Способ анализа парамагнитных образцов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
:,сверхвысокого .давления.Микроволновый резонатор с образ" цом помещают между полюсами электромагнита, создающего постоянное магнитное поле. Свет от источника, прошедший через образец рубина, регистрируют с помощью монохроматора, ФЭУ и самописца.На фиг1 а представлен спектр поглощения, полученный по известному способу; на фиг.1 Б - спектр поглощения, полученный по предлагаемому способу.Величина постоянного магнитного поля составляла 5450 э. Ширина щели монохроматора была такой же, как и эо 40Д - фактор Спектроскопическогорасщепления;- магнетон Бора1 - постоянная Планка,В этих условиях производится выделение отдельных компонент спектрапоглощения. Так, например, в окрестности Й-линий поглощения рубина дополнительно выделяются две линии,а две имеющиеся проявляются более 10четко в одних и тех же температурныхусловиях.Рассмотрим способ на конкретномпримере регистрации спектра поглощения рубина, 15Образец рубина помещают в микроволновый резонатор, в котором созда"ется высокочастотное переменное магнитное поле, В резонаторе вырезаютокна для прохождения излучения источника света через образец, В качествеисточника света может быть использована любая лампа,.имеющая широкийспектральный диапазон, например лампа накаливания или ксеноновая лампа при снятии спектра поглощения постандартной методике.Сравнение фиг,1, а и 1,б показывает, что при использовании предлагаемого способа в окрестности К-линий поглощения рубина дополнительновыделяются линии Ч и И, а такжеболее четко проявляются линии 01 и О,Предлагаемое изобретение позволяетвыделить отдельные компоненты спектров поглощения, т.е. увеличить ихразрешение,Формула изобретенияСпособ анализа парамагнитныхобразцов, включающий пропусканиесвета через исследуемый образец иизмерение интенсивности прошедшегооптического излучения, о т л и -ч а ю щ и й с я тем, что, с цельюповышения чувствительности, исследуемый образец одновременно помещают впостоянное и переменное высокочастотное магнитные поля, удовлетворяющиеусловию.М=ррн,где Н - напряженность постоянного магнитного полячастота переменного высокочастотного магнитного поляД - фактор спектроскопического расщепления;- магнетон Бора,1 в постоянная Планка,Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1.Лансберг Г,С. Оптика,М., Наука",1976, с.566.2, Зайдель А.Н. и др. Техника ипрактика спектроскопии. М "Наука,1972, с,325 (прототип).870968 ФИФА, д еаетник Подписно ВНИИПИ Государственногпо делам иэобретений113035, Москва, Ж, РФилиал-ППП Патент, г. Ужгород, ул, Проектная,Редактор О. Филиппов ФУЯ Фиг,бУИ Фиг, (
СмотретьЗаявка
2819797, 18.09.1979
КАЗАНСКИЙ ФИЗИКО-ТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ КАЗАНСКОГО ФИЛИАЛА АН СССР
КУРКИН НИКОЛАЙ НИКОЛАЕВИЧ, СОЛОВАРОВ НИКОЛАЙ КОНСТАНТИНОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01J 3/40
Метки: анализа, образцов, парамагнитных
Опубликовано: 07.10.1981
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-870968-sposob-analiza-paramagnitnykh-obrazcov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ анализа парамагнитных образцов</a>
Предыдущий патент: Способ спектрального анализа фторидов бария и стронция
Следующий патент: Способ измерения абсолютной спектральной чувствительности яркомеров
Случайный патент: Ортогональный анализатор спектра