Устройство для измерения углового перемещения объекта

(п)958852 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз СоветскихСоциалистическихРеспублик:Гееудлретеелнмй кемлтет ле делам лзебретений и етермтий(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ УГЛОВОГО ПЕРЕМЕЩЕНИЯ ОБЪЕКТА1Изобретение относится к измерительной технике и может использоваться для измерения углов поворота объекта.Известно устройство для измерения углового перемещения объекта в пространстве, содержащее монохроматический источник света, интерферометр, фотоприемник ирегистратор 1. Недостатком этого устройства является необходимость установки на объекте специальных отражателей, что ограничивает функциональные возможности, а точность измерения существенно зависит от эксплуатационных факторов (вибрации и удары),Наиболее близким к предлагаемому является устройство для измерения углового перемещения объекта, содержащее источник монохроматического излучения и последовательно расположенные дифракционную решетку с зеркально отражающими и пропускающими штрихами и объектив, а в ходе отраженного решеткой излучения второй объектив, диафрагму, светофильтр, фото- приемник и регистрирующий прибор 2.Недостатками этого устройства являются невозможность определения направления перемещения объекта, а также сравнительно малая точность измерения.Цель изобретения - повышение точностиизмерения.Указанная цель достигается тем, что устройство снабжено полупрозрачным зеркалом, установленным между источником излучения и дифракционной решеткой, а в обратном ходе излучения, отраженного от полупрозрачного зеркала, последовательно расположенными третьим объективом, диафрагмой, светофильтром и фотоприемником, усилителем постоянного тока и зеркальным гальванометром, подвижное зеркало которого располагается между первым объективом и контролируемым объектом, а фотоприем ники подключены по дифференциальнойсхеме к входу усилителя постоянного тока, выход которого соединен с зеркальным гальванометром и регистрирующим прибором.На чертеже представлена оптическаясхема устройства.Устройство содержит источник 1 монохроматического излучения, например лазер, последовательно, по ходу излучения, расположенные полупрозрачное зеркало 2, дифракционную решетку 3 с чередующимися зеркально отражающими и пропускающими штрихами, первый объектив 4 и подвижное зеркало 5 гальванометра, установленное под углом 45 к оптической оси, совпадающей с осью лазерного пучка. Позиция 6 - рассеивающая поверхность 6 объекта. 5 Кроме того, устройство содержит два идентичных приемных канала, один из которых расположен в обратном ходе излучения, отраженного дифракционной решеткой 3, а второй - в обратном ходе излучения, отраженного полупрозрачным зеркалом 2, последовательно расположенные второй объективи третий - 8, диафрагмы 9 и 10, интерференционные светофильтры 11 и 12 на длину волны источника 1 излучения, фотоприемники 13 и 14, усилитель 15 постоянного 5 тока, выход которого соединен с регистрирующим прибором 16 и с подвижным зеркалом 5 гальванометра.Дифракционная решетка 3 расположена в.передней фокальной плоскости первого объ- о ектива 4 под небольшим углом к оптической оси с15). Рассеивающая поверхность 6 объекта располагается в задней фокальной плоскости первого объектива 4, а фотоприемники по дифференциальной схеме подключены ко входу усилителя 15 постоянного тока.Устройство работает следующим образом.Монохром атический параллельный световой пучок от источника 1, пройдя полупрозрачное зеркало 2, попадает на дифракционную решетку 3. Для гармонической решетки прошедший пучок разлагается на 0 и +1 дифракционные порядки, которые с помощью первого объектива 4 и подвижного зеркала 5 гальванометра направляются на рассеивающую поверхность 6. С помощью перво го объектива 4 на рассеивающей поверхности реализуется распределение освещенности в виде трех световых пятен, размеры и расстояние между центрами которых можно изменять, варьируя фокусное расстояние первого объектива 4, ширину входного пучка и 4 о пространственную частоту дифракционной решетки 3.