Способ измерения толщины непроводящегопокрытия

ОЛИСАНЙЕ , о 11 815474 Союз Советских Социалистических Республик.К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТ Дополнительное к авт, саид(23) Приоритет -дарственный комитетСССРделам изобретенийи открытий убликовано 23,0381, Бюллетень Й 53) УДК б 20,17914(088.8)Дата опубликовани исания 25.03.8.кьтит т ьвовский ордена Ленина политехнический и и Львовский лесотехнический институт(У 1) Заявите 4) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ НЕПРОВОДЯЩЕГО ПОКРЫ озмож.- ии агаемому яетсяроводя- нефер- ючающий- контро- непроый накмеряют ве измерипредл и явл ны неп дящем закл ают н ороны етоко и из в его яет пособа явлкая точнолиянием эны основая ЭДС.повышение чИзобретение относится к нераэруша ющему контролю и может быть использовано для измерения толщины непроводящих покрытий на проводящих неферромагнитных основаниях.Известен оптический способ измерения толщины покрытии 11.Однако несмотря на высокую точность, этот способ непригоден для измерения толщины непрозрачных покрытий. Наиболее близким кпо технической сущностспособ измерения толщищего покрытия на проворомагнитном основании,ся в том, что накладывлируемое изделие со стводящего покрытия вихрладной преобразовательличину ЭДС, наводимуютельной катушке 12.Недостатком этого сся сравнительно невысоизмерений, вызванная втропроводноети и толщипогрешностями измерениЦель изобретения -ности измерений,Поставленная цель достигается темчто устанавливают на фиксированномрасстоянии соосно с первым второйнакладной вихретоковый преобразователь, возбуждают с его помощью противофазное первому электромагнитноеполе, изменяют отношение ампервитков преобразователей, регистрируютзначение этого отношения в моментравенства нулю вихревых токов в основании и по нему судят о толщинепокрытияНа чертеже приведен один из вных.примеров конкретной реализац 15 способа.На контролируемое изделие с основанием 1 и покрытием 2 наложеныдва идентичных жестко связанныхкоаксиальных вихретоковых преобра О зователя 3 и 4, катушки которых Щ,с ю фу 2, уэ - измерительныеу У 1 у У 2 Ф УЭкомпенсационные. Пары катушек Ути Ч,а и у - соединены последователь 2 2/но - согласно, У и Уз - последовательно"встречно. Катушки У, Уи Ууу 2 включены на выходы двух идентичных источников 5 и б тока, выходныесопротивления которых много большеполных сопротивлений их нагрузок. ЗО Входы источников 5 и б тока черезуправляемые резистивные аттенюаторы7 и 8 соединены с выходом генератора9 синуссидального напряжения, который соединен также со входом схемы10 управления. Выходы схемы 10 управления соединены со входами управления аттенюаторов 7 и 8. Выходыкатушек Чз и Ч включены на входнуль-органа 11, выход которого соединен ео схемой 10 управления, которая имеет также вход 12 "начальнаяустановка". Способ измерения тохицины покрытия осуществляется следуищим образом.В начальный момент на вход 12 схемы 10 управления подают иулье, и 15 аттеиюаторы 7 и 8 устанавливаются в начальное положение, при котором, например, аттенюатор 8 не ослабляет сигнал гевератора 9, а аттенюатор 7 ослабляет сигналгеиератора 9 до нуля, 20 В этом случае ток ." ок "=0 т.е,. отношение чисел ампервитков р М-И О, Вследствие близости проводящего основания 1 к катушкам Ч ЧЧ, разность ЭДС 60 катушек Ч и Ч йе равна нулю, на выходе нуль- органа 11 отсутствует сигнал, и на выходах схемы 10 управления появляются управляющие сигналы, в результате чего величины ослабления аттенюатаров 7 и 8 начинают изменяться 1 у аттенюатора 8 " возрастать у аттенюатора 7 " уменьшатьсяВозникает ток 1., амплитуда которого возрастает, а амплитуда тока 1 уменьшается. это приводит к монотонному увеличению значения ампервитковЧ. и монотонному уменьшению вихревых таков в основании 1, при этом величина разнос-. ти ЗДС монотонно уменьшается. В момент, когда достигнуто состояние, , 40 при котором е 0, срабатывает нуль- орган 11, на его выходе появляется сигнал "стол",воздействующий на схему 10 управления, что приводит к фиксации положения аттенюаторов 7 и 8. В этом положении определяют значение ампервитков рр и по нему судят о величине измеряемой толщины покрытия 2.Применение предлагаемого способа позволяет повысить точность измерений, так как результат измерения не зависит от изменения напряжения генератора 9, величина р может быть задана, а следовательно, и зарегистрирована с малой погрешностью, отсутствуют операции измерения вносимой ЭДС или вносимых сопротивлений и связанные с ними погрешности; результат измерения мало зависит от значения электроправаднасти основания.Формула изобретенияСпособ измерения толщины непроводящего покрытия на проводящем неферрамагнитном основании, заключающийся в там, чта накладывают на контролируемое изделие са стороны непровадящего покрытия вихретакавый накладной преобразователь и измеряют величину ЭДС, наводимую в ега измерительной катушке, а т л и ч а ю щ и йс я тем, чта, с целью повышения точ"ности измерений, устанавливают на фиксированном расстоянии саасна с первымвторой накладной вихретакавый преобразователь, возбуждают с ега помощьюпротивофазное первому электромагнитное поле, изменяют отношение ампервитков преобразователей, регистрируют значение этого отношения в моментравенства нули вихревых токов в основании и па нему судят о толщинепокрытия.Источники информации,принятые ва внимание при экспертизе1. Справочник "Неразрушающие испытания". Пад ред, Р. Мак-Мастера. М.,"Энергия", 1965, ч.1, с. 195-216.2. Справочник "Приборы для неразрушающега контроля материалов и изделий". Пад ред. В.В. Клюева, М.,815474 Соста Тех е ова Ко ек Редактор О. М Билак икрка 4 5 Филиал Патент", г. Ужгород, ул. Проектная,каз 1010/65 ВНИИПИ по д 113035Тираж осударст ам иэобр Москва итель Н. ДР,.Бабинец642венного кометений и отЖРа с Подпита ССтийнаб