367427

367427 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Веспубпикс присоединением заяв Комитет по деламизобретений и открыти иоритет и Соеете Миниотро СССР681.5 Опубликовано 23197 Дата опубликования о 8.8 Бюллетень8исания 30.111.197 Авторыизобретен А. И. Ставицкий, А. И. Кундин, В, А. Любич, Г. В. ГерчиковаН. В. Киселев, В. Ф, Соломатин, В, Б, Баранов и В. А. СечкииСеверо-западный заочный политехнический институт 3 аявител НАЛИЗАТ НК Ий ПЛОТН РАС ПРЕДЕЛ ЕН ИЯ для я з ства ши- ункпредлага ое устрой ыиво, 30 Изобретение может быть использовано в вычислительной, измерительной технике и в аппаратуре специального назначения снятия функций плотности распределени а определенный промежуток времени. 5В известных анализаторах .подобного рода используют специальную электроннолучевую трубку, в которой в момент совпадения по величине пилообразного напряжения, подаваемого на одну пластину, и напряжения анали зируемого процвсса электронный луч попадает на проволоку, натянутую внутри трубки, и в выходной цепи трубки возникает сигнал. Накапливая этот сигннал за время ЬТ, получают величину, пропорциональную числу пересече ний напряжением заданного уровня.Однако известные анализаторы функций плотности распределения имеют сложную электронную схему из-за необходимости использования генератора пилообразного напря жения и осциллографической индикаторной трубки; кроме того, в них отсутствует регулировка ширины интервала амплитуд исследуемой функции.Цель изобретения - упрощение устрой 25 и обеспечение возможности регулировки рины интервала амплитуд исследуемой ф ции.Цель достигается тем, чтоем анализатор содержит масштабн ст подключенное к горизонтально отклоняющим пластинам электроннолучевой трубки (ЭЛТ), блок управления характеристикой, соединенный с регулируемыми (функциональными) пластинами ЭЛТ, п,интегратор, подключенный к анодам ЭЛТ,В предлагаемом анализаторе уменьшено количество аппаратуры, и в нелинейных системах опознавания она унифицирована, что весьма удобно при использовании анализатора в системах, где основные блоки выполнены на ЭЛТ типа политрон. Возможность регулировки ширины интервала амплитуд исследуемой функции достигается путем изменения характеристики преобразования политрона, что позволяет управлять процессом анализа ситнала.На фиг. 1 представлена блок-схема предлагаемого анализатора функций плотности распределения, на фиг. 2 - пространственно-временная диаграмма функции плотности распределения.Предлагаемый анализатор функций плотности распределения содержит ЭЛТ 1 типа политрон с регулируемой характеристикой, имеющую несколько пар функциональных пластин 2, 3, два анода 4 и б, одну пару горизонтально отклоняющих пластин б и 7. К горизонтально отклоняющим пластинам трубки подключено масштабное устройство 8. Блок9 управления характеристикой прсобразования, подключенный к функциональньгм пластинам ЭЛТ, позволяет изменять потенциалы на функциональных пластинах 2 и 3 и менять характеристику политрона. К анодам 4 и 5 подключен интегратор 10.Принцип действия предлагаемого устройства состоит в следуюп;ем.Исследуемый сигнал Х (1) после масштабирования в блоке 8 подается на горизонтально отклоняющие пластины 6 и 7 политрона, при этом электронный луч отклоняется в горизонтальной плоскости,пропорционально мгновенному значению сигнала Х , В каждый момент времени электронный луч находится под одной из функциональных пластин 2 и 3 поли- трона, и если на эти пластины с олока 9 управления характеристикой преобразования не подается никакого напряжения, т. е. если р (Х) = - О, то электронный луч не пересекает аноды 4 и 5 и выходной сигнал политропа равен нулю.Если приложить разность потенциалов только к одной ларе функциональных пластин, то характеристика ср (Х) (фиг. 2) имеет вид прямоугольного окна; при этом выходной сигнал ср, снимаемый с одного из анодов политрона, представляет сооой последовательность прямоугольных импульсов с одинаковой амплитудой, длительность которых, равна времени пребывания исследуемого сигнала:в -м амплитудном интервале, После интегрирования в блоке 10 (время интегрирования равно Т) на выходе устройства получается число тЙ, =р (Х; (1) й, пропорциональное вреомени нахождения исследуемого сигнала на -м амплитудном уровне. Прикладывая разность потенциалов к следующей ларе функциональных пластин политрона, получают натвыходе устройства число Й+=Х+ ) Й,о0 пропорциональное времени пребывания входного сигнала в (+1)-м интервале. Проделав п таких операций (п - число анализируемых интервалов исследуемого сигнала), можно,получить ряд чисел Й Йь Йз, "., Й, ,Йхарак теризующих время пребывания сигнала Х (1)в том или,ином амплитудном интервале и представляющих функцию плотности распределения процесса.Предмет изобретенияАнализатор функций алотности распределе ния, содержащий электроннолучевую трубкус регулируемой характеристикой, отгичаюи 1 ийся тем, что, с целью упрощения, он содержит масштабное устройство, подключенное к горизонтально отклоняющим, пластинам элект роннолучевой трубки, блок управления характеристикой, соединенный с регулируемыми пластинами электроннолучевой трубками, и,интегратор, подключенный к анодам электроннолучевой трубки.367427 Фог 1 едактор И. Орлова Заказ 602/10 Изд. М 1153 Тираж 647 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 пография, пр. Сапунова, 2 оставитель Э. Сечинахред Л. Грачева орректоры; Л. Бадылама и В. Жолудева