Прибор для определения освещенности
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
Класс 42 п, 19 М 66278 С С С Р ОПИСА ЕТЕЛЬСТВ АВТОРСКОМ ировано в Бюро изобретений Госплана СССР За Юро Л И ВЕЩЕН НОСТИ аркомэлектропром за682 (33661631 мая 1946 г. Расчет освещенности, создаваемой поверхностными источниками произвольной формы и ориентировки, является ним из основных вопросов пр тической светотехники.Теоретически этот вопрос был решен еще Ламбертом во второй половине ХЪ 111 века путем разбивки светящейся поверхности на небольшие площадки. каждую из которых можно рассматривать как точечный источник. Однако практика подобного рода расчетов до нашего времени не создала достаточно простых приемов и методов для их выполнения. В последние 20 - 25 лет в научно-технической литературе появилось большое количество работ, посвященных этому вопросу. Авторы этих работ решали поставленную задачу различными методами, которые можно разбить на несколько основных групп, а именно. методы, использующие чисто аналитические приемы (фок, Гершун, Ямаути), графические методы (Ондрачек, Данилюк, Гершун), методы, базирующиеся на применении специальных интеграторов (Ратнер, Бенфорд), и, наконец, весьма многочисленные номоодак Е. С. Ратне ИБОР ДЛЯ ОПРЕДявлено 23 декабря 1944 годаОпублпкова ОБРЕТЕНИ графические методы. приложимые, как правило. лишь к определенным конкретным случаям.Все эти методы обладают по крайней мере одним из перечисленных ниже недостатков, в значительной степени препятствующих их широкому распространению:а) невозможность решения задачи для источника любой формы;б) сложность и кропотливость графо-аналитических приемов;в) конструктивные сложности вспомогательных устройств и приспособлении;г),невозможность решения задач с источниками. имеющими любую ориентацию в пространстве.Ниже описан простейший прибор, являющийся предметом настоящего изобретения. дающий возможность определять освещенность от источников произвольной формы, находящихся в любом положении относительно поверхности, на которой определяется освещенность, и обладающих неравномерным распределением яркости на своей поверхности,Прибор состоит из двух планшетов, жестко скрепленных между собою под прямым углом, На пер вом планшете помещена переставная точечная лампа, накрытая концентричной ей прозрачной полусферой, несущей на себе штрихи меридианов и параллелей, тогда как второй планшет предназначен для закрепления на нем контура светящейся поверхности. Определение величины освещенности от светящейся поверхности в точке нахождения источника света, . при размещении последней по отношению к светящейся поверхности подобном действительному, производится путем подсчета количества четырехугольных контуров теневой проекции сетки меридианов и паоаллелей полусферы.Для возможности определения освещенности в данной точке плоскости при условии расположения светящейся поверхности к указанной плоскости под углом, отличным от прямого, точечная лампа с полусферой установлена на приспособлении, допускающем установку экваториальной плоскости полусферы под необходимым углом к планшету с контуром светящейся поверхности,Существенным преимуществом предлагаемого прибора является возможность определять освещенность, пользуясь непосредственно архитектурными (строительньпи) чертежами, изображающими светящуюся поверхность,Примерная форма выполнения изобретения представлена на чертеже.На планшете 4. установленном на столе, находится прозрачная полусфера 1, выполненная из стекла. или т. п. материала. На ее поверхности нанесена сетка пересекающихся меридианов и параллелей,В центре полусферы 1 помещена лампа 2 с телом накала малых размеров, проектпрующая нанесенную на полусфере сетку на поверхность планшета 3, укрепленного по отношению к первому планшету 4 под прямым углом, На планшете д располагают контур 5 модели светящеися поверхности.Точечная лампа 2 с полусферой расположена на приспособлении,допускающем установку экваториальной плоскости полусферы по отношению к плоскости планшета 3 под углом, отличным от 90".При определении освещенности в какой-либо точке планшета 4 от светящей:я поверхности нить лампы 2 располагают в указанной точке, для которои определяется освещенность. причем расстояние от этой точки до контуров светящейся поверхности п их взаимное расположение должны в масштабе воспроизводить натуру, Зто необходимо для тсгс, чтобы светящаяся поверхность была видна пз центра полусферы под тем же углом и раккурсом, что и в действительности. Для определения величины освещенности подсчитывают число клеток сетки, проекция которых укладывается на чертеже светя- шейся поверхности.Сетка на полусфере строится таким образом. чтобы проекции всех клеток на плоскости Основания полусферы были бы равны между собой. В этом случае, как известно, каждой клетке соответствует одинаковая величина освещенности при равномерной яркости светяцейся поверхности и ее свечения то Ламберту). Если на чертеже :ьетящейся поверхности укладывается проекция и клеток сетки, то искомая величина освещенности определяется из очевидного соотношения:В ч В иЯХ дтгле В - яркость светящейся поверхности, l, =й - ее светимость, Л - общее число клеток на полусфере.Для удооства воспроизведения масштабов полезно оба планшета 4 и 3 разбить на квадраты, При необходпмостп определить освещенность в плоскости, составляющей со светящейся поверхностью угол . (90, на нужный угол наклоняют не чертеж, а полусферу.В случае неравномерного распределения яркости по светящейся поверхности нужно суммировать освещенность от отдельных частейЛ 66278 Типография Госпланиздата им. Воровского, г, Калуга,поверхности, в пределах которых яркость можно принять постоянной,Предмет изобретения 1. Прибор для определения освещенности в данной точке плоскости от светящейся поверхности, о т л и ч а ю ш и й с я тем, что он выполнен в виде двух жестко под прямым углом скрепленных плангцетов 4 и 3, на первом из которых помещена переставная точечная лампа 2, накрытая концентричной ей прозрачной полусферой 1, несущей на себе штрихи меридианов и параллелей, а второй предназначен для закрепления на нем контура светящейся поверхнс:ти 5, с целью определения величины освещенности ст светящейся поверхности в точке нахождения источника свеОтв. редактор В. Н, Костров. А 02854, 11 одписэно к печати 27 П 1-1948 т. та 2 при размещении последней по отношению к светящейся поверхности 5, подобном действительном, путем подсчета количества четырехугольных контуров те 1 невой проекции сетки меридианов и параллелей полусферы 1.2. С 1)орма выполнения прибора по и. 1, отличающаяся тем, что, с целью возможности определения освещенности в данной точке плоскости, прп условии расположения светящейся поверхности и указанной плоскости под углом, отличным от прямого. точечная лампа 2 с полусферой расположена на приспособлении, допускающем установку экваториальной плоскости полусферы под необходимым углом к планшету 3 с контуром светящейся поверхности. Техн. редактор Г. ф, Сокоиова Тираж 500 экз. Цена 65 к. Зак. 305
СмотретьЗаявка
682, 23.12.1944
Ратнер Е. С, Юров С. Г
МПК / Метки
МПК: G01J 1/04, G01N 21/47
Метки: освещенности, прибор
Опубликовано: 01.01.1946
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-66278-pribor-dlya-opredeleniya-osveshhennosti.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Прибор для определения освещенности</a>
Предыдущий патент: Вспомогательная трубка для измерения угла поворота изображения в поле зрения оптического прибора
Следующий патент: Фотоэлектрический денситометр для построения изофот
Случайный патент: Устройство для дифференциальной защиты электроустановки