Дефектоскоп контроля качестваповерхности изделий

Номер патента: 819678

Авторы: Брон, Бутенко, Пачковский

ZIP архив

Текст

Союз Советских Соцналисткческих Республик(63) Дополнительное к авт. свмд-ву(22) Заявлемо 07. 0476(21) 2428061/18" 28с присоединением заявим Нов(23) Рриоритет -Р 1 М 1(з С 01 й 27/82 Государственный комитет СССР ио делам изобретений и открытий(53) УДК 620.179. .142(088,8) Дата опубликования описания 09. 04 . 81 Ю.М.Врон, А.И.Бутенко и Л.С.ПачковскийНаучно-исследовательский и опытно-конструкторский институт автоматизации черной металлургии,54) ДЕФЕКТОСКОП КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ПОВЕРХНОСТИИЗДЕЛИИ Изобретение относится к устройст вам для неразрушающего контроля качества изделий цилиндрической формы и может быть использовано для контроля заготовок и труб в линиях отделки металлургических и машиностроительных заводов.Известно устройство для дефектоскопии проката, содержащее сканирующий механизм, преобразователь дефектоскопа, установленный на этом механизме, автоматический регулятор шага сканирования; выполненный в виде двух кинематически связанных фрикционных роликов, электродвигателя, 15 на валу которого жестко укреплен один из роликов, тахогенератор, кинематически связанный с этим же валом, схему сравнения сигнала тахогенератора и тока якоря электродвигателя, идва 20 усилителя мощности, через один из которых схема сравнения связана с якорем электродвигателя, а через другой тахогенератор - с электроприводом 1,Недостатком этого устройства является его сложность, так как оно выполнено в виде системы автоматического регулирования, погрешность которой зависит от возможного проскальзывания фрикционных роликов, точ ности работы системы сравнения сигналов тахогенератора и тока якоря двигателя.Наиболее близким к изобретению потехнической сущности является устройство для отметки дефектных мест наизделии, содержащее сканирующий преобразователь, блок обработки сигналов, датчик секторов, дефектоотметчики, вход каждого из которых связан соответственно с выходом элемента И, при этом количество последних равно числу секторов, а вход блока обработки сигналов подключен к сканирунхцему преобразователю, датчики угловой координаты; равное им количество краскоотметчиков, схему совпадений и блок переноса информации о дефекте иа магнитной ленте с числом каналов записи, равным количеству краскоотметчиков; привод магнитной ленты синхронизирован с механизмом подачи изделия, причем головки воспроизведения расположены от головки записи на расстоянии, пропорциональном расстоянию между преобразователем и краскоотметчиками 2.Недостатком этого устройства является необходимость иметь число :каналов записи и воспроизведения,равное количеству секторов отметки,т.е. количеству краскоотметчиков.Этот недостаток особенно ощутим принеобходймости сопровождать информацию о дефектах при большом числе каналов (например 17, при контролекруглых заготовок),5Цель изобретения - упрощение дефектоскопа,Поставленная цель достигается тем,что дефектоскоп контроля качества поверхности изделий, содержащийсканирующий преобразователь, блок обработки сигнала, датчик секторов и дефектоотметчики, подключенные к. выходу каждого элемента И, число которых равночислу секторов отметки, снабжен регистром сдвига, шифратором, дешифратором и датчиком цикла, подключеннымк первому входу шифратора, второй входкоторого связан с датчиком сектора ис первым входом регистра сдвига, второй вход последнего подключен к выходу блока обработки сигнала, а выходрегистра сдвига подключен к первымвходам всех элементов И, вторые входы которых подключены к соответствующим выходам дешифратора, каждый извходов которого связан с соответствующим выходом шифратора.На чертеже изображена функциональная схема дефектоскопа.Дефектоскоп контроля качества поверхности изделий содержит сканирующий преобразователь 1, установленныйна вращающейся планшайбе 2, имеющейпривод 3, кинематически связанныйс" приводом механизма подачи изделия 5.На статоре 6 сканирующего устройства размещены датчик 7 секторов и датчик 8 цикла. В состав дефектоскопавходят блок 9 обработки сигнала преобразователя, регистр 10 сдвига со 40схемой 11 сброса регистра 10 в "0",шифратор 12, дешифратор 13, элементыИ 14 и дефектоотметчики 15Работает дефектоскоп следующимобразом.