Устройство для исследования электропроводности высокоомных материалов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
О П И С А Н И Е 1 д 2411 еИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советскик Социалистических Республик(51) М Кл Л 27/02 й 3/04 м заявкиб рисоедине Государственный комет Совета Министров ССС оо делам изобретений н открытий) Заявитель Вс гельприро ый научно-исслед инсти 1н ТРОЙСТВО ДЛЯ ИССЛЕДО ВЫСОКООМ НЫНИЯ ЭЛЕКТРОПРОВОДНОСТИМАТЕРИАЛОВовыеР- жимаппяются в этой того, изоляц т- ся кам Устройство предназначено для исследо-,вания. электрических свойств диэлектрикови высокоомных полупроводников в широкомтемпературном диапазоне и может бытьиспользовано для исследований в физикетвердого тела, электронной технике,радиоэлектронике и электротехнике,Известна конструкция ячейки, позволя,ющая проводить измерения в широком дноапазоне температур (до 700 С) и при больших (ф 1 кв) напряжениях на исследуемом,образце 111 . В этой ячейке образцы располагаются на установленной горизонтальноплатиновой пластине, служащей одним из,электродов. Другие электроды - платинпроволоки в трубках из плавленного кваца - располагаются вергикапьно и приются к образцам под действием собственного веса.Однако образцы эакреячейке нежестко и кроме ия элекгродов недостаточная.Наиболее близкой к предлагаемому ройству по техническому решению я конструкция ячейки 21, состоящая онструкторсоЖщйел 1 тгиФМцщАлмазов и инструмейта.ры с нагревателем, в которой исследуемййобразец находится в контролируемой атмосферре,или вакууме; и держателя образца, вы- ,/полненного в виде двух платиновых прово 5 пок. Верхний конец одной проволоки (обе;,провойоки также выполняют функции токопповодяаих измерительных Гэпектродов) хорошо изолирован путем закрепления в центресапфирового полированного диска, являющего 10 ся проходным изолятором вакуумного электрода. Другой измерительный электрод выведен из ячейки через боковую поверхность спомощью обычного 1 спая металл-.стекло .Однако нежесткое закрепление образца15 снижаег верхний предел измеряемых сопротивлений, а ,ненадежная изоляция одного из- мерительного электрода при повышенныхтемпературах сужает диапазон возможныхизмерений и затрудняет оценки проводимости20 высокоомных материалов с неэаземленнымисточником тока,Цепью изобретения является повышение,точности и расширение диапазона измеренийэлектрических параметров материалов,25, Указанная цель достигается гем, что вПодписноекомитета Совега Министров ССизобретений и открытий35, Раушская наб., д. 4/5 раж 1029 рственного ло делам Москва, Ж 1303 илиал ППП Патентф ород, ул. Проекгна
СмотретьЗаявка
2063401, 14.10.1974
ВСЕСОЮЗНЫЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ И КОНСТРУКТОРСКО ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ ПРИРОДНЫХ АЛМАЗОВ И ИНСТРУМЕНТА
МЕЙЛЬМАН МИХАИЛ ЛЕОНИДОВИЧ, ГРИНБЕРГ ВЕРА РУВИМОВНА
МПК / Метки
МПК: G01N 27/02
Метки: высокоомных, исследования, электропроводности
Опубликовано: 05.08.1976
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-524118-ustrojjstvo-dlya-issledovaniya-ehlektroprovodnosti-vysokoomnykh-materialov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для исследования электропроводности высокоомных материалов</a>
Предыдущий патент: Устройство для измерения физико-химических параметров сред по теплопроводности
Следующий патент: Способ количественного определения молибдена
Случайный патент: Катодолюминесцентный многосегментный индикатор