Электронный дефектоскоп

ЯО П И С А НИ Е 506151ИЗОБРЕТЕНИЯ Сово Советских Социалистических Республик(22) Заявлено 05.0 к авт. свид-ву - 4 (21) 2013029/2 51) М,Кл.а Н 05 11/ООб 01 М 23/16 присоединением заяв Государственныи комитет Совета Министров СССР по делам изобретений риоритет(71) Заявцтел Научно-исследовательский институт электронной оскопии при Томском ордена Октябрьской Револю и ордена Трудового Красного Знамени политехническом институте им. С. М. Кироваи ЭЛЕКТРОННЫЙ ДЕФЕ КО Изобретение относится с неразрушающего контроля лов и изделий.Известно устройство для фектоскопи и, содержа цее и цов (бетатрон) и детекторь к схеме сравнения, выход ко регистрируюцим прибором. не позволяет,коцтролировят номерные по толщине. те бо, устроиствам дл качества материа электронцоц десточник электроподключенные торой соединен сЭто устройство ь изделия, цепав Известно, что максимальная чузствтельность контроля электронным пучком достигается при таком соотношении энергии электронов зондирующего пучка и толцццы кон тролируемого изделия, когда толщина изделия близка к экстраполированному пробегу электронов в нем. При этом выодной сигнал дефектоскопа сильно зависит от массовой толщины изделия. Эта зависимость является 20 основой высокой чувствительности метода электронной дефектоскопци и в то же время она це позволяет с помощью:звестных устройств контролировать изделия переменной толщины, так как увеличение толцицы более 25 чем ца 10% приводит практически х полному исчезновению полезного сигнала детектора. При уменьшении толщины изделия дефектоскоп работает с худшец чувствительностью, возможна даже прц насыщении сигналя де- зо ктора полная потеря чувствительности црцра к дефектам изделия.Целью изобретения является контрол качества переменных по толщине изделий. Поставленная цель достигается благодаря тому, что устройство снабжено пороговой схемоц сравнения, интегратором и регуляторами разы вывода ускоренных электронов и анодного напряжения. Выход одного из детекторов соединен последовательно с пороговой схемой и интегратором, выход которого соединен с регулятором фазы вывода ускоренных электронов и с регулятором анодцого напряжения.Ня чертеже показана схема предложенного дефектоскопа. Контролируемое изделие 1 располагается между источником моцоэцергетцческих электронов (бетатроном) 2 ц детекторами 3. Выход одного цз детекторов соедцен с пороговой схемой сравнения 4, которая подлючеця к интегратору 5. Выход цч тегратора соединен с регулятором фазы вывода ускоренных электронов 6 и с регуляторами 7, 8 анодного напряжения схем смешения 9 и вывода 10, обеспечивающих вывод электронов из камеры бетатрона. Сигнал о наличии дефекта в контролируемом изделии регистрирует показывающий прибор 11, который соедцен с выходом схемы срав:е;я 12, подключенной к датчикам 8.Электро;ный дефектоскоп работает следующим образом. В начальный момент времени изделие 1 с плавно изменяющейся толщиной установлено в исходном положении так, чтобы толщина изделия на контролируемом участке была приблизительно равна экстраполированному пробегу электронов с энергией, соответствующей начальному моменту раооты бетатрона 2. Кроме того, соотношение величины сигнала детектора 3 и уровня порога схемы сравнения 4 выорано таким, что в начальный момент времени сигнал ца выходе схемы сравнения отсутствует. При движении изделия перпендикулярно направлению зондирующего пучка электрочоз равенство сигнала детектора 3 и уровня порога схемы сравнения нарушается. Допустим, изделие установлено и движется так, что пучок электронов в каждый последующий момент времени проходит участки изделия с большеи толщиной, При этом сигнал детектора дефектоскопа уменьшается, и ца выходе схемы сравнения 4 появляются результирующие сигналы, которые суммируются интегратором 5. Суммарный сигнал с выхода интегратора, поданный на регулятор фазы вывода 6 и регуляторы анодного напряжения высоковольтных схем 7, 8, воздействует на фазу вывода электронов и величину анодных напряжений таким образом, что при уменьшении сигнала детектора (при увеличении толщины контролируемого изделия) увеличивается фаза вывода электронов и анодное напряжение высоковольтных схем 9, 10, а в согтветствии с ними и энергия выведенного иччка электронов.Если изделие перемещать так, чтобы контролируемая толщина постепенно уменьшалась, то полярность сигнала на выходе схемы сравнения 4 изменится и в результате энергия выведенного электронного пучка начнет уменьшаться. В цело режим раооты в каждом конкретном случае подобран так, что в процессе,контроля между энергией электронов и толщиной изделия на участке, через который электроны проходят в данный момент, существует однозначное соответствие, выражающееся в том, что толщина изделия на контролируемом участке равна экстраполированному пробегу падающих на него электронов.Такое соотношение обеспечивает постоянный уровень сигналов детекторов 3 за изменяю щейся при движении изделия толщиной. Г 1 оскольку детекторы 3 дефектоскопа подключены к схеме сравнения 12, то изменение сигналов в области некоторой средней величины, обусловленное медленным изменением тол шины, ие приводит к появлению оигнала навыходе схемы сравнения 12. Другими словами, предложенное устройство исключает возможность принять сигнал о медлециом изменении толщины за сигнал о дефекте.15 С другой стороны, устройство выполненотак, что время,принятия устройством решения о качестве изделия иа данном участке во много раз меньше времени принятия решения об изменении энергии, Таким соотношением 20 исключается пропуск дефекта детектором,подключенным к схеме сравнения 4, когда дефект появляется в его поле зрения.Если в поле зрения одного из детекторовпоявляется дефект, то в зависимости от ха рактера дефекта сигнал детектора возрастаетили уменьшается, что приводит к возникновению соответствующего сигнала на выходе схемы сравнения 12. Сигнал о наличии дефекта регистрируется прибором 11.30Формула изобретения Электронный дефектоскоп, содержащийисточник моноэиергетцческих электронов З 5 бетатрон, детекторы, подключенные к схемесравнения, выход которой соединен с регистрирующим прибором, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью контроля качества переменных по толщине изделий, устройство снабже но пороговой схемой сравнения, интегратороми регуляторами фазы вывода ускоренных электроноз и анодного напряжения, причем выход одного из детекторов соединен последовательно с пороговой схемой и интеграто ром, выход которого соединен с,регуляторомфазы вывода ускоренных электронов и с регулятором анодного напряжения.5 О 6151- 7 1-4,у 1 - ГКорректор И. Симкин овская Тираж 1029овета Министровоткрытийаб., д, 4/5 Тпп. Хар Редактор Т Заказ 701/897ЦНИИ оставптель Т. Дозоро Текред В, Рыбакова Изд. М 306Государственногопо делам изоМосква, )К.35,комитета ретенийРаушская ил. пред. Патент ПодписноеСР