Способ определения терморельефа электронных
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
О П И С А Н И Е 390528ИЗ 0 ЬЕЕТ ЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических РеспубликЗависимое от авт. свидетельства-Заявлено 22,Ч.1971 ( 1651555/18-24)с присоединением заявкиПриоритет -Опубликовано 11 Ч.1973. Бюллетень3Дата опубликования описания 16,1.1974. М. Кл. б 06 15/46 Государственный комитет Совета Министров СССР па делам изобретений и открытий. П. Исаев, А. К. Лебедев и ф. Н. Окун Заявит СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТЕРМОРЕЛЬЕфА ЭЛСХЕМ ОННЪХ Изобретение относится к области автоматики и контрольно-измерительной техники и может быть применено для инфракрасного контроля электронных схем.Известен способ для определения терморельефа электронных схем путем сканирования их поверхности, заключающийся в регистрации инфракрасного излучения в рабочем и калибровочных режимах, сравнении рабочей и калибровочных теплограмм и опреде ленин распределения температуры по поверхности объекта.Однако недостаток этого способа заключается в том, что сравнение записанных рабочей и калибровочных теплограмм после ска нирования приводит к расходу большого количества материалов для записи (бумаги) и значительному временп на все операции контроля.Предлагасмый способ определения терморельефа отличается от известного тем, что .получаемые в процессе сканирования сигналы калибровочных теплограмм сравнивают с сигналом рабочей теплограммы, воспроизводимым с носителя информации одновременно со сканированием, и сигналы равенства ординат рабочей и калибровочных теплограмм используют для получения изотерм либо областей с заданной градацией по температуре.Это позволяет повысить оперативность ЗО контроля и точность определения терморельефа электронных схем.На фиг. 1 изображена блок-схема задания рабочего режима электрической нагрузки электронных схем; на фиг. 2 - блок-схема калибровочных режимов нагрева.Исследуемый объект 1 (см. фиг. 1), соединенный с источником питания 2, размещен на столе 3, который, в свою очередь, связан с блоком управления 4, Выход сканирующего ИК-микроскопа 5 соединен со входом регистрирующего устройства б, два других входа которого подключены к двум выходам блока управления 4 столом.Как видно по фиг. 1, первую операцию сканирования объекта 1 осуществляют с помощью стола 3, управляемого блоком управления 4. Источник питания 2 обеспечивает рабочий режим нагрева объекта с распределением температуры Тр (Х, 1).Блок управления 4 совместно со столом обеспечивают сканирование объекта по всей его поверхности.Уровень ИК-излучения рабочего режима нагрева объекта регистрируется устройством б.Одновременно в том же устройстве регистрируются текущие координаты Х(1) и У(т) сканирующего пятна, получаемые с помощью блока управления 4.390528 зле ;чанг ре По окончании процесса сканирования и регистрации в рабочем режиме записанную в устройстве-регистраторе б информацию воспроизводят и одновременно объект сканируют без регистрации, но уже в калибровочном режиме нагрева с помощью подогревательной печи 7 и блока задания 8, как .это показано на фиг. 2.Также одновременно и синхронно сопоставляют с помощью устроиства сравнения 9 уровни ИК-излучения рабочего режима регистратора б и калибровочного режима микроскопа 5 и регистрируют результат сравнения устройством 10.По окончании сканирования изменяют температуру калибровочного режима и повторяют сканирование, воспроизведение и сравнение с регистрацией результатов сравнения подобно тому, как это было описано выше.Каждой температуре калибровочного режима соответствует на регистраторе 10 изотерма Тр (Х, У), где Тр - температура нагрева подогревательпой печи 7.Температура, задаваемая блоком 8, может сыть зафиксирована и отмечена либо вручную оператором на изотерме, либо автоматически цветом или знаком.В качестве регистратора б может быть взят магнитофон с записью по одной или нескольким дорожкам. В случае однодорожечной записи сигнал ИК-уровня предварительноследует преобразовать по методу ЧМ-модуляции, а импульсы координат Х и У замещать. так, как это сделано в телевидении5 (полый телевизионный сигнал с синхрострочными и синхрокадровыми импульсами).В качестве устройства сравнения 9 можетбыть применен дифференциальный дискриминатор уровня, либо. цифровой реверсивный10 сумматор.Операцию регистрирования изотермы (регистратор 10) можно осуществить, к примеру, с помощью двухкоординатного цифровогосамописца, либо электроннолучевой трубки,15Предмет изобретенияСпособ определения терморельефа электронных схем путем сканирования их поверхности, регистрации инфракрасного излучения20 в рабочем и калибровочных режимах и фиксации распределения температуры по поверхности, отлича(ощийся тем, что, с целью увеличения скорости и точности контроля, получаемые в процессе сканирования сигналы25 калибровочных теплограмм сравнивают ссигналом рабочей теплограммы, воспроизводимым с носителя информации одновременносо сканированием, и формируют сигналы равенства рабочей и калибровочных тепло 30 грамм в виде изотерм,390528 Составитель Г. ЛебедевТехред Т. Курилко Корректор Т, Добровольская Редактор Б. Нанкина Типография, пр. Сапунова, 2 Заказ 3302710 Изд, М 1738 Тираж 647 Подписное Ц 11 ИИГ 1 И Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5
СмотретьЗаявка
1651555
Э. П. Исаев, А. К. Лебедев, Ф. Н. Окунев
МПК / Метки
МПК: G01R 31/308
Метки: терморельефа, электронных
Опубликовано: 01.01.1973
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-390528-sposob-opredeleniya-termorelefa-ehlektronnykh.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения терморельефа электронных</a>
Предыдущий патент: Вычислительное устройство
Следующий патент: В пт б
Случайный патент: Секция пневматической крепи