Тестопригодное логическое устройство

СОЮЗ СОВЕТСКИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСКИ 765817 ЕСПУБЛИК)5 6 06 Р 7 УОО, 1 ЙЕ ИЗО я к области выжет быть использом ОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМРИ ГКНТ СССР К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(71) Киевское производственное объединие "Электронмашн(56) Авторское свидетельство СССРМ 1672453, кл. 6 06 Р 11/ОО, 1988,(54) ТЕСТОПРИГОДНОЕ ЛОГИЧЕСКОЕ УТРОИСТВО(56) Изобретение относитсчислительной техники и мо Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано для построения легкотестируемой цифровой аппаратуры.Цель изобретения - упрощение тестирования относительно константных отказов о =О".На чертеже показана структура тестопригодного логического ус 1.ройства.Устройство содержит группы элементов1-3, группы элементов ИЛИ 4,5, диагностические входы 6,7 группы информационно-диагностических входов 8,9, выходы 10,11, группу элементов НЕ 14, распределитель токов 15 с входом 16.Путем разрушения перемычек на входах элементов И первой 1 и второй 2 групп, на группах входов элементов И группы 3, а также на группе выходов 11 устройство может настраиваться на реализацию произвольного конечного автомата,Устройство тестируется следующим обзовано для построения легкотестируемой цифровой аппаратуры. Цель изобретения - упрощение тестирования логического устройствз относительно константных отказов, вызывающих ошибки "0 вместо 1" выходных сигналов устройства, Устройство содержит две группы по й элементов И, группу из И+1 элементов И, две группы по й элементов ИЛИ, два диагностических входа, три группы информационнс-диагностических входов, два диагностических выхода группы информационных выходов,рупг у элементов НЕ, распределитель токов. 1 ил,В таблице представлены изменения сигналов на входах и выходах исправного устройства в процессе тестиоования. БПодтактом понимается произвольный промежуток времени, характеризующийся отсутствием переходных процессов в устройстве.В течение интервала 1 на вход 9 подается перепад О 1, а на остальные входы - Л постоянные сигналы, которые в случае исп- ОО равности устройства обеспечивают прохож- - ф дение перепада на выход 10 по пути, проходящем через выходы и первые входы элементов гт группы 3 н элементов ИЛИ )Э группы 4.В течение интервала 2 на вход 9 подается двойной перепад 1 О 1, а на остальные входы - постоянные сигналы, которые в случае исправности устройства обеспечивают прохожденле перепада на выход 11 по пути, проходящем через выходы и вторые входы элементов И третьей группы 3, а также черезвыходы и первые входы элементов ИЛИ второй группы 5.Если устройство имеет константные отказы "БО", то указанные перепады не проходят на выходы 11 и 10 не только по указанным, но и ни по каким другим путям,При подаче потенциальной единицы на вход 16 распределитель 15 генерирует токи, которые вызывают формирование элементами 14 нулевых логических значений.В рабочем режиме на все входы питания устройства подается питание.В режиме тестирования устройства вход 16 заземляется, в результате элементы 14 формируют на своих выходах единичные логические значения, позволяющие тестировать устройство 1 в режиме, приведенном в таблице. При этом автоматически выявляются константные отказы распределителя 15 и элементов 14, способные вызвать ошибки "0 вместо 1" на входах 6 как в режиме тестирования, так и в рабочем режиме. Поскольку в устройстве вместо подачитестовых воздействий на входы 6 необходимо подача тестового воздействия на вход 16, оно тестируется проще, чем прототип, 5Ф ор мул а и зоб рете н и я Тестопригодное логическое устройствопо авт.св. М 1672453, о т л и ч а ю щ е е с я 10 тем, что, с целью упрощения тестированияотносительно константных отказов "0", оно содержит группу элементов НЕ, распределитель токов, причем каждый вход первой группы информационно-диагностических 15 входов устройства соединен через соответствующие элемент группы элементов НЕ с первыми группами входов элементов И первой и второй групп и с группами входов элементов И третьей группы, входы эле ментов группы элементов НЕ соединенысоответственно с группой выходов распределителя токов, вход питания которого соединен с шиной потенциальной единицы.1765817 рректор Е. Пап ственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101 Про Составитель В, Шияноедактор Т, Орловская Техред М,Моргентал Заказ 3385 Тираж ВНИИПИ Государственного комитета по изоб 113035, Москва, Ж, РауПодписноетениям и открытиям при ГКНТ СССР кая наб 4/5