Устройство для хранения азимутального направления
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
(п)934222 ОП ИСАНИЕИЗОБРЕТЕН ИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(61) Дополнительное к авт. свид-ву(22) Заявлено 05,09. 77 (21) 2521930/18-23с присоединением заявки РЙ(53)М. Кл. 6 01 С 1/00 Рмудорвтввииыв коиитвт СССР по делен изобретений и открытий(51) УСТРОИСТ геодези ожет бы ании гиыхичесотноси- пленной одези- напв1.тва яв- иченторуюустрой 15якото пр 20 я тем,оптическовымиустановИзобретение относится к ческому приборостроению и м использовано при эталониров рокомпасов. Известны устройства, в кот азимутальное направление оси о кого элемента контролируется тельно стабильной базы, закре двумя глубинными плановыми-ге ческими знаками, выполненными ример, в виде обратных отвесо Недостатком такого устройс ляется низкая точность, огран ная 2"3 угловыми секундами, к может обеспечить механическое ство для плановых координат о ря знака на урбвень измерений Цель изобретения - повышен ности хранения азимутального ления. Указанная цель достигаетс что в устройстве, содержащем кий элемент с отражающими бо гранями, два плановых знака, ХРАНЕНИЯ АЗИМУТАЛЬНОГВЛЕНИЯ ленные в недеформируемых слоях" грунта, и регистрирующую систему, плановые знаки выполнены в виде сферических зеркал с разными радиусами кривизны, центры кривизны которых, зафиксированные реальной маркой, совмещены, а оптический элемент расположен на пути лучей одного из зеркал и выполнен в виде призмы-куба.На чертеже изображена оптическая .схема устройства.Устройство включает в себя две гер. метичные ампулы, расположенные в глубинных скважинах 1, забои которых находятся в недеформируемых слоях грунта. В днищах ампул укреплены сферические зеркала 2 с различными радиусами кривизны, а в верхние торцы ампул вмонтированы крышки с иллюминаторами. Каждое зеркало укреплено на карданном подвесе. Продольная ось каждой ампулы совпадает с осями зеркала и иллюминатораНад устьем одной из скважин с зеркалом с большим3 934222 4 30 радиусом кривизны на пути оптических контролируется относительно реальной лучей зеркала расположен оптический марки 5, а также соответствующего элемент 3, например:призма-куб,два- зеркала 2. Действительно, азимутальгональная грань 4 призмы-куба выпол- ный разворот отражающей грани 4 вынена отражающей, боковые грани приз-зывает смещение изображения .марки 5 мы имеют внешнее зеркальное покрытие. относительно реальной марки 5. Таким Призма-куб закреплена на подставке, образом, азимутальное положение отраимеющей возможность координатного пе- жающей грани 4 может быть всегда проремещения и азимутального разворота. контролировано, а оптические оси граНад устьем другой скважины с верка в ней являются надежным хранителем ази-. лом меньшего радиуса кривизны в цент- мута.ре кривизны обоих зеркал расположенаДля того чтобы на прохождение оп" марка 5, нанесенная на диагональной тических лучей над землей не оказыграни оптического элемента (призмы- вали значительного .влияния внешние куба 6, снабженного измерительным 15 условия, расстояние между скважинами ,микроскопом У, например МИР. Это- можно ограничить, например 2000 мм. го визирного средства вполне доста-. Измеряя величину(Ь смещения изобраточно для рассматривания марки в днев жения марки 5 при помощи компараторном рассеянном свете беэ использова- ного микроскопа с погрешностью ния подсветки. Призма-куб с маркой 2 в 10 мкм, можно получить инструментальимеет возможность координатного пе- ную точность хранения азимута иэ выремещения в горизонтальной плоскости. раженияОптические элементы (призмы) 3 и б ЬГ 2 Р 0 располагают на уровне, удобном для г 21. =ф 7измерения. 2 з что повышает точность хранения азиУстройство работает следующим об- мутального направления. разом./Часть лучей света от марки 5, отразившись от отражающей грани 4 формула изобретения оптического элемента 3, попадаетна сферическое зеркало 2, которое Устройство для хранения азимутальстроит изображение марки 5 в центре ного направления, содержащее оптическривизны с увеличением, равным 1. кий элемент с отражающими боковыми Так как марка 5 находится в центре гранями, два плановых знака, уста- кривизны зеркала 2, то изображениеновленные в недеформируемых слоях35марки 5 и сама реальная марка совпада- грунта, и регистрирующую систему, ют. о т л и ч а ю щ е е с я тем, что,Другая часть лучей света от ре- с целью повышения точности, плановые альной марки 5 попадает на сферичес- знаки выполнены в виде сферических кое зеркало 3 (на чертеже справа), зеркал с разными радиусами кривизны,юо"которое т акже строит изображение этой . центры кривизны которых, зафиксиро- . (марки в центре коивизны с увеличением, ванные реальной маркой, совмещены, равным 1. Так как марка 5 находится а оптический элемент расположен на одновременно в центре кривизны обоих пути лучей одного из зеркал и выпол" зеркал, то изображения мврки 5 и35нен в виде призмы-куба. реальная марка 5 совпадают. Зеркала Источники инФормации, 2 закреплены в недеформируемых слоях принятые во внимание при экспертизе грунта, поэтому положение их не изменя" 1. Рязанцев Г.Б. и др. Результаты ется в процессеизмерений, Положениере", .испытаний хранителя направления на альной марки 5 постоянно контролируется основе обратных отвесов."Вопросы атом- относительно центра кривизны зеркала 2, .:ной науки и техники", серия "Проектинад которым она расположена. Положе- рование", вып.1(12), 193, с.83-91 ние отражающей грани 4:постоянно (,прототип).934222 Составитель Л. ГайковскаяРедактор Т. Кугрышева Техред И. Гергель . Корректор Г.Огар ПодписноСССР б,Проектная,1 П "Патент", г.ужгор лиа Заказ 39 аб /32 ВНИИПИ Г по дела 113035, Тираж 614 сударственного комитет изобретений и открыти осква, Ж, Раущская
СмотретьЗаявка
2521930, 05.09.1977
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ А-1158
ШТОРМ ВАЛЕРИЙ ВАСИЛЬЕВИЧ, ТОМАХИН ЮРИЙ ВАСИЛЬЕВИЧ, ТУЛУМДЖАН СУРЭН ЕФРЕМОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01C 1/00
Метки: азимутального, направления, хранения
Опубликовано: 07.06.1982
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-934222-ustrojjstvo-dlya-khraneniya-azimutalnogo-napravleniya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для хранения азимутального направления</a>
Предыдущий патент: Способ измерения толщины изделий
Следующий патент: Арретирующее устройство трехстепенного гироскопа
Случайный патент: Устройство для кантования грузов