Устройство для разбраковкиполупроводниковых приборов

Сфез Соеетскнк Сфциалнстическиа Республик(51)М. Нл с прмсоедимеммем заявки йо -(23) Приоритет ГоеударственныЯ комнтет СССР ао деавм нзобретеннЯ н открытаЯ(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ РАЗБРАКОВКИ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХПРИБОРОВ Изобретение относится к контро-. льно"измерительной технике и может быть использовано при контроле электрорадиоэлементов, например полупроводниковых приборов.Известно устройство для разбраковки полупроводниковых приборов, содержащее блок питания, генератор импульсов, .измерительное сопротивление и конденсатор, при этом параллельно измерительному сопротивлению подключен электронный ключ, вход которого соединен с генератором импульсов, пороговое запоминающее устройство, выход которого соединен с конденсатором 1.13.Недостатком известного устройства является низкая достоверность контроля вследствие того, что его результаты существенно зависят от температуры окружающей среды. Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому является устройство для разбраковки полупроводниковых приборов, содержащее эадатчик испытательного сигнала, первый и второй преобразователи, входы которых соединены с соответствующими выходами контролируемого и эталонного полупроводниковых приборов Г 21 .Недостаток данного устройства - 5также низкая достоверность разбраковки, которая обусловлена тем, чтоизмеряемый параметр полупроводникового прибора зависит от температуры окружающей среды, в результатечего возможны ошибки при разбраковке.Цель изобретения - повышение достоверности разбраковки. Поставленная цель достигается тем,что в устройство для разбраковки 15 полупроводниковых приборов, содержащее задатчик испытательного сигнала,соединенный выходами с соответствующими входами контролируемого и эталонного полупроводниковых приборов, 20 выходы которых соединены с соответствующими входами первого и второгопреобразователей, измеритель, соединенный выходом со входом блокауправления, соединенного первым вы ходом через блок подачи и выгрузкисо вторым входом контролируемого по .луполупроводникового прибора, введенблок деления, соединенный входами асоответствующими выходами первого и30 второго преобразователей и вторымвыходом блока управления, а выходом -со.вмодои .измерителя.На чертеже приведена блок-схемаустройства.Устройство для разбраковки полупроводниковых приборов содержит контролируемый полупроводниковый при 5бор 1, первый преобразователь 2 параметра, блоки деления 3 и управления 4, блок 5 подачи и выгрузки, задатчик б испытательного сигнала,Оэталонный .полупроводниновый прибор7, измеритель 8, зажимы 9 и 10 длямеханического подсоединения полупроводникового прибора 1, второйпреобразователь 11 параметра.Устройство для разбраковки полу-,проводниковых приборов работает следующим образом.В исходном состоянии задатчик биспытательного сигнала вырабатываетэлектрические сигналы, которые поступают на эталонный прибор 7 и назажим 9 для подключения контролируемого прибора 1. На выходе преобразователя 11 параметра сигнал отсутствует. На выходе преобразователя 2параметра действует сигнал, величина которого пропорциональна параметру эталонного прибора 7. На выходахблока 3 деления и измерителя 8 сигналы отсутствуют. С подключениемЗОконтролируемого прибора 1 к зажимам9 и 10 преобразователем 11 параметрконтролируемого прибора преобразуется в электрический сигнал, которыйпоступает на блок 3 деления, По команде, лоступающей с блока 4 управления, блок З-.деления реализует математическую операцию деления, Напряжение на выходе блока 3 равноОеых = г- кОигде О,.(1/0 - вйходные напряжения 40преобразователей 11и 2;К постоянный коэффициент пропорциональности.45Выходное напряжение с блока 3поступает на вход измерителя 8,представляющего собой, например, схемусравнения с заданным эталонным значением. С выхода измерителя 8 сигнал результата разбраковки поступает на вход блока 4, который вырабатывает соответствующую команду дляблока 5 подачи и нагрузки, которыйосуществляет выгрузку контролируемого прибора 1. 55В производственных условиях происходят колебания температуры окружающей среды. При этом выходныенапряжения преобразователей 2 и 11зависят от температуры следующимобразом О = к ч(дт)где К и К - постоянные коэффициенты пропорциональ ностиТ температура окружающей среды;приращение;температурные функции эталонного 7 и контролируемого 1 приборов.В том случае, если Ч,(дТ)= Ч+,(дт), что характерно для однотипных приборов 1 и 7 и имеет место, например, для полупроводниковых диодов, выходное напряжение блока 3 леления не зависит от температуры окружающей среды и определяется из выражения 6иК 2Ьых К11Таким образом, за счет введения блока 3 деления обеспечивается уменьшение зависимости напряжения, поступающего на измеритель 8, от температуры окружающей среды, что существенно повышает достоверность разбраковки. Формула изобретения Устройство для разбраковки полупроводниковых приборов, содержащеезадатчик испытательного сигнала, соединенный выходами с соответствующими входами контролируемого и эталонного полупроводниковых приборов, выходы которых соединены с соответствующими входами первого и второго преобразователей, измеритель, соединенный выходом со входом блока управления, соединенного первым Ьыходрм через блок подачи и выгрузки со вторым входом контролируемого полупроводникового прибора, о т л и ч а ющ е е с я тем,что, с целью повышения достоверности раэбраковки, в него введен блок деления, соединенныйвходами с соответствующими выходамипервого и второго преобразователейи вторым выходом блока управления,а выходом - со входом измерителя.Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1. Авторское свидетельство СССРМ 438948, кл. С 01 В 31/26, 1975.2. Авторское свидетельство СССРМ 687419, кл. С 01 8 31/26 1979Тираж 732Государственногоелам изобретенийМосква, З, Рау Подписноеета СССРрытийнаб д. 4/5 комии оска