Цифровой измеритель временных параметров полупроводниковых приборов

Союз Советских Социалистических Республик43) Опубликовано 20.05,80. Бюллетснь24 (45) Дата опубликования описания 07.12.81 К 621.382) ЦИФРОВОЙ ИЗМЕРИТЕЛ ПАРАМЕТРОВ ПОЛУПРОВОПРИБОРОВ ЕМЕН НЫХКОВЫХ 2 Изобретение относится к электронной технике и может быть использовано для контроля динамических параметров цифровых интегральных схем (ЦИС),Известно устройство для измерения динамических параметров цифровых интегральных схем, использующее стробоскопический метод измерения Ц.Недостатком известного устройства является низкая производительность, обусловленная значительным временем проведения одного теста.Известно устройство для измерения временных параметров полупроводниковых приборов, содержащее блок подключения, блок управления, генератор тестовых импульсов, соединенный с блоком подключения и блоком управления, стробоскопические дискриминаторы начала и конца измерения, блок управления дискретностью считывания, соединенный с блоком управления и стробоскопическими дискриминаторами, блок автоматического сдвига строб- импульсов, соединенный с генератором тестовых импульсов, блоком управления, стробоскопическими дискриминаторами и блоком управления дискретностью считывания 2.Использование блока управления дискретностью в известном устройстве сокращает время измерения, так как измерение временного интервала осуществляется сначала крупными дискретностями, сбросом избыточной крупной дискретности и 5 затем досчетом мелкими дискретностями.Однако временные затраты на проведение одного теста довольно значительны.Целью изобретения является повышение производительности измерений.10 Поставленная цель достигается тем,что в устройство дополнительно введены реле времени, запоминающее устройство н сумматоры, причем реле времени соединено с запоминающим устройством и блоком управления, каждый из сумматоров включен между стробоскопическим дискриминатором и блоком подключения и соединен с блоком управления, а запоминающее устройство - с блоком автоматического сдви- И га стробимпульсов и блоком управления.На чертеже дана структурная схемапредлагаемого цифрового измерителя временных параметров полупроводниковых приборов.25 Он содержит блок подключения 1, генератор 2 тестовых импульсов, блок управления 3, сумматоры 4 и 5, стробоскопические дискриминаторы 6 и 7 начала и конца измерения, блок 8 управления дискретностью З 0 считывания, блок 9 автоматического сдви50 55 50 65 га стробимпульсов, запоминающее устройство 10 и реле времени 11.Измеритель работает следу:ощцм ОбраВ исходном состоянии реле времени 11 переводит запоминающее устройство 10 в режим записи, В контактное устройство блока 1 подключения помещают испытуемую ИС и осуществляют запуск измерителя, При запуске измерителя блок управления 3 подает команду на включение нулевых уровней отсчета в задатчиках уровней блока 3. Эти уровни поступают через сумматоры 4 и 5 на входы стробоскопическцх дискриминаторов 6 и 7 и запоминаются.Затем блок управления 3 формирует команду на включение уровней отсчета динамического параметра и других тестовых условий по первому измерительному тесту.При этом на вход сумматора 5 уровень отсчета подается с протнвоцоло;кцой полярностью с целью получения ца его вь ходе напряжения, равного нулю по достижении на сГО д 11 угом входе импульснь 1 м сиГналом напряжения, равного уровню отсчета, Стробоскоппческий дискриминатор 7 осуществляет преобразование выходного сигнала сумматора 5 посредством Олока 9 автоматического сдвига строб 1.мпульсов до тех пор, пока сдвигаемый стробцмпульс не попадает на мгцовеш 1 ое значение цапряжеция импульса, равное уровн 1 о отсчета противоположной полярности, формируемому одним из задатчиков олока "правления 3. В момент равенства нулю напряжения на выходе сумматора 5 стробоскопический дискриминатор 7 формирует сигнал, по которому блок 8 управления дискретно"тью считывания разрешает сброс пос,1 едцей крупной дискретности сдвига стробимпульса. Дальнейший сдвиг стробцмпульса будет производиться мелкими дискрстностями до момента сравнения преобразованного мгновенного зца гения сигнала ц запомненного нулевого уровня, В этот момент в блоке автоматического