Устройство для диагностирования логических блоков

ZIP архив

Текст

СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИК 1/28 151) 4 ЗОБР У СВИДЕТЕЛ ВТОРСН и элем то ое нт ический соотве и б рм В.В. а х о ва,инфо ед И.Сосни мационным оединенно одами сче блока инд а,во СССР8, 1981.СССР6, 1980,ДИАГНОСТ в рым вустансоединИЛИ, рез п ходом о вигаементаом чеочный ен ервый второг вычс по мо- генервыми лючеенный ре- ода- по троденыконтмулент ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТ( 54)( 57) 1, УСТРОЙСТВО ДЛЯРОВАНИЯ ЛОГИЧЕСКИХ БЛОКОВ, содщее первый и второй формироватодиночных импульсов, соединенныходами соответственно с устаноным и счетным входами счетчикаблок индикации, блок сверткидулю два, первый элемент ИЛИратор тестов, соединенный певыходами с клеммами для подк входов объекта диагностики сумматор по модулю два, соедин выходом с информационным входо гистра сдвига, соединенного вых ми с первыми входами сумматора модулю два, о т л и ч а ю щ е тем, что, с целью повьппения бы действия устройства, в него вв многоконтактный зонд, задатчик ролируемых выводов, элементы И типлексор, регистр, второй эле ИЛИ, первый и второй элементы ки, причем входы многоконтактн зонда соединены с клеммами для подключения выводов одной из микросхем ,диагностируемого логического блока, выходы - с соответствующими первыми тов И, вторые входы ены с выходами задатуемых выводов, выхоствующими первыми ин входами мультиплексо ока свертки по модулюго выходом с вторым входом мультиплексо го адресными входами тчика и с первыми вх икации, выходом с вт умматора по модулю дваход регистра сд одом первого эл ого первым вход мент задержки с выформирователя одиноч ного импульса, первым входом вто . рого элемента ИЛИ и с управляющим С входом регистра, соединенного выхо-., дами с вторыми входами блока инди- Я кации, соединенного третьим входомВил с вторым выходом генератора тестов, четвертым входом - с входом генератора тестов и с выходом второго элемента задержки, соединенного входом с выходом второго элемента ИЛИ,соединенного вторым входом с выходом пер 1вого формирователя одиночного импульса Ь 9 и с вторым входом первого элемента ИЛИ,2, Устройство по п.1, о т л ич а ю щ е е с"я тем, что блок индикации содержит. индикатор готовности сигнатуры, соединенный первым и вто- ДЬ рым входами соответственно с третьим и четвертьк входами блока индикации, индикатор сигнатуры и ийдикатор номера вывода, соединенные входами соответственно с вторыми и первыми входами блока индикации.1 1206732Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может бытьиспользовано при поиске неисправностей логических блоков с точностью докорпуска микросхемы. 5Цель изобретения - повышение быстродействия устройства.На чертеже представлена блок-схемапредлагаемого устройства.Устройство для диагностирования 10неисправностей объекта 1 диагностики содержит генератор 2 тестов, сумматор 3 по модулю два, блок 4 свертки по модулю два, регистр 5 сдвига,блок 6 индикации, первый 7 и второй 8 15формирователи одиночного импульса,счетчик 9, мультиплексор 10, регистр11, первый 12 и второй 13 элементыИЛИ, первый 14 и второй 15 элементызадержки, многоконтактный зонд 16,задатчик 17 контролируемых выводов,элементы И 18.Блок 6 индикации содержит индикатор 19 готовности сигнатуры, инди-катор 20 сигнатуры, индикатор 21 номера вывода, Выходы первого 7 и второго 8 формирователей одиночногоимпульса соединены соответственно сустановочным и счетным входами счетчика 9. Первые выходы генератора 2.тестов соединены с клеммами для подключения входов объекта 1 диагностики. Выход сумматора 3 по модулю двасоединен с информационньв входом регистра 5 сдвига, соединенного выходами с первыми входами сумматора 3 помодулю два. Входы многоконтактногозонда 16 соединены с клеммами для под-.