Устройство для генерирования в атмосфере пучка заряженных частиц

Номер патента: 950169

Опубликовано: 15.12.1986

Авторы: Абрамян, Короткий, Кулешов, Курков, Стародубцев, Яковлев

МПК: H05H 5/02, H05H 7/00

Метки: выпуска, газовый, заряженных, объем, пучка, ускорителя, частиц

...усилиямогут быть значительно (на 30-907.) снижены без разгерметизации клапана во время работы.Такое выполнение устройства позволяет в десятки и сотни раз умень" 1 О шить истирание скользящего вакуумного уплотнения при высокой надежности и скорости срабатывания клапана, достигающей долей миллисекунды и при помощи сравнительно простой кон струкции устройства выпускать в газовый объем мощные пучки электронав миллисекундного диапазона с энергией порядка сотен кзВ при концентрации энергии более 100 .кВт/мм . Следует отметить;.,что предложенное устройство может быть также использовано при выпуске из вакуумного объема ьмпульсных пучков иных заряженных частиц (позитроновр иОНОВ)и мощных пуч я 5 ков квантов лазерного излучения с...

Номер патента: 852148

Опубликовано: 07.03.1988

Авторы: Аброян, Сусаров, Токарев, Федотов

МПК: H05H 5/02

Метки: выпускное, окно, ускорителя, электронов

...вакуумплотно установленную на решетку, поверхности каналов выполнены наклонными.Пленка одного металла, нанесенная на поверхность другого, начиная с толщин, равных нескольким атомарным слоям, определяет его вторично-эмиссионные свойства. Пленка тяжелого металла с большим атомным номером (А 8, Бп У, РЪ), нанесенная на поверхность каналов медноопорной решетки, ведет к увеличению относительной доли наиболее быстрых неуп-,руго отраженных электронов, т.е. в спектре вторичных частиц увеличивается число частиц с энергией, близкой или равной энергии первичного пучка, пригодных для выводасквозь фольгу.в атмосферу.На фиг. 1 изображено выпускное окно ускорителя электронов; на фиг. 2 - элементы опорной решетки одного из конструктивных...

Номер патента: 1037786

Опубликовано: 28.02.1984

Авторы: Воробьев, Пак, Розум

МПК: G21K 1/08

Метки: высокой, зарядам, пучка, сепарации, частиц, энергии

...кристаллографическим осям (плоскостяма положительно заряженные частицыотбирают по направлению касательнойк выходящим на заднюю поверхностькристалла этих же кристаллографических осей (плоскостей),При падении пучка, состоящего изположительно, отрицательно заряженных и нейтральных частиц, на изогнутый монокристалл по касательной квыходящим на облучаемую поверхностьизогнутым кристаллографическим направлениям, происходит захват заряженных частиц в изогнутые плоскостныеили осевые каналы (эффект каналирования). Движение заряженных частиц приканалировании в зогнутом монокристалле осуществляется вдоль изогнутыхкристаллических направлений и в результате, пройдя по изогнутому подуге радиуса Нщканалу длиной 1отклоняется от первоначального...

Номер патента: 1525754

Опубликовано: 30.11.1989

Авторы: Викулов, Пищулин, Соловьев

МПК: G01T 1/29

Метки: заряженных, пучка, сгруппированного, средней, частиц, энергии

...и при обеспечении равенства их чувствитель костей 8 и Я приведенную скорость определяют из соотношения для интен-., сивностей оптического излучения на вывыходе модулятора бегущей волны Д 6 и насф 25 ы п 1 1где ы= 2 ГГ,частота следования сгустков частиц;угол ввода оптического излучения в модулятор бегущей волны;скорость света;показатель преломления электрооптического кристалла модулятора бегущей волны. выходе модулятора стоячеи волныГ юи 13 е 1зп ------ -)-ьс совр Злектрооптнческий модулятор 11 бегущей волны и электрооптический модулятор 7 стоячей волны выполнены в виде волноводных оптических каналов 16 на поверхности электрооптического . кристалла 17, обеспечивая верхннюграничную частоту полосы пропусканиямодулятора до 20 ГГц,...

Номер патента: 1679310

Опубликовано: 23.09.1991

Автор: Матюков

МПК: G01N 23/00

Метки: заряженных, облучения, образца, пучком, ускоренных, частиц

...ядро определяется синусоидальным законом сканирования, В общем случае это не всегда так, В качестве примера на фиг, 6 и 7 изображены некоторые временные зависимости, по которым также может быть осуществлено периодическое сканирование, Но уравнения типа (5) с ядром, определяемым этими функциями, не имеет решения, т.е.никакое изменение амплитуды не позволит 15 получить равномерное облучение образца,если сканирование осуществлять так, как на фиг, 6 и 7 (в частности, фиг. 7 соответствует использованию тиристорного регулятора без фильтра высших гармоник для изменения амплитуды сканирования на низких частотах),Таким образом, при медленном изменении амплитуды синусоидального сканирования от нуля до Т в соответствии с выражением (7) получают...