Способ регистрации заряженных частиц

74634 ОЮЗ СОВЕТСКИХОЦИАЛИСТИЧЕСКЕСПУБЛИК 19) (1 6 01 Т 1/36 ТЕНИЯ йТлГХ. Х ВТ КОМ ИДЕТЕ В Зо 28 тр ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТПРИ ГКНТ СССР ОПИСАНИЕ И(71) Ленинградский электротехнический институт связи им. проф. М.А.Бонч-Бруевича(56) Авторское свидетельство СССРМ 1340371, кл. 6 01 Т 1/36, 1985.(54) СПОСОБ РЕГИСТРАЦИИ ЗАРЯЖЕННЫХ ЧАСТИЦ Изобретение относится к экспериментальной методике ядерной физики и физики твердого тела и является усовершенствованием изобретения по авт.св. М 1340371.Известен способ регистрации заряжен-ных частиц, при котором производят фоку-сировку и режекцию частиц путем воздействия на заряженные частицы электрическим полем фокусирующей и отклоняющей систем, для чего на отклоняющую систему подают постоянное и импульсное прямоугольное напряжение, величины которых удовлетворяют условиюОпОп 1, где Оп - величина постоянного, а Оп - величина импульсного напряжения, причем постоянное и импульсное напряжения противоположного знака, при этом период следования импульсов Тс выбирают из условия Тст, гдето - рабочее время регистрирующе-анализирующего тракта. В этом способе принципиально устранены наложения в спектрометрическом тракте, а разрешающее время Гр определяется по формуле(57) Изобретение относится к технической физике и является усовершенствованием способа по авт.св. М 1340371, Целью изобретения является повышение точности регистрации. Для этого после выполнения первого измерения изменяют разрешающее время и проводят повторную регистрацию частиц в течение того же времени регистрации, Величину отсчета определяют из.системы уравнений, куда подставляются полученные в ходе измерений значения.1 ил, а где Тф - длительность фронта импульса режекции; Яо - ширина щелевой диафрагмы; 8 - полное отклонение пучка на коллектореОднако в данном способе возможнав ошибка измерения, вызванная одновремен-4 ным приходом на детектор, вследствие ста- фь тистической флуктуации, двух или более . Ос, частиц в течение одного интервала разре- ( 1,) шающего времени, т.е. возможны наложе- р ния частиц,При относительно большой величине потока частиц и предельном времени разрешения укаэанные наложения могут привести к значительному искажению спектра. Использование электронных режекторов для исключения этих наложений в указанном способе принципиально невозможно. Известные вычислительные методы обработки искаженного спектра весьма сложны в применении и в данном способе регистрации неэффективны.Целью изобретения является увеличