Способ определения неисправных узлов сложных электронных схем

Союз Советскик Социалистических Республикс присоединением заявкиГээтдаээтэвээъ 4% авамтэтВээвта Маяэатуав МОРээ аэлам эаэбрэтвэвйэ атаркТЭЯ(45) Дата опубликования описания 100378 Р Н.Е. Бобков, В,И. Велильников и В,А. Гудковскийизобретения(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ НЕИСПРАВНЫХ УЗЛОВ СЛОЖНЫХ ЭЛЕКТРОННЫХ СХЕМ Изобретение относится к электроизмерительной технике и предназначено для .определения неисправных узлов сложныхэлектронных схем.Известно устройство для построениятеста проверки комбинационных схем,вкотором в определенной последовательности подают входные наборы на входымодели с последующим выделением на каждом из таких наборов с помсщью определителя каждой ячейки модели тех элементов проверяемой структуры,для которыхвыполняется хотя бы.одно условие проявления неисправности на выходе элементадля еще непроверенных неисправнОстей ТИ.Недостаток известногоустройства -сложность реализации,Известный способ определения неисп"равных узлов сложных электронных схем, 3состоящих из к узлов, каждый из которых содержит несколько элементов,основанный на использовании набораиз 1 контрольных сигналов, подаваемых на вход испытуемой схемы, Фиксации 28положительных 01 или отрицательныхфф 1 откликов схемы на тестовые сигналы и на составлени матрицы размером к 1 , элементы которой Тн; получают суммированием числа отрицатель ных исходов при воздействии на эталонную схему ) -го контрольного сигнала и имитации неисправностей всех элементов- го узла при наихудшем значении параметров элементов востальных узлах схемы 12.Недостаток известного способа - использование только наихудшего значения параметров элементов схем при моделировании неисправностей, не учитывая вероятностного распределения параметров схемы, что уменьшает достоверность определения неисправных узлов.Цель изобретения - увеличение достоверности диаГноза неисправных узлов схемы.Поставленная цель достигается тем,в способе по авт. св. Р 486290 элементы щ матрицы Ф размером К т определяют путем суммирования всех Элементов 1)в каждой дополнительной матрицы фт,составленной для каждого эле- ментав 1 Т,элементы которой являются значениями вероятностей,1 т, -ой неисправности в т -ом узле, влияющей на исход-го набора контрольных сигналов в а -ой группе схем (с одинаковыми проявлениями неисправностей узла) 1 причем матрицу Ю ьнэдифицируют в В-. вычитанием элементов НТ;-ых столбцов из599235 единицы при положительных исходах -ых наборов контрольных сигналов, а за неисправный приНимают узел схемы, соответствующий строке с Наибольшим значением вероятности, полученной перемножением элементов модифицированной матрицы % по строкам.Способ осуществляется следующим образом.для каждого 3 в ого узла проверяемой электронной схемы составляют пе-речень возможных неисправностей, каждой 3 -9 й неисправности ставят в соответствие вероятность возникнЬвеиия бЪ в узле. Поскольку, в общем случае, каждое из.проверяемых устройств 35 может отличаться по влиянжо неисправностей на исход набора контрольных сигналов, то выделяют 3групп.; устройств, влияние неисправностей внутри каждой группы которых на исход .-ого 29 контрольного набора сиг 33 алов одинаково, Относительные размеры каждой груп.пы характеризуют вероятностьеявляющуюся вероятностью принадлежности про-. веряемой схемы к той или иной группе. щЗатем имитируют Неисправности в каждом узле схемы,.при этом, фиксируя исход каждого набораконтрольных сигналов, вычисляют вероятность обнаружения И- ой неисправности в узле схемы, ЗО принадлежащей 1 - ой группеи =5 р.к),ер 1 если и "ая неисправность вызывает отрицательный исход 3 -огонабора контрольныхсигналов в 0 - ой групгде 33 ИоО - если Ь -ая неиспавность вызывает положительный исход 3 -огонабОра КонтрОлЬНых сиг-Рналов в 1-ой группе.Вероятность обнаружения неисправности 3,р вычисляют для всех групп схем и составляют дополнительные матрицыМ 31" 45 й 1;если 1 =1; если фг 3 -О 33 и 310Уд рИ ВйИ". формула изобретения Способ определения неисправныхузлов сложных электронных схем по ф авт,св. 9 486290, о т л и ч а ю щ и йс я тем, что, с целью увеличения достоверности диагноза, элементы 3 к 3 матрицы размером 3( 1 определяют путемсуммирования всех элементовкаждой дополнительной. матрицы М, сос-тавленной для каждого элемента И 3элементы которой являются. значениямивероятностей 33 -той неисправности в-ом узле, влияющей на исход 3 -го 6 О набора контрольных сигналов в Г -ойгруппе схем (с одинаковыми проявлениями неисправностей узла), причем матРицу Э модифицируют в Ф путем вычитания элементов Ж; -ых столбцов 65 из единицы при положйтельных исходахФ4аЗатем Вычисляют вероятность обнаружения неисправности в ю -ом узле -ым набором контрольных сигналовП 3, Е .1и составляют матрицу ИгИ 3 г 3 Ин 3 3н 33 и 331фц 3" пк 3 где 1 в . количество наборов контрольных 1 сигналов;к - количество узлов. Иодифицир ют матрицу 9/ по правилу и 1; - если 3 -ый набор кон- трольных сигналов имел отрицательный исход 3 Ц -)п;3 если 3 -йй набор контрольных сигналов имел положительный исход, Из модиФицированной матрицы находят Ч;=П е,)с 3 За неисправный принимается с -ый узел с У; - максАлгоритм поиска неисправного узла состоит в выполнении следующих операций.Реализация элементарных проверок, получение набора исходов где 1-если 3 -ая проверка имела отрицательный ис" у, ход; О-если 3 -ая проверка имела положительный исход. Модификация матрицы Ю/ по правилу Перемножение элементов матрицы,получение результатов диагноза 3 3 П 3 щ,3 Поиск максимального значения У599235 Составитель Ь. Рассмотров1 ехред;3. Фанта Корректор Й.Ковалева Редактор Т, Иванова Заказ 1404/37 Тираж 1112 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб;4 д; 4/5"ых наборов.,контрольных сигналов, а за неисправный принимают узел схемы, соответствуниций строке с наибольшим значением вероятности, полученной путем перемножения элементов модифици 1рованнойматрицы Э по строкам. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе: 1. Авторское свидетельство СССР Р 341039, 2 С 06 Р 15/46, 1969. 5 2. Авторское свидетельство СССР В 486290, 2 й 01 Я 31/28, 1973.