+1-й,Для анализа 1+1-й сигнатуры содновременным получением +2-й опера 35 40 45 50 55 тор с помощью формирователя 8 одиночного импульса задает одиночный импульс на счетный вход счетчика 9,добавляя к его содержимому единицу.При этом (в случае, если 1=0) в счетчике 9 записывается код 0000, чтосоответствует получению сигнатурысверток по модулю два выходных реакций диагностируемой микросхемы иприводит к подключению к входу сумматора 3 через мультиплексор О х-говходного вывода микросхемы. ЕслидФО, то в счетчике 9 записываетсякод 1 номера входного вывода микросхемы, с которого получается +1-ясигнатура. По одиночному импульсу свыхода формирователя 8 производитсятакже перепись содержимого регистра5 сдвига в регистр 11, затем с некоторой задержкой по времени, определяемой элементом 14 задержки, черезэлемент ИЛИ 12 сбрасывается в нулевое состояние регистр 5 сдвига, и онподготавливается таким образом кполучению +1-й сигнатуры. В результате сразу же после задания импульса с формирователя 8 на индикаторе21 номера вывода индицируется номервходного вывода микросхемы, с которого снимается +1-я сигнатура, ана индикаторе 20 сигнатуры самах+1-я сигнатура. Тем же импульсом с формирователя 8 через элемент ИЛИ 13 и элемент 15 задержки, обеспечивающий задержку запуска генератора 2 тестов на время сброса регистра 5 сдвига, запускается генератор 2 тестов, что позволяет во время анализа оператором х+1-й сигнатуры получать +2-ю.После того, как получена сигнатура сверток по модулю два с выходных выводов диагностируемой микросхемы, она сравнивается с эталонной. Если эталонная сигнатура совпадает с реально полученной, делается вывод о том, что данная микросхема исправна, если нет - то осуществляется поиск неисправности, Для этого путем последовательной выдачи одиночных импульсов с формирователя 8 увеличивают содержимое счетчика 9, что приводит к последовательному подключению к сигнатурному анализатору на сумматоре 3 и регистре 5 сдвига входных выводов диагностируемой микросхемы, Сигнатуры выходных выводов микросхемы при этом не получаются, так какЗаказ 8706/47Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 1.1.3035, Москва, Ж, Раушская наб., д, 4/5Филиал ППП Патент", г.ужгород, ул.Проектная,4 3задатчиком 17 запирается соответствующие элементы И 18, В том случае, если сигнатура, высвеченная индика-. тором 20, одного из входных выводов, номер которого определяется индикатором 21, равна эталонной, осуществляется переход к контролю другого входного вывода микросхемы, если не равна, то зонд 16 подключается к другой микросхеме, работающей своим выходом на анализируемую, и поиск деФекта продолжается до обнаружения микросхемы, у которой все входные сигнатуры равны эталонным,а выходная сигнатура свертдкпо модулю два-нет. 6Таким образом, в предложенномустройстве за счет введения многокон тактного зонда, задатчика; элементов И мультиплексора 10, регистра 11, элементов задержки и элементов ИЛИ обеспечивается возможность автоматизированного поиска дефектной микросхемы путем автоматического получения сигнатур для выходных и вход ных выводов микросхем, лежащих напути поиска неисправности, а также возможность анализа предыдущей сигнатуры во время получения последующей, что существенно повышает быстродействие устройства.