Емкостной датчик для измерения деформаций

Номер патента: 939931

Авторы: Крезо, Музыченко

ZIP архив

Текст

Союз СоветскихСоциапистическихРеспубики АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ 1) Дополнительное к авт. свил-ву Г 82383во деааи иеебретев и юткрыткй Опубликовано 30.06.82. Бюллетень М 21Дата опубликоваиия описания 30 .06 .82 72) Авторы изобретения В.П.Музыченко и Л.М.Крезо Заявитель(5 М) ЕНКОСТН 01 ДАТЧИК ДЛЯ ИЗИЕРЕНИ ДЕФОРМАЦИЙ2полнительнолированав однойчто площао слоя под кладкой, ивижная обкл е ичем доадка измещеной так осско новнои и р ти с основ ций токопр 5 обкладки нсобой 1.Однако о ои водяще непод ме ижные равны н костнои датч ия емкости и за счет бок ледуемого об водит к изги жению точнос от е ых а ли- изповышение то тсяобкламетич ная цель достига дая неподвижная виде упругой герзаполненной то остью про ражена кон стного дат ру ика;й разре ивнаяа фиг,о же, продольны 1Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при исследовании элементов конструкций из полимерных нетокопроводящих материалов.По основному авт, св. Ю 823838 известен емкостной датчик для измерения деформаций, содержащий изоляционную прокладку, приклеиваемую к поверхности исследуемого элемента, основную и дополнительную неподвижные обкладки, подвижную механическую обкладку, выполненную из более вязкого материала, чем материал исследуемого элемента и представляющую собой тонкую полимерную пленку, на части одной стороны которой, обращенной к поверхности исследуемого элемента, нанесен токопроводящий слой, а линия окончания склейки и начала токопроводящего слоя образует линию замеров, которая перпендикулярна перемещению подвижной откладки и перекрыта основной неподвижной обисключает измеренсближении пластинк поверхности иссдвижений, что принии замеров и снимерения.Цель изобретениности измерения.Поставлентем, цто кажвыполнена вной оболочкиводящей жидкНа фиг. 1 изобт схема емко939931 формула изобретения 3Емкостной датчик содержит подвижную тонкую полимерную обкладку 1, приклеенную к поверхности исследуемого элемента 2 на участке АВ и имеющую на участке ВС напыленный токо" проводящий слой 3, неподвижные обкладки 4 и 5 каждая из которых вы" полнена в виде упругой герметичной оболочки, заполненной токопроводящей жидкостью. Обкладки 4 и 5 обра зуют с напыленным токопроводящим слоем 3 основной и дополнительный конденсаторы.Проекция обкладки 4 на поверхность исследуемого элемента 2 пере крывает линию склейки АВ и начало токопроводящего слоя 3. Площади проекций токопроводящего слоя 3 подвиж- ной обкладки 1 на неподвижные обкладки.4 и 5 равны между собой.20 К обкладкам 1, 4 и 5 подсоедине"ны проволоки 6-8. Поверх обкладок 4и 5 установлена прижимаемая к нимпластина 9 для достижения неизменнос- Ити формы паза между обкладками инедопущения кавитационных явлений вних. Датчик работает следующим образом, звПроходной процесс вследствие внешнего воздействия, распространяясь в направлении 5, приводит в движение линию АВ склейки вместе с проскальзывающим участком ВС и сечения обкладки 1 как в продольном, так и в поперечном и боковом направлениях вследствие существования коэффициента Пуассона),фПри этом изменяются перекрываемаяобкладкой 4 площадь токопроводящегослоя 3 и расстояние между подвижной1 и неподвижной обкладками 4 и 5.Емкость основного конденсаторазависит какот расстояния между об"кладками 4 и 1, так и от перекрываемой площадки,токопроводящего слоя 3,а емкость дополнительного конденсатора зависит только от расстояниямежду обкладками 1 и 5.Путем вычитания из показаний ос-новного конденсатора показаний дополнительного конденсатора, устраняется влияние поперечных деформаций,При этом изгиб линии замероввследствие деформации в боковом направлении не оказывает влияния наточность измерения, так как легкодеформирующаяся поверхность упругихоболочек обкладок 4 и 5 отслеживаетбоковые перемещения,Емкостной датчик для измерениядеформаций по авт, св. У 823838,о т л и ч а ю щ и й с я тем, что,с целью повышения точности, каждаянеподвижная обкладка выполнена ввиде упругой герметичной оболочки,заполненной токопроводящей жидкостью.Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1, Авторское свидетельство СССРИ 823838, кл. С 01 В 7/229 у 1979

Смотреть

Заявка

2939620, 09.06.1980

ДАУГАВПИЛССКОЕ ВЫСШЕЕ АВИАЦИОННОЕ ИНЖЕНЕРНОЕ УЧИЛИЩЕ ПРОТИВОВОЗДУШНОЙ ОБОРОНЫ ИМ. ЯНА ФАБРИЦИУСА

МУЗЫЧЕНКО ВЛАДИМИР ПЕТРОВИЧ, КРЕЗО ЛЕОНИД МИХАЙЛОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01B 7/16

Метки: датчик, деформаций, емкостной

Опубликовано: 30.06.1982

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-939931-emkostnojj-datchik-dlya-izmereniya-deformacijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Емкостной датчик для измерения деформаций</a>

Похожие патенты