сдвига стробимпульсов зафиксируется число, пропор 11 иональцое задержке стробимпульсов стробоскопического дискриминатора 7, соответствующей начальной точке отсчета измеряемого параметра на входном импульсе. После нахождения начальной точки отсчета по команде с блока управления 3 стробимпульс сдвигается на время, равное классификационному значешцо измеряемого параметра в дацном тесте, записанному в блоке 9, и посредством одного стробимпульса в сумматоре 4 производится сравнение мгновенного значения выходного сигнала с уровнем отсчета, формируемым блоком управления 3 без дальнейшего сдвига стробимпульса, т. е. измеритель работаетв режиме стробвольтметра. Затем зафиксированное в блоке 9 число, пропорциональ;1 ое задержке стробимпульса, переписывает 5 10 15 20 25 30 35 40 45 ся в запоминающее устройство 10, а результат сравнения обрабатывается в блоке управления 3. После чего блок управления 3 передает исходные данные (уровни отсчета) на измерение параметра второго теста. Лцалсги 11 но осущестгляется цзмере - цце второго, трегьсго и т. д. до последнего теста, в результате чего в запомц 11 а 1 оц см устройстве 1 О будут зафиксированы величины задержек начала отсчетов по кажчому измерцте,.ьцому тесту, ца котор,е необходимо сдвинуть стробцмпульс прц;1 змеренци параметров следу:оц 1 цх исцы д смых ИС.После измерения параметров первой 11 С по всем тестам блок управления 3 форм 11- рует команду конец испытаний;, по когорой разрешается считывание цз запоминающего устройства 10. При измерении следующей ИС по команде цз блока упраглеш 1 я 3 по каждому тесту из з 11 пом 1.ппо 1о устройства 10 в блок 9 автоматц 1 сск ГО сдвига стробцмпульсоз псрсцисг, а О.гя задержки, соответствующие началу отс 1 ста измеряемого параметра ц классцфцка 11 ц 011- ному зцачешцо этого параметра. Стосбоскопический дискриминатор ср пере"одится в режим стробвольтметра и за о н стробимпульс производит цз.,терсгц 1" з каждом тесте до тех пор, пока сцгнало., От реле времени 11 не разрешится запись в запоминающее устройство 10 цз блока 9 за,1 ержек, соответствую 1 цих началу отсчета измеряемого временного интервала. В результате измеритель снова переводи-.ся из режима по сокращенному циклу измерителя (режим стробвольтметра) в рс.кцм поиска начала отсчета при цикле измерения с запоминанием, т. е. измеритель возвращается в исходное состояние. При этом исключается время, необходцмое на перезапомипание уровней отсчета поиска начала и конца измеряемого параметра для нескольких испытуемых схем. Предлагаемое устройство поз",.Олцт уменьшить время измерения одного теста и увеличить производительность по сравце. цию с известными устройствами. Формула изобретения Цифровой измеритель временных параметров полупроводниковых приборов, содержащий блок подключения, блок управления, генератор тестовых импульсов, соединенный с блоком подключения и блоком управления, стробоскопические дискриминаторы начала и конца измерения, блок управления дискретностью считывания, соединенный с блоком управления и стробоскопическими дискриминаторами, блок автоматического сдвига стробимпульсов, соединенный с генератором тестовых импульсов, блоком управления, стробоскопически,4 Составитель В. НемцевТсхред А, Камышникова Корректор С. Файн Рсдактор Н, Коляда Заказ 1758/1287 Изд. И 628 Тираж 749 ПодписноеНПО Поискэ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий113035, Москва, 7 К, Раушская наб., д, 4/5 Тип. Харьк. фил. пред. Патент. ми дискриминаторами и блоком управления дискретностью считывания, о т л ич а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения производительности измерения, в него введены реле времени, запоминающее устройство и сумматоры, причем реле времени соединено с запоминающим устройством и блоком управления, каждый из сумматоров включен между стробоскопическим дискриминатором и блоком подключения и соединен с блоком управления, а запоминающее устройство - с блоком автоматического сдвига стробимпульсов и блоком управления. 5 Источники информации, принятые вовнимание при экспертизе:1. Тестер динамических параметровТ 4520 ЩЦМЗ.430,004,ТО.2. Авторское свидетельство СССР по10 заявке2163406/24, кл. (д 01 К 31/26,1975 (прототип).