Интерференционный спектрометр

) Заявитель Й- Ж ФЗ ".а Ли с ст:жн.с. 10 ТЗ си чувствитед лярно к установачок снаб ополни О ДВУтроена акцион Е ЗЕР 1Цспектра 11 ьнь,:;. 1 л 1 эиборам с .,";,. - - -:,сНОЙ седект 1 еэной ам 1:111 т"дно., .:.0И. ц пре 1 члз.-:а:уе 1 то ддя эегГтр и 11 и -., ррвидимоЙ и и 1 хфоарас Н 011 О д у"я " ;т;.,Известны спектрометры, содепэка 1111 еППОСЕУ 10 ДИ.11 рак 111 ОН 11"10 001:.:.=.Т 1;.1 . д 11 тель и да а 111100 к и;, зе 1 эка 11 а с каь.11 э) 11 ние в которых Осуш.-ствляется 1 э .Овсоотс,одного иди одновременпо двух зеркалН ибодсе бдизкик.и к пседлагамо." я;-л,ДЯ 10 ТСЯ КОН ТРУКЦИИ 1 НТЕРЭЭЕРэ 1 ЩБСИКЬ 1,".; С;, - , Э трометрОБ р сОдепжа 1 Г,1 длос:г:10 ля".й:;:";ц 1ОННУ 10 РЕШЕТКУ СВЕТОДЕДИТЕДЬ С 01;.".1:.101 р;1 Ч вым Профилем штрихов и два пдоски; Зе э-кала, ОэиО из которьх эйЗде депо "а: : е части и явл.етГИ мо,. /1 ОР 0: , 1 Крас 0 . РазнУю диа 1 эрагму вхэд:. и выход; 21.:-ЭВ изВестном спектООметре скаля.вГ.1,", осуществляется за с",ет ВОЗИ;эатн 0-псс 1,.дательного дв .жения д 1.йрв.:.;101:.О.: э эы.е:К 1:и ОдновремечнОГО разворота зеркал с ИО- ,мощью кулачков сложного проф 111 ы, з,и 1 ре;: - .пенных на каретке с д 11 фра 11 пи 011 ной решет 0; .тыва,огся ролики".П.1 и спо,.1 ссть вогнутого профиля куЭ, 0,1,ЕН 11 Х.Э. ЧВГ1-: - ;СТ 1 ЭОИКИ ОПТ 1 ЧЕСКОД СХЕМЫ.: 1 ИО:,.т 110;эт,.: системы сканировани.г.Недь 11 зоб 1 эетечия =-. повыс:1 ть- ;. .;Э.а.Л ОИТИЧЕСКОИ СХЕМЫ.Г ля я, 010 в л зь ес тном Бнтерференпс: атаке;1,1 д 1111 и 11 между ос"Одьное зер 11 а 110 может быть Выполнен:,.10 ронн 111 и .: Под" 1 эрозрачным,ц На чертеже 1 оказана схема пре "даг.П 111 РО1Оптичес:.;"я часть спектрометра посПО схо: е .регочьника с обратно-кэы.; ход 1 э 1,: -.учи. й 1 а содержит дифрГ 1-.у 10 ре 11:.Зткусв, тодедитель 1, плоскала 2 и 3, крестообрвэцую диафрвгму 4 вхо-, да-выхода, блок фоторегистрации 5 и карет- ку 6. На каретке 6 усты,овлены решетка 1 кулачок клиновидного профиля, выполненный из двух симметричных деталей 7 и 8, и ро пики 9 и 10, соединенные рычвгвми 11 и 12 соответственно с зерквлвми 2 и 3. Пере- мещение каретки 6 осуществляется по направляющим 13 с помощью привода 14.Нв этой же каретке, перпендикулярно к О плоскости дифрвкционной решетки, нв пинии между осями вращения зеркал 2 и 3, расположено дополнительное ппоское эерквло 15, которое может быть выполнено квк с двусторонним, твк и с попупроэрвч- Й9ным покрытием.Радиация от источника 16, пройдя объек-, тив 17, падает пв зеркальную диафрагму 4, стоую В фокусе Об ективв1 Я дифрвгирует нв дпф;ыы.с и 1 .,.-,.Отке . асТЬ иэлуче. - .29пия пде. па: ркапо 2 а другая часть нв ЗЕРКапоОтрвжл,ое От эерквда 3 излучение идет Бв зерквпо 2 в звтем нв дпфрвкционнчо решетку 1. Т чвсть излучения которая ЗВ нвпрявл:;атон т ци.;.рвкипоннои решетки нв зер кап;. ., ;,; д 1 н Обр втио м направлении; к зерну ", и также нв дифрвкционную решетку 1. Лучи, прошедшие через оптическую схему интерферометрв при встрече нв дифф 0 рвкционно 1 рс:.шетке 1 нтерферируют и прОЙдя че.:.:а,:аркачьнуО диафрагму 4, попвдсиот ив Ц(.топрпемник 1 9 ОснОВБОЙ сисщ темы бпокп фоторегистрвции 5.