ключения выводов одной из микросхемдиагностируемого логического блока,выходы - с соответствующими первымивходами элементов И 18,вторые входыкоторых соединены с выходами задатчика 17 контролируемых выводов, выходы - с соответствующими первыми информационными входами мультиплексора 10 и с входами блока 4 свертки помодулю два, соединенного выходом свторым информационньщ входом мультиплексора 10, соединенного адреснымивходами с выходами счетчика 9 и спервыми входами блока 6 индикации,выходом с вторым входом сумматора 3по модулю два. Установочный вход регистра сдвига соединен с выходом первого элемента ИЛИ 12соединенного первым входом через первый элемент 14 задержки с выходом второго формирователя8 одиночного импульса, с первым входом второго элемента ИЛИ 13 и с управляющим входом регистра 11, соединенного выходами с вторыми входамиблока 6 индикации, соединенного .третьим входом с вторым выходом генератора 2 тестов, четвертым входомс входом генератора 2 тестов и с выходом второго элемента 15 задержки,соединенного входом с выходом второго элемента ИЛИ 13, соединенного вторым входом с выходом первого формирователя 7 одиночного импульса и свторым входом первого элемента ИЛИ12,Устройство работает следующим об-,разом. С помощью устройства осуществляется автоматизированный поиск неисправностей объекта 1 диагностики сточностью до корпуса неисправноймикросхемы. Поиск начинается с неисправного по тесту выхода объекта 1 25диагностики, при этом с помощьюэлектрической схемы объекта 1 диагностики выявляется микросхема, работающая на неисправный выход объек- "та 1 диагностики. К выводам корпуса этой микросхемы подключаютсямногокоитактный зонд 16, обеспечивающий съем сигналов со всех входных и выходных выводов микросхемы.Затем определяется соответствие 35 сигналов на выходных выводах микросхемы эталонньв. Для этого спомощью задатчика 17 контролируемыхвыводов, выполненного, например, натумблерах, формируются разрешающие 40 сигналы на входы элементов И 18,соответствующих выходным выводам мик:росхемы, к которой подключен многоконтактный зонд 16, С помощью формирователя 7 одиночного импульса, за дается одиночный импульс, которыйустанавливает счетчик 9 в состояние1111, регистр 5 сдвига через.элемент ИЛИ 12 - в нулевое состояние,Код 1111 с выходов счетчика 9 50 поступает на адресные входы мультиплексора 10, что приводит к подключению через мультиплексор 10 выходаблока 4 свертки по модулю два к информационному входу сигнатурного ана лизатора, выполненного на сумматоре 3 по модулю два и регистре 5 сдвига. Одиночный импульс с выхода формирователя 7 поступает также через3 1206732 элемент ИЛИ 13 и элемент 15 задержки на вход генератора 2 тестов и на вход блока 6 индикации, выключая в нем индикатор 19 готовности сигнатуры. Индикатор 19 готовности 5 сигнатуры выключен в течение всего времени работы генератора 2 тестов, что указывает оператору, что очередная сигнатура в регистре 5 сдвига еще не получена и можно обрабатывать 10 предшествующую сигнатуру (сравнивать ее с эталонной). По запускающему сигналу с выхода элемента 15 задержки генератор 2 тестов задает на входы объекта 1 диагностики входные воздей ствия, причем при недостаточно высокой частоте работы генератора 2 тестов и большом числе тестов время их задания становится сравнимым со временем обработки предшествующей сигнатуры оператором, что позволяет совмещать задание тестов для получения +1-й сигнатуры с. анализом -й сигнатуры. 20 25 30 Реакции с выходных контактов диагностируемой микросхемы проходятчерез зонд 16 и открытые задатчиком 17 элементы И 18 на входы блока 4свертки по модулю два, где для каждого из входных тестовых воздействийна объект 1 диагностики формируетсясвертка по модулю два выходных реакций диагностируемой микросхемы. Результат свертки, полученной в блоке 4, поступает через мультиплексор 10 на вход сумматора 3 по модулюдва, где суммируются с содержимым регистра 5 сдвига, сдвиг в котором осуществляется синхронйо с подачей тестов от генератора 2. Сигнатурныйанализатор на сумматоре 3 по модулюдва и регистре 5 сдвига суммирует полученные на всех тестовых воздействиях свертки по модулю два выходныхсигналов диагностируемой микросхемы и формирует соответствующую сигнатуру, которая поступает на входы регистра 11.