Селективный фазометр
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
21834 ОПИСАНИЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Сссетсккх Сонкалксткческкх Республик1 риорит Катлитет по делам изобретений и открытий ори Совете Министров СССРОпубликовано 17.Ч.1968. Бюллетен Дата опубликования описания 26.Ч 111,1968 Авторыизобретени В, А, Зверев, В. И, Морозов, Е. Ф, Орлов, И. С, Раков,, Е, Роговцев, С, Н. Рубцов, В, П, Хрулев и А, А. Петровский Научно-исследовательский радиофизический институт аявитель СЕЛЕКТИВНЫИ ФАЗОМЕТР 2 Входные блоки 1 и 2 щие в себя входной уси дулятор и усилитель мо непосредственной близо пов 3 и 4, Выходы их э вертикально-отклон яющ циалоскопов, а системь клонения обоих потенцг с выходом генератораОптическая система у следующих элементов: рагм б и 7, объективов решеток 10 и 11, образ и полупрозрачных зерка Элементы оптической системы расположенысимметрично относительно плоскости, проходящей между оптическими решетками 10 и 11, параллельной плоскости оптических решеток, 0 на одной оси, перпендикулярной эталону частоты и проходящей через его центр.На расстояниях, определяемых габаритамиэталона, по обе стороны его укреплены объективы 8 и 9. Диафрагмы б и 7 размещены в 5 фокусе объективов.Зеркало 12 установлено между диафрагмойб и объективом 8, а зеркало 13 - между диафрагмой 7 и объективом 9. Плоскости зеркал составляют с плоскостью эталона 0 угол 45. приведена блок-схема действия фазометра. представляет собо ческую систему,а чертежпринцип стройство ктромехан оясняю. оптикоИзвестны селективные фазометры, основанные на способе оптического перемножения изображения сигнала с периодической структурой перестраиваемого эталона частоты с последующим пространственным интегрированием и измерением разности фаз. В результате измерения с помощью этих устройств случаются ошибки, вызванные непараллельностью дифракционных решеток, служащих эталоном частоты.Предлагаемый фазометр совершеннее известных устройств тем, что в нем установлены два потенциалоскопа, две проекционные схемы и два фотоумножителя, расположенные один против другого симметрично относительно дифракционных решеток.По сравнению с известным устройством повышается точность измерения сдвига фаз спектральных компонент при условии, что в известном и предлагаемом приборах оптические решетки выставлены с одинаковой степенью параллельности, а встречные световые потоки направляются на фотоумножители через один и тот же участок оптических решеток,устройства, включаюлитель, генератор, мощности, размещены в сти от потенциалосколектрически связаны с ей системой потенгроизонтального отталоскопов соединены 5 линейной развертки. стройства состоит из двух точечных диаф и 9 двух оптических ующих эталон частотыл 12 и 13.Оптические решетки связаны с электродвигателем 14 посредством механизма 1 б.Фотоумножители 1 б и 17 размещены так, что на их катоды собираются световые пучки, направляемые зеркалами 13 и 12.Нагрузки фотоумножителей 1 б и 17 электрически связаны с фазометром 18. Питание электрических цепей устройства осуществляется блоком питания 19.Устройство работает следующим образом.Исследуемый сигнал (1) подается на вход блока 1, а сигнал (1) на вход блока 2, В блоках 1 и 2, сигналы усиливаются, модулируют сигналы несущей частоты, вырабатываемые генераторами, расположенными в блоках, и с выхода усилителей мощности подаются на вертикально-отклоняющие системы потенциалоскопов 3 и 4.На системы горизонтального отклонения подается линейно меняющееся во времени напряжение с генератора Б. Таким образом, исследуемые сигналы записываются на экранах потенциалоскопов 3 и 4 в виде световой полосы, ширина которой зависит от амплитуды сигнала в данный момент времени, а временная координата сигнала 1 переходит в пространственную координату х. Изображение сиг. нала, полученное на экране потенциалоскопа 3 проектируется объективом 8 на эталон частоты 10 и 11 параллельным световым пучком.Параллельность светового пучка обеспечивается тем, что в фокусе объектива 8 помещена точечная диафрагма б. Интенсивность светового пучка имеет пространственную модуляцию, определяемую записью сигнала ,(х).При прохождении светового пучка через эталон частоты происходит перемнокение его интенсивности с прозрачностью эталона частоты,Прозрачность эталона частоты, созданную двумя параллельно расположенными оптическими решетками, штрихи которых расположены под некоторым углом, меняется по синусоидальному закону по оси х и остается по. стоянной по оси у, Период синусоидальной структуры определяется периодом решеток и углом поворота штрихов одной решетки поотношению к другой,С помощью электродвигателя 14 и механизма 1 Б, задающего закон перемещения реше 5 ток, производится изменение волнового числаэталона частоты от К=О до К=К,Для этого решетки совершают качания наугол + вокруг нулевого положения. Крометого, совершается возвратно-поступательное10 перемещение решеток, что вызывает линейноеизменение со временем фазы эталона.Световой пучок, прошедший эталон, собирается обьективом 9, и полупрозрачным зеркалом 13 направляется на катод фотоумножи 15 теля 1 б. Обработка сигналааналогичнаобработке сигнала ,(1). Изображение сигнала Гг - а(х), полученное на экране потенциалоскопа 4, проектируется на эталон частоты 11 и 10 объективом 9, в фокусе которого20 помещена диафрагма 7, Световой пучок, прошедший эталон частоты, собирается объективом 8 и полупрозрачным зеркалом 12 направляется на катод фотоумножителя 17.Выходные сигналы с фотоумножителей по 25 ступают на вход фазометра 18.Предмет изобретенияСелективный фазометр для определениясдвига фаз спектральных составляющих двух 30 сигналов, основанный на способе оптическойобработки сигналов, содержащий входные блоки записи сигналов на потенциалоскопы, потенциалоскопы, проекционную систему, две скрещенные вращающиеся оптические решет ки, общие для обоих сигналов, фотоумножители, полупрозрачные зеркала, в каждом из двух каналов и фазометр на выходе фотоумножителей, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения сдвига фаз 40 спектральных компонент сигналов, потенциалоскопы, проекционные системы и фотоумножители расположены один против другого симметрично относительно оптических решеток, в результате чего встречные световые потоки направляются на фотоумножители через один и тот же участок оптических решеток.Заказ 2362/13 Тираж 530ЦИИИГ 1 И Комитета но делам изобретений и открытийМосква, Центр, пр. Серова, дТипография, пр. Сапунова, 2 Подпнсно1 Совете Министров ССС
СмотретьЗаявка
1030905
В. А. Зверев, В. И. Морозов, Е. Ф. Орлов, И. С. Раков, К. Е. Роговцев, С. Н. Рубцов, В. П. Хрулев, А. А. Петровский, Научно исследовательский радиофизический институт
МПК / Метки
МПК: G01R 25/00
Метки: селективный, фазометр
Опубликовано: 01.01.1968
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-218341-selektivnyjj-fazometr.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Селективный фазометр</a>
Предыдущий патент: Многоканальный разделительный фильтр
Следующий патент: Привод давления
Случайный патент: Устройство для монтажа колпачка на вентиль автокамеры