Изделие 5 перемещается поступательно по рольгангу и одновременноконтролируется сканирующим преобразователем 1, сигнал которого преобразуется в блоке 9 обработки сигна-ла в импульс определенной длительности и амплитуды и поступает наинформационный вход регистра 10 сдвига. При повороте планшайбы 2 на угол,равный углу одного сектора, датчик7 вырабатывает сигнал, который посту-1 пит одновременно на первый тактовыйвход регистра 10 сдвига и один извходов шифратора 12, где производится счет поступакщих на него импульсов датчика секторов, например, в щдвоичном коде. При этом кажцый импульс датчика 7 смещает запись в регистре 10 сдвига на одну ячейку и одновременно увеличивает счет шифратора 12 на единицу. Дешифратор 13 последовательно подает сигнал на элементы И 14 в соответствии с номеромсектора, учтенным шифратором 12.Одновременно на вторые входы всехэлементов И 14 поступает сигнал с выхода регистра 10 сдвига, если в данном секторе ранее был обнаружен деФект в изделии 5 преобразователем 1.В случае совпадения сигналов на одном из элементов И 14 на его выходетакже появится сигнал, который включит соответствующий дефектоотметчик 15.Для исключения накопления ошибкив случае сбоя в счете шифратора 12дефектоскоп снабжен датчиком 8 цикла, который вырабатывает сигнал прикаждом обороте планшайбы 2. Если припоявлении сигнала датчика 8 циклакод шифратора 12 не будет соответствовать числу секторов, то сигналдатчика 8 восстановит это число. Если же код на шифраторе 12 будет соответствовать числу секторов, то сигнал датчика 8 цикла на работу влиятьне будет..При устойчивой работе дефектоскопа датчик 8 цикла выполняет роль синхронизатора начала счета после включения дефектоскопа.Для установки регистра 10 в "0" вдефектоскопе предусмотрена схема 11принудительного сброса,Предлагаемый дефектоскоп имеетодин канал переноса информации о деФектах из плоскости контроля в плоскость дефектоотметки независимо отчисла секторов, в отличие от известных устройств, в которых число каналов переноса информации равно числусекторов отметки.Таким образом, эффектот примене-,ния данного устройства тем выше, чембольше число секторов отметки, чембольше расстояние от плоскости контроля до плоскости отметки, чем меньше шаг сканирования.Формула изобретенияДефектоскоп контроля качества поверхности изделий, содержащий сканирунзций преобразователь, блок обработки сигнала, датчик секторов, деФектоотметчики, вход каждого из которых связан соответственно с выходом элемента И, при этом количество элементов И равно числу секторов, а вход блока обработки сигнала подключен к сканирующему преобразователю, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью упрощения, дефектоскоп снабжен регистром сдвига, шифратором, дешифратором и датчиком цикла, подключенным к первому входу шифратора, второй вход которого связан с датчи" ком секторов и с первым входом регистра сдвига, второй вход регистра сдви370 2ВНИИПИпо35, М За Тираж 90Государственного комителам изобретений и открыква, Ж, Рауыская наб писноеССР 4/5 лиал,ППП Патент , г. Ужгород, ул. Проектна га подсоединен к выходу блока обработки сигнала, а выход регистра сдвига подключен к первым входам всехэлементов И, вторые входы которых подключены к соответствующим выходамдешифратора, каждый из входов которого связан с соответствующим выходом шифратора. Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1. Авторское свидетельство СССР 9 349938, кл, 5 01 й 27/86, 18,07,69.2. Авторское свидетельство СССР Ф 292108, кл. Ст 01 й 27/82,29.07.68,

Смотреть

Заявка

2428061, 07.04.1976

НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ И ОПЫТНОКОНСТРУКТОРСКИЙ ИНСТИТУТ АВТОМАТИ-ЗАЦИИ ЧЕРНОЙ МЕТАЛЛУРГИИ

БРОН ЮРИЙ МИХАЙЛОВИЧ, БУТЕНКО АЛЕКСАНДР ИВАНОВИЧ, ПАЧКОВСКИЙ ЛЕОНИД СЕМЕНОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01N 27/82

Метки: дефектоскоп, качестваповерхности

Опубликовано: 07.04.1981

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-819678-defektoskop-kontrolya-kachestvapoverkhnosti-izdelijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Дефектоскоп контроля качестваповерхности изделий</a>

Похожие патенты