По окончании цикла работы генератора 2 тестов он выдает сигнал наблок 6 индикации, где включается индикатор 19 готовности сигнатуры,4сигнализирующий оператору о том, чтоочередная +1-я сигнатура получена иможно, окончив анализ 1-й сигнатуры,перейти к анализу х+1-й,Для анализа 1+1-й сигнатуры содновременным получением +2-й опера 35 40 45 50 55 тор с помощью формирователя 8 одиночного импульса задает одиночный импульс на счетный вход счетчика 9,добавляя к его содержимому единицу.При этом (в случае, если 1=0) в счетчике 9 записывается код 0000, чтосоответствует получению сигнатурысверток по модулю два выходных реакций диагностируемой микросхемы иприводит к подключению к входу сумматора 3 через мультиплексор О х-говходного вывода микросхемы. ЕслидФО, то в счетчике 9 записываетсякод 1 номера входного вывода микросхемы, с которого получается +1-ясигнатура. По одиночному импульсу свыхода формирователя 8 производитсятакже перепись содержимого регистра5 сдвига в регистр 11, затем с некоторой задержкой по времени, определяемой элементом 14 задержки, черезэлемент ИЛИ 12 сбрасывается в нулевое состояние регистр 5 сдвига, и онподготавливается таким образом кполучению +1-й сигнатуры. В результате сразу же после задания импульса с формирователя 8 на индикаторе21 номера вывода индицируется номервходного вывода микросхемы, с которого снимается +1-я сигнатура, ана индикаторе 20 сигнатуры самах+1-я сигнатура. Тем же импульсом с формирователя 8 через элемент ИЛИ 13 и элемент 15 задержки, обеспечивающий задержку запуска генератора 2 тестов на время сброса регистра 5 сдвига, запускается генератор 2 тестов, что позволяет во время анализа оператором х+1-й сигнатуры получать +2-ю.После того, как получена сигнатура сверток по модулю два с выходных выводов диагностируемой микросхемы, она сравнивается с эталонной. Если эталонная сигнатура совпадает с реально полученной, делается вывод о том, что данная микросхема исправна, если нет - то осуществляется поиск неисправности, Для этого путем последовательной выдачи одиночных импульсов с формирователя 8 увеличивают содержимое счетчика 9, что приводит к последовательному подключению к сигнатурному анализатору на сумматоре 3 и регистре 5 сдвига входных выводов диагностируемой микросхемы, Сигнатуры выходных выводов микросхемы при этом не получаются, так какЗаказ 8706/47Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 1.1.3035, Москва, Ж, Раушская наб., д, 4/5Филиал ППП Патент", г.ужгород, ул.Проектная,4 3задатчиком 17 запирается соответствующие элементы И 18, В том случае, если сигнатура, высвеченная индика-. тором 20, одного из входных выводов, номер которого определяется индикатором 21, равна эталонной, осуществляется переход к контролю другого входного вывода микросхемы, если не равна, то зонд 16 подключается к другой микросхеме, работающей своим выходом на анализируемую, и поиск деФекта продолжается до обнаружения микросхемы, у которой все входные сигнатуры равны эталонным,а выходная сигнатура свертдкпо модулю два-нет. 6Таким образом, в предложенномустройстве за счет введения многокон тактного зонда, задатчика; элементов И мультиплексора 10, регистра 11, элементов задержки и элементов ИЛИ обеспечивается возможность автоматизированного поиска дефектной микросхемы путем автоматического получения сигнатур для выходных и вход ных выводов микросхем, лежащих напути поиска неисправности, а также возможность анализа предыдущей сигнатуры во время получения последующей, что существенно повышает быстродействие устройства.

Смотреть

Заявка

3748323, 05.06.1984

УЛЬЯНОВСКИЙ ПОЛИТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ

ЛИДАК ВЛАДИМИР ЮРЬЕВИЧ, ТОДУРОВ ВЛАДИМИР ГРИГОРЬЕВИЧ, ДАНИЛОВ ВИКТОР ВАСИЛЬЕВИЧ, НИКОНОВ ВАЛЕРИЙ ЛЕОНИДОВИЧ, ПОЛОСИН СЕРГЕЙ СТЕПАНОВИЧ, СОКУР ЛЕВ ЯКОВЛЕВИЧ, СОЛОВЕЙ ГРИГОРИЙ БОРИСОВИЧ, СОСНИН ПЕТР ИВАНОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01R 31/3177

Метки: блоков, диагностирования, логических

Опубликовано: 23.01.1986

Код ссылки

<a href="https://patents.su/4-1206732-ustrojjstvo-dlya-diagnostirovaniya-logicheskikh-blokov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для диагностирования логических блоков</a>

Похожие патенты