Электромагнитный дефектоскоп

Номер патента: 1019303

Авторы: Комогорцев, Пестов, Попов

ZIP архив

Текст

. РЕСПУБЛИК С 01 ЦгР ЕТЕНИ ГОСЗЩАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССОб ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИ ОПИСАНИЕ ИЭО К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛ.2, Авторское свидетельство СССРЙф 542950, кл, С 01 й 27/90, 1972(прототип),61)(57) ЭЛЕКТРОМАГНИТНОЙ ДЕФЕКТО, СКОП, содержащий генератор, подключенный к нему Фазовращатель, параметрический,преобразователь, мостовуюсхему с управляемыми резисторами вдвух смежных плечах, подключеннь 1 е кнему усилитель, Фазовые детекторы ортогональных составляющих сигнала преобразователя с интеграторами на выходах, один из Фазовых детекторов,выполняющий Функции измерительного соединен с регистратором деФектов,а его интегратор подключен к одномуиз управляемых резисторов, о т л ич а ю щ и й с я тем, что, с цельюповышения точности контроля, он снабжен включенным между генератороми диагональю питания моста управляемым аттенюатором, последовательно соединенными низкочастотным.Фильтром и амплитудным детектором, включенными между выходом измерительного Фазового детектораи управляющим входом аттенюатора,модулятором Фиксированной амплитуды,управляемыми конденсаторами, включенными в другие смежные плечи моста,обмотки преобразователя подключеныпараллельно конденсаторам, второйинтегратор соединен с управляемымконденсатором , а модулятор подключенк вторым управляемым конденсатору ирезистору,1 10193Изобретение относится к неразрушающему контролю и может использо. ваться в автоматизированных дефектоскопических установках для выявления структурных локальных неоднород.костей в электропроводных изделиях,а также для обнаружения металлических включений в диэлектриках,Известен электромагнитный дефек-,тоскоп содержащий мостовую резистивную схему в плечи которой включены обмотки индуктивного преобразователя, и связанный с ней синхронныйдетектор, вырабатывающий сигнал управления, который через схему задержки воздействует на элемент с регулируемым сопротивлением, включенным в одно иэ резистивных плеч мостовой схемы 1.11.Недостатком этого устройства является значительный остаточный разбаланс мостовой схемы, снижающий точность дефектоскопа, особенно на высоких частотах, обусловленный второй,:несбагансированной составляющей комплексного сигнала.Наиболее близким к изобретению потехнической сущности является электромагнитный дефектоскоп. содержащий преобразователь, генератор, фазовращатель, две реэистивные мостовые схемы с электронным управлением и Фазо;вые детекторы ортогональных составляющих сигнала преобразователя с интеграторами на выходах, фазовый детек 35тор соединен с регистратором дефектов,а интеграторы подключены к управляемым элементам мостовой схемы 21,Однако для известного устройствахарактерны малая точность автоком 40пенсации и недостаточная устойчивостьк воэдей ствию дест абилизиру ющих Факторов, например температуры, которыев конечном итоге влияют на чувствительность дефектоскопа,Целью изобретения является повыше 45ние точности контроля.Эта цель достигается тем, что эпектромагнитный дефектоскоп, содержащийгенератор, подключенный к нему фазовращатель, параметрический преобразователь, мостовую схему с управляемымирезисторами в двух смежных плечах, подключенные к нему усилитель, фазовыедетекторы ортогональных составляющих сигнала преобразователя с интеграторами на выходах, один из фазовыхдетекторов, выполняющий функции измерительного, соединен с регистратором 03 1дефектов а его интегратор подключен кодному иэ управляемых. резисторов,снабжен включенным между генератором и диагональю питания моста управляемым аттенюатором, последовательно соединенными низкочастотным фильтром и амплитудным.детектором, включенными между выходомизмерительного фазового детектора иуправляющим входом аттенюатора, модулятором фиксированной амплитуды, управ.ляемыми конденсаторами, включенными вдругие смежные плечи моста, обмоткипреобразователя подключены параллельно конденсаторам, второй интеграторсоединен с управляемым конденсатором,а модулятор подключен к вторым управляемым конденсатору и резистору .