Способ ультразвукового контроля материалов

СОЮЗ СОВЕТСНИХОВ:ИЛМЮЮЕШИЖРЕСПУБЛИН 801107 С 01 Х 29/ СР1 ТИЙ ОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИ У ОМУ С ЕТЕЛ/251 что при взаимном перемещении пно-излучающей системы и контролмого объекта в нем возбуждаютрывные упругие колебания с задчастотой, принимают отраженныедефекта сигналы, измеряют их чи выделяют доплеровский сдвты, по которому определяютдефекта, о т л и ч а ю щ и й стем, что, с целью повыщения инфтивности контроля, измеряют кризменения доплеровского сдвигатоты, по которой определяют глрасположения объемного дефектакраев плоскостного дефекта. ием 84. Бюл епре иной А.Марковательский ин иссл т мосто3 620 8) 5 ) .179.16(0 56) 1. Гурвич А. льтразвуковой ко вов. Киев, "Техн2, Патент США л. С 01 И 29/04,ов И.Н Ермол роль св а", 197 3321959 965 (пр1107Изобретение относится к области испытаний материалов и измерений и может быть использовано для ультразвуковой дефектоскопии,Известен способ эхо-импульсногоультразвукового контроля материалов,041 йтов:.- зависимости крутизны и:;вменениядо."-.:-.ского сдвига частоты сигнал," раженных от этих дефектов, и-,:в ; перемещении приемно-излучающейсистемы по поверхности контролируемого объектами на Фиг. 2 ы И Б - схемазаключающийся в том, что в контролируемом объекте возбуждают ультразвуковые импульсы упругих колебаний, принимают отраженные от дефекта сигналы, измеряют время их приема, по которому определяют глубину расположения дефекта 1 .Недостатком укаЯанного способа является низкая надежность определения контролируемого параметра, обусловленная низкой помехоустойчивостью.Наиболее близким по технической сущности и достигаемому результату к изобретению является способ ультразвукового контроля материалов, заключающийся в том что при взаим" ном перемещении .приемно-излучающей системы и контролируемого объекта в йем возбуждают непрерывные упругие колебания с заданной частотой, принимают отраженные от дефекта сигналы, измеряют их частоту и Выделяют доплеровский сдвиг частоты, по которому и длительности эхо-сигнала от дефекта определяют размер последнего Г 21Недостатком известного способа 1является низкая информативность контроля из-за невозможности определенияглубины расположения объемного дефекта или краев плоскостного дефекта.Целью изобретения является повы"шение информативности контроля.Поставленная цель достигается тем,что согласно способу ультразвукового4 Оконтроля материалов, заключающемусяв том, что при взаимном перемещенииприемно-излучающей системы и контролируемого объекта в нем возбуждают непрерывные упругие колебания с заданной частотой, принимают отраженные от дефекта сигналы, измеряют их частоту и выделяют доплеровский сдвиг частоты, по которому определяют раз" мер дефекта, измеряют крутизну изме" нения доплеровского сдвига частоты, Nо которой определяют глубину расположения объемного дефекта или краев плоскостного дефекта.На Фиг. 16 и О представлена схема"реализации способа ультразвукового контроля материалов для объемных расположенных на разной глубине дефекреализацйи способа ультразвуковогоконтроля материалов для Плоскостныхдефектов, ориентированйыХ различйоотносительно поверХности контролируемого объекта, и зависимости крутиз"ны изменения доплеровского сдвиГачастоты сигналов, отраженных от этих дефектов, при перемещении приемно излучающей системы по поверхности контролируемого объекта,На схемах изображены приемно-излучающие системы 1-3, размещенные на поверхности объекта 4 с расположенными в нем объемными дефектами 5 - 7,приемно-излучающие системы 8 и 9,раэмещенные на поверхности объекта 10с расположенными в нем плоскостнымидефектами 11 и 12, Штриховыми линиями показань другие положения приемноизлучающих систем в процессе контроля.Способ ультразвукового контроля материалов осуществляется следующим обраэом.При перемещений приемно-излучающей системы Nо поверхности контроли" руемого объекта в нем возбуждают непрерывные упругие колебания с заданной частотой, В случае наличия в объекте объемного дефекта он последовательно озвучивается под углами от й+ У ) до (Ыь Ус), где ооугол ввода,- текущий угол в пределах угла раскрытия основного лепест-ка диаграммы направленности излучателя приемно-излучающей системы. При этом приемником приемно-излучающей системы принимают отраженные от деФекта сигналы, измеряют их частоту, отличную от частоты излучаемых колебаний на величину доплеровского сдвига частоты, обусловленного взаимным пе-ремещением приемно-излучающей системы и контролируемого объекта. Выделяют линейно изменяющийся доплеровский сдвиг частоты, по которому определяют условный размер дефекта. Лля деФектов 5-7 условные размеры соответственно равны к , х и хт ф з Измеряют крутизну изменения доплеровского сдвига частоты, по которой определяют глубину расположения объемного дефекта."Патент", г, Ужгород, ул, Проектная, 4 РЗО Тираж 823ВНИИПИ Государственногопо делам изобретений 113035, Москва, Ж, Раушс Подписноекомитета СССРи открытийая наб. д 4/