Способ определения диаметра электронного пятна в электролучевых трубках с высокой разрешающей способностью

Номер патента: 942185

Авторы: Вовчик, Горелик, Дужий, Резник

ZIP архив

Текст

Союз СоветскихСоциапистическихреспублик ОП ИСАНИЕИЗОБРЕТЕН ИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ 1 ц 942185 В ) Дополнительное к авт, свид-ву(22)Заявлено 03.11,80(2 ) 2999578/18-21с присоединением заявки М(5 )М. Кл,Н 01 д 9/42 3 Ьеударетееьй кеитет ссфр ав деаи зобретеР,втерытР) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДИАМЕТРА ЭЛЕКТРОННОГО ПЯТНА В ЭЛЕКТРОННОЛУЧЕВЫХ ТРУБКАХ С ВЫСОКО РАЗРЕШАЮЩЕЙ СПОСОБНОСТЬЮ 1Изобретение относится к измеренияпараметров эпектроннопучевых трубок(ЭЛТ) с высокой разрешающей способ.постыл и индикаторньк устройств на ихоснове.Известны различные способы анализаэпектронного пятна в ЭЛТ, основанныена виэуапьном набпкдении 1 например, спомощью оптических инструментов 1 Ц,Такие способы обпадают низкой точностью и дают субъективную оценку,Наиболее близким к предпагаемому потехнической сущности, является способопределении диаметра пятна в ЭЛТ, вкпючающий,фокусировку пятна, сканирование,импульсную мсдупяцию, преобразованиесветового изображения в:эпектрическийсигнал, региструемый на осциппографе.По этому способу анапиз пятна производят по увеличенному с помощью обьектнва изображению пятна, спроецированногона диафрагму с отверстием, диаметр которого много меньше изображения пятна21,Такой способ хотя и позволяет обьективно оценивать диаметр пятна, но дпя своей реайиэации требует специальных.преобразоватепьных устройств, которые в свою очередь, вносят дополнительные искажения и снижают точность измерений.Цель изобретения - повышение точности измерений.Указанная цель достигается тем, что в способе определения диаметра пятна в ЭЛТ с высокой разрешающей способностью, включаюшем фокусировку пятна на экране, покрытом люминофором, сканирование, импульсную мсдупяцию, преобразование светового изображения в электрический сигнал и измерение времени переходного процесса 1 , укаэанное иэмеи френие времени переходного процесса 1 т 1 осуществляют от момента начала возгорания люминофора до момента установления стационарного уровня сигнала, а диаметр пятна Д определяют по формуле:а вопч1 где Ч - скорость сканирования..Тыкей Текред М. НадьХ кшан Филиал ППП фПатент, г, Ужгород, ул. Проектнаи, 4 Заказ 4886/48 Тираж 761 ВНИИПИ Государственного по делам иэобретени 11303 ф" Москва, ЖПодписноеомнтета СССРи открытийаушсхая набд. 4/8.

Смотреть

Заявка

2999578, 03.11.1980

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ В-8677

РЕЗНИК МОДЕЛЬ ИОСИФОВИЧ, ГОРЕЛИК САМУИЛ ЛЕЙБОВИЧ, ВОВЧИК ИГОРЬ ИВАНОВИЧ, ДУЖИЙ ТЕОДОЗИЙ МИХАЙЛОВИЧ

МПК / Метки

МПК: H01J 9/42

Метки: высокой, диаметра, пятна, разрешающей, способностью, трубках, электролучевых, электронного

Опубликовано: 07.07.1982

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-942185-sposob-opredeleniya-diametra-ehlektronnogo-pyatna-v-ehlektroluchevykh-trubkakh-s-vysokojj-razreshayushhejj-sposobnostyu.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения диаметра электронного пятна в электролучевых трубках с высокой разрешающей способностью</a>

Похожие патенты