На чертеже изображена структурная схема электромагнитного дефекто,скопа,Дефектоскоп содержит мостовую схему , в двух смежных плечах которойвключены управляемые резисторы 1 и 2 ив других смежных плечах обмотки 3 и4 параметрического преобразователя,параллельно которым подключены управляемые конденсаторы 5 и 6. Диагональ питания мостовой схемы подключена к генератору 7 через аттенюатор 8, а измерительная диагональ через усилитель 9 - к Фазовым детекторам 10 и 11 ортогональных составляющих. Фазовый детектор 11, выполняющий функции измерительного выходом соединен с регистратором 12дефектов, а через низкочастотныйФильтр 13 и амплитудный детектор 14.связан с управляющим входом аттенюатора 8,Интеграторы 15 и 16, обеспечивающие задержку сигнала фазовых детекторов 10 и 11, подключены выходамик одной иэ пар управляемых резистора 1 и конденсатора 5, другаяпара - резистор 2 и конденсатор 6 соединена с .модулятором 17 Фиксированной амплитуды. Опорное напряжение на фаэовые детекторы 10 и 11поступает с фаэовращателя 18.Электромагнитный дефектоскоп работает следующим образом,При взаимодействии обмоток 3 и 4преобразователя с локальной неоднород.ностью поступательно перемещающегосяизделия на выходе мостовой схемы возникают импульсно-модулированныесигналы противоположной фазы откаждой из обмоток, они усиливаются усилителем 9, разделяются фа3 101зовыми детекторами 10 и 11 надве ортогональные составляющие ис одного из них - детектора 11,.выполняЮщего функцию измерительного, - поступают на регистратор 12дефектов, Оптимальный режим амплитудно.-фазовой селекции принастройке дефектоскопа по испыта.тельным образцам устанавливается : регулировкой перестраиваемогофазовращвтеля 18, имеющего два выхода, разность фаз опорных напряжений с которого всегда равна 90.В случае возникновения статического разбаланса мостовой схемы, .налример, от воздействия на преобразователь дестабилизирующихфакторов, на выходе интеграторов15 и 16 формируется сигнал постоянного тока, пропорциональный ортогональным составляющим сигналаразбаланса, который: изменяет пав: раметры. управляемых резистора 1 иконденсатора 5 таким образом, чтобы.Влияние дестабилизирующих Факторовнв .измерительный канал дефектоскопа, приводящих. к вариациям во времени его чувствительности, устраняется благодаря автоматическому слежению за напряжением генератора, питаащим мостовую схему, Это дости-гается тем, что модулятор 17 с частотой, много меньшей рабочей час тоты дефектоскопа, посредствомдвух других управляемых резистора2 и конденсатора б, разбалансирует мостовую схему на Фиксированную 9303 4величину по активной и реактивной составляющим, Измерительный детектор11 выделяет огибающую модулирующейчастоты, амплитуда которой зависит" от текущего значения коэффициента пе..с.редачи измерительного канала дефектоскопаЭтот сигнал не воспринимается регистратором 12 дефек. тов благодаря наличию в нем режектор 10 ного фильтра, настроенного на частоту модулятора а поступает черезнизкочастотный Фильтр 13, задерживающий сигналы локальных неоднород, ностей, на амплитудный детектор 1 ч,выпрямляется им и в качестве управ- ляющего сигнала воздействует на аттенюатор 8 генератора /, При этом автоматически поддерживается ток через мостовую схему обеспечивающий 20 заданную чувствительность дефестоскопа. Модулятор 17 вырабатывает синусо-.идальный стабилизированный по амплитуде сигнал, содержащий постояннуюсоставляющую, величина которой уста.навливается раздельно по каждому извыходов модулятора и используетсядля первоначальной ручной балансиров- .ки мостовой схемы. Таким образом, реализация в дефектоскопе двух автоматических регу"лировок, которые Функционально осуществляются через измерительную мостовую схему, обеспечивает поддержание стабильных параметров режима контроля во времени, повышает точностьконтроля , позволяет более полно автоматизировать процесс контроля за счетиспользования безэталонной настрой."ки и исключения операций по периодической.,поверке и калибровке аппаратуры.1019303 Составитель А.ДеловаРедактор И. Николайчук Техред Т.фанта Корректор Е, Рошко к филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная,3690/36 Ти ВНИИПИ Государственного по делам изобретений 113035, Иосква, Ж, Рау

Смотреть

Заявка

3326947, 27.07.1981

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ Р-6575

КОМОГОРЦЕВ ЛЕВ КОНСТАНТИНОВИЧ, ПОПОВ ВЛАДИМИР КОНСТАНТИНОВИЧ, ПЕСТОВ ВЯЧЕСЛАВ ЮРЬЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01N 27/90

Метки: дефектоскоп, электромагнитный

Опубликовано: 23.05.1983

Код ссылки

<a href="https://patents.su/4-1019303-ehlektromagnitnyjj-defektoskop.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Электромагнитный дефектоскоп</a>

Похожие патенты