Поляризационное измерительное устройство

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Саветскик Социалистическил Республик(К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Гс Зависимое от авт. свидетельствал, 42 н 14101105004/ Заявлено ОЗ.Х.196 с присоединением заяв МПК 6 020 риоритетпубликовано 19,11.1968. БюллетеньКомитет по делам изобретеиий и открытий при Совете Министров СССРДК 535,822,6:535.82 ,39 (088.8) Дата опубликования описания 1 Авторизобретен Н. В. Короле Заявит ОЛЯРИ НОЕ ИЗМЕРИТЕ Е УСТРОЙСТВО я лучеи на пополяризации0 определяетерхность и они у.11 по Береку ристаллическоорого устанавнии 00, слумежду вектоветовой волне. ризации послекомпонента ми ю поляроида 1Известные измерительные устройства, содержащие измерительное приспособление и осветитель, не позволяют диагностировать микрозерна на основе поляризационных измерений по Друде.Предложенное устройство отличается от известных тем, что в плоскость апертурной диафрагмы его осветительной системы с призмой Наше установлено смещенное с оптической оси круглое отверстие, через которое каждая точка шлифа освещается плоскополяризованным пучком лучей со средним углом падения, соответствующим углу Брюстера для кварца. Это отличие позволяет диагностировать микрозерна на основе поляризационных измерений по Друде.На фиг. 1 показана принципиальная оптическая схема описываемого устройства; фиг. 2 поясняет принцип освещения и измерения оптических характеристик по методу Друде.Устройство содержит источник 1 излучения, коллектор 2, непрозрачную пластинку с отверстием 3, линзу 4, поляризатор 5, диафрагму б, линзу 7, призму 8 Наше, объектив 9, поверхность объекта 10 и измерительное приспособление, состоящее из компенсатора 11, поляриода-анализатора 12, линзы 18, зеркал 14, 15, объектива 1 б, окуляра 17, дифракционной решетки 18, зеркала 19, щели 20, диска 21 и фотоумножителя 22,В точку 0 зрачка (см, фиг. 2) через линзы4 и 7 и призму 8 Наше отображается центр небольшого круглого отверстия 3. Освещаемое лампой 1 через коллектор 2 отверстие 8 рас полагается так, чтобы изображение его центра вблизи от края зрачка, а направление на него из центра зрачка составляло угол 45 с ребром призмы 8 Наше. Полярпод-поляризатор б ориентируется так, чтобы направление 0 колебаний светового вектора было параллельно ребру ВС призмы.В падающей световой волне компонентысветового вектора Е, и Ер будут иметь велиючины Е, - Ер -- , так как линия 00 являет 2 ся проекцией плоскости падени верхность А шлифа, Состояние света после отражения в точке ся углом падения лучей на пов тическими свойствами зерна. АКальцитовый комп енса тор(возможно компенсатор из к го кварца), ось вращения кот ливается перпендикулярно к л жит для измерения сдвига фаз рами Е; и Е в отраженной с Азимут восстановленной поля устранения сдвига фаз между 0 может быть измерен с помощь3анализатора 12, связанного с измерительным лимбом. Изображение поверхности объекта 10, пройдя объектив 9, тубусной линзой 18 и зеркалом 14 проектируется на алюминированную поверхность вогнутого зеркала 15. Здесь оно может рассматриваться через зрительную трубу, состоящую из ахроматического объектива 1 б и окуляра 17.При измерении наблюдатель, смотрящий в окуляр 17, должен последовательными наклонами пластины компенсатора 11 и поворотом анализатора 12 погасить интересующую структуру, Отсчеты по шкале компенсатора и лимбу анализатора при погашенной структуре будут определенными характеристиками, связанными с ее оптическими свойствами.Исследователь стремится погасить изображение структуры, наблюдаемой через окулятор 17, при освещении ее полным светом источника, Из-за дисперсии оптических свойств п(Х) и (л) эта операция не всегда удается, Изображение после выполнения компенсирующих перемещений компенсатора Берека и анализатора может оказаться раскрашенным.Для измерения оптических характеристик по спектру в алюминированном зеркале 15 делается небольшое прозрачное отверстие, на которое при наблюдении в окуляр может быть приведено изображение подлежащей изучению структуры. Свет через отверстие в зеркале 15 попадает в систему монохроматора, состоящую из плоской дифракционной решетки 18, вогнутого зеркала 19 и выходной щели 20. Через выходную щель 20 вращением решетки 18 можно пропустить тот или иной участок видимого спектра от 360 до 720 илг.За выходной щелью 20 устанавливается модулирующий диск 21, посредством которого на катод фотоумножителя 22 подается модулированный световой поток из монохроматора. Электрический сигнал с фотоумножителя усиливается, детектируется и подается на измерительный прибор.Задача исследователя состоит в том, чтобы для выбранного участка спектра привести отсчет измерительного прибора к минимуму, действуя механизмами компенсатора и анали 2118244затора. В случае анизотропных веществ получаемые на приборе характеристики микрозерен - сдвиг фаз и азимут восстановленной поляризации - будут зависеть от ориентации5 поверхности шлифа относительно кристаллографических осей зерна и ориентации последних относительно плоскости падения лучей на поверхность. Для таких анизотропных зерен измерения должны выполняться при поворо тах столика микроскопа на различные углы.Поворачивая столик вокруг оси, перпендикулярной к поверхности шлифа, исследователь должен найти для выбранного участка спектра15Р Раах а аах Гта ф гп 1 п фн ;где ср - азимут восстановленной поляризации,6 - сдвиг фаз.Положение изображения относительно от верстия 8 в зрачке микроскопа удобно выверять с помощью шлифа из полированного аморфного кварца. Центр изображения отверстия 8 предлагается устанавливать так, чтобы средний угол падения освещающих лучей был 25 равен углу Брюстера для аморфного кварца.Для и= 1,46 угол Брюстераф = агс 1 д и агс 1 д 1,46=5530.При установке на столике шлифа из аморфного кварца нужно смещением отверстия 8 в 30 направлении, перпендикулярном,к оси осветительной системы, найти такое его положение, при котором азимут восстановленной поляризации равен 46 при б - О.35Предмет изобретенияПоляризационное измерительное устройство,содержащее измерительное приспособление и осветитель, отличающееся тем, что, с целью диагностики микрозерен на основе поляриза ционных измерений по Друде, в плоскостьапертурной диафрагмы осветительной системы с призмой Наше установлено смещенное с оптической оси круглое отверстие, через которое каждая точка шлифа освещается плоскопо ляризованным пучком лучей со средним углом падения, соответствующим углу Брюстера для кварца.Заказ 894/8 Тираж 830ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий приМосква, Центр, пр. Серова, д, 4 ипография, пр. Сапунов ставитель В, Ф. ВанториТехред Л, К. Малова Подписноевете Министров СССР