Устройство для измерения динамических параметров микросхем

Союз Советских Соыиалистических Республик(51) М С 01 РЗ исоединением заявкиГосударственный комитет 3) Приоритет СССР ло делам изобретений и открытий(45) Дата опубликования описания 30.03.80 (088.8) 72) Автор изобретения илиппо 71) Заявитель 4) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДИНАМИЧЕСКИ ПАРАМЕТРОВ МИКРОСХЕМИзобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для измерения динамических параметров микросхем.Известны устройства, содержащие генератор испытательных сигналов, формирователь образцовой задержки, программатор, блок сравнения, согласующий элемент, пороговый элемент и элемент регистрации Ц.Недостатком известных устройств является низкая точность измерения.Наиболее близким к изобретению по технической сущности является устройство для измерения динамических параметров микросхем, содержащее элементы И - НЕ, монтажный элемент ИЛИ - НЕ, нечетное число последовательно соединенных инверторов, парафазный элемент, переключатель и ключи 2,Недостаток этого устройства также заключается в низкой точности измерения. Кроме того, для проведения измерения с помощью этого устройства требуется значительное время,Цель изобретения - повышение точности и уменьшение времени измерения,Эта цель достигается тем, что в известное устройство, содержащее цепь из нечетного числа последовательно соединенных инверторов, выход последнего из которых соединен с входом парафазного элемента,инвертирующий выход которого через переключатель подключен к первым входам первого и второго элементов И - НЕ, вторые5 входы которых соответственно через первыйи второй ключи соединены с общей шинойустройства, неинвертирующий выход парафазного элемента соединен с входом контролируемого элемента, инвертирующий вы 10 ход этого элемента - с третьим входом второго элемента И - НЕ, при этом выходыпервого и второго элементов И - НЕ связаны с входами монтажного элемента ИЛИ -НЕ, введены управляемый элемент задерж 15 ки, блок индикации и блок управления.При этом вход управляемого элемента задержки соединен с выходом монтажногоэлемента ИЛИ - НЕ, а выход - с входомцепи последовательно соединенных инвер 20 торов, выход последнего из которых подключен к входу блока управления, выходкоторого соединен с входом блока индикации и . управляющим входом управляемогоэлемента задержки,25 На чертеже приведена структурная схема устройства.Устройство содержит элементы И - НЕ 1,2, блок 3 индикации, монтажный элементИЛИ - НЕ 4, управляемый элемент 5 за 30 держки, блок 6 управления, цепь последовательно соединенных инверторов 7, парафазный элемент 8, переключатель 9 и ключи 10, 11,:Работает устройство следующим образом.Геред начаЛом измерений динамических 5 "параметров контролируемого элемента 12 производят начальную установку периода повторения импульсов Т, устройства, представляющего собой кольцевой генератор. Для этого замыкают ключ 10, переключа тель 9 устанавливают в верхнее положение, а управляемый элемент 5 задержки с помощью блока б управления устанавливают в режим максимальной задержки.Измерение времени задержки распростра кения информации 1 З 1 О при включении контролируемого элемента 12 проводят при разомкнутом ключе 10. В этом случае элементы И - НЕ 1, 2 и монтажный элемент ИЛИ - НЕ 4 реагируют на отрицательный 20 фронт сигнала с выхода контролируемого элемента и на положительный фронт сигнала с инвертирующего выхода парафазного элемента 8. Таким образом, устройство половину периода повторения импульсов 25 замкнуто через контролируемый элемент 12 и половину периода повторения импульсов - минуя его, в результате чего период повторения импульсов в устройстве увеличивается. 30Так как период повторения импульсов стал больше То, то блок б управления формирует управляющие импульсы, которые переключают управляемый элемент 5 задержки до тех пор, пока в устройстве не 35 установится начальный период повторения импульсов Т Блок 3 индикации производит подсчет управляющих импульсов и выдает результат измерения 1 З 1 О в цифровой форме.Аналогично происходит измерение времени задержки распространения информации 8 З 1 опри выключении контролируемого элемензр.та 12 с той лишь разницей, что в этом слу чае замыкают ключ 11, а переключатель 9 устанавливают в нижнее положение. При этом элемент И - НЕ 1 и монтажный элемент ИЛИ - НЕ 4 реагируют на отрицательный фронт сигнала с инвертирующего вы хода парафазного элемента 8 и на положительный фронт сигнала с выхода контролируемого элемента.Устройство позволяет автоматизировать процесс измерения с высокой точностью динамических (параметров микросхем.Устройство может быть использовано как в качестве отдельного прибора для измерения динамических параметров, так и в качестве блока для автоматических классификаторов интегральных схем,Формула изобретенияУстройство для измерения динамических параметров микросхем, содержащее цепь из нечетного числа последовательно соединенных инверторов, выход последнего из которых соединен с входом парафазного элемента, инвертирующий выход которого через переключатель соединен с первыми входами первого и второго элементов И - НЕ, вторые входы которых соответственно через первый и второй ключи соединены с общей шиной устройства, неинвертирующий выход парафазного элемента соединен с входом контролируемого элемента, инвертирующий выход этого элемента соединен с третьим входом второго элемента И - НЕ, при этом выходы первого и второго элементов И - НЕ соединены с входами монтажного элемента ИЛИ - НЕ, о т л и ч а ю щ е ес я тем, что, с целью повышения точности и уменьшения времени измерения, в него введены управляемый элемент задержки, блок индикации и блок управления, причем вход управляемого элемента задержки соединен с выходом монтажного элемента ИЛИ - НЕ, а выход - с входом цепи последовательно соединенных инверторов, выход последнего из которых соединен с входом блока управления, выход которого соединен с входом блока индикации и управляющим входом управляемого элемента задержки.Источники информации,принятые во внимание при экспертизе 1. Авторское свидетельство СССР М. 505972, кл, б 01 К 31/28, 1973 (прототип).2. Измеритель динамических параметров микросхем, черт. ЩИ 2.702.000 СХЭ, 1973 (прототип),Редактор И, Грузова Корректор 3. Тарасова Заказ 147/17 Изд, Мо 218 Тираж 1033 Подписное НПО Поиск Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4(5 Типография, пр. Сапунова, 2