При испопьэоввнип дополнительного зер- фф квлв 15 с двустороннимпокрытием Оно вводится в ход лучей так что перекрывает лишь часть пучкв. Тогда одна часть излу-, чения проходит через прибор по обратно- круговой схеме как описано), а другвя 40 часть излучения, отраженная.от зеркал 2,. и 3, падает на зеркало 15 по нормали с двух сторон. Отразившись, эти лучи воз- врвшвются нв зеркала 2 и 3 и идут обратно нв дифракционную решетку 1, затем че рез диафрагму 4 попадвют на полупрозрачное зеркало 20, которое направляет это излучение на фотоприемник 21 контрольной системы.В случае , выполнения допопнитепьного зеркала 15 полупрозрачным оно уствнввпива ется твк, что можетперекрывать весь пучок лучей полностью. В этом случае, часть из-пучения проходит через зеркало 15 по об-, м ратно-круговой схеме и попадает нв прием-ник 19 основной системы, а другая часть изпучения, отраженная от зерквлв 15, прой-,дя через оптическую схему интерферометрв,попвдвет нв приемник 21 контрольной сис-темы.В обоих случаях сигнвлы контрольной иосновной систем сравниваются.При регистрвции в ИК-области спектрапо основной системе, контрольная системаможет регистрироввть спектр квпибровочного источникв и выдавать метки длин волныдля основной системы,В случае наличия ошибок в угле между,нормвлями к эер. тпвм 2, 3 и рвчагвми 1112 пучки лучей попадают на зеркало 15 непо нормвли, а отразившись От него, попвдают нв эерквпв 2, 3 и на дифракционнуюрешетку 1 под углом, равным учетвереннойошибке. Так квк угол падения на дифрвкци-Онную решетку меняется, то сигнал, получениый От контрольной системы в этом слу .чае, Отличяется-От сигнале лри правильнойнастройке.Ошибка устраняется путем поворота зеркал 2 и 3 относительно рычагов 11 и 12.В процессе сканирования зеркало 15, закрепленное нв каретке 6, перемещается стро-,го перпендикулярно к плоскости дифрвкционной решетки 1 и параллельно линии сим-метрии кулачка,Формула изобретения 1. Интерференционный спектрометр, содержащий плоскую дифрвкционную решеткусветоделитеаь, двв плоских зеркала, снабженных средствами поворота, одно иэ кото-, рых рвэдепено пополам, и крестообразную диафрагму входа и выхода,о т и и ч в ющ и й с я, тем, что, с цепью повышения чувствитепьности настройки оптической схе-, мы, на линии между осями поворота зеркал, строго. перпендикулярно, к плоскости дифрвк- ционной решетки установлены дополнительное зеркало и кулачок, снабженные средствами перемещения.2, Спектрометр по и. 1, о т и и ч аю ш и й с я тем, что дополнительно зеркало выполнено двусторонним.3, Спектрометр по и. 1, о т и и ч аю ш и й с я тем, что дополнительное зеркало выполнено полупрозрачным. Источники информации, принятые вовнимание при экспертизе:1, Физические проблемы спектроскопии, Т, 2, МИэд, АН СССР, 1963, с. 66.2. Киселев Б, А, и др. Новые приборы интерференционной спектроскопии, Труды ГОИ. Т, 34, вып, 163, 1966, с. 3-16, 525887Составитель А, МедведевО, Стенина ТехредИ. Ковач Корректор Н, Бабур Реда филиал ППП Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4 Заказ 5140/480 11 НИИПИ Гос 113035, Подписное митета Совета Министров ССС ретений и открытий Раушская наб д,4/5