Световое поле, отраженное поверхностью 6, например зеркальной, контролируемого объекта, образует в плоскости дифракцион ной решетки 3 перевернутое изображение самой решетки с единичным увеличением, т.е. распределение интенсивности в виде интерференционных полос, пространственная частота которых автоматически согласована с пространственной частотой решетки.5 ОНаклоны поверхности 6 контролируемого объекта вызывают смещение системы интерференционных полос относительно штрихов дифракционной решетки, которая одновременно служит в качестве оптического диск 55 риминатора следящей системы. Часть светового потока, подающего на дифракционную решетку 3 от поверхности 6, отражается ее штрихами и направляется в первый приемный канал, проходя третий объектив 8, диафрагму 9, светофильтр 11, попадая на фото- приемник 13, другая часть светового потока проходит через решетку 3, попадает на полупрозрачное зеркало 2 и, отразившись от него, направляется во второй приемный канал, проходя второй объектив 7, диафрагму 10, светофильр 12, попадая на фотоприемник 14. Фотоприемники 13 и 14 подключены по дифференциальной схеме ко входу усилителя 15 постоянного тока. В точке равновесия следящей системы интерферограмма располагается относительно дискриминатора (дифракционной решетки 3) так, что оптические сигналы, поступающие на оба фотоприемника, имеют фиксированное отношение между собой.При смещении интерференционных полос в какую-либо сторону на выходе усилителя 15 постоянного тока появляется сигнал соответствующего знака, что позволяет определить направление перемещения контролируемого объекта. Подвижное зеркало 5 гальванометра перемещает интерферограмму относительно дискриминатора, компенсируя смещение полос. Сигнал (сила тока или напряжение), управляющий гальванометром, пропорционален сдвигу интерференционной картины, часть его направляется в регистрирующий прибор 16.В случае диффузно рассеивающей поверхности 6 контролируемого объекта в плоскости оптического дискриминатора возникает пятнистая картина - спекл-структура, промодулированная системой интерференционных полос. Диафрагмами 9 и 10 и фотоприемниками 13 и 14 осуществляется настройка на спекл-структуру, промодулированную системой полос с частотой, равной частоте дифракционной решетки. Дальнейшая работа устройства аналогична работе при контроле объекта с зеркальной поверхностью.Положительный эффект от использования устройства состоит в повышении точности измерений за счет реализации в устройстве следящей системы, работающей по принципу фотокомпенсационных измерительных систем с отрицательной обратной связью, и расширении функциональных возможностей за счет определения направления углового перемещения контролируемого объекта,формула изобретенияУстройство для измерения углового перемещения объекта, содержащее источник монохроматического излучения и последовательно расположенные дифракционную решетку с зеркально отражающими и пропускающими штрихами и объектив, а в ходе отраженного решеткой излучения второй объектив, диафрагму, светофильтр, фото958852 ь Н. Солоухйкас СоставитТехред А.Тираж 614 орректор Г. РодписноеСССРийд. 4/5Проектная, 4 Редактор И. КасардаЗа каз 6772/54ВНИИПпо113035,Филиал ПП шетн И Госу деламМосква,П Пате арственного комитета зобретений и откры Ж - 35, Раушская на т, г. Ужгород, ул. 5приемник и регистрирующий прибор, отли, чающееся тем, что, с целью повышения точности, оно снабжено полупрозрачным зеркалом, установленным между источником излучения и дифракционной решеткой, а в обратном ходе излучения, отраженного от полупрозрачного зеркала, последовательно расположенными третьим объективом, диафрагмой, светофильтром и фотоприемником, усилителем постоянного тока и зеркальным гальванометром, подвижное зеркало которого располагается между первым объекти 6вом и контролируемым объектом, а фотоприемники подключены по дифференциальной схеме к входу усилителя постоянного тока, выход которого соединен с зеркальным гальванометром и регистрирующим прибором. 5Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1. Измерительная техника1, 1976,с. 49.2. Вестник Московского университета,серия 3, т. 20,5, 1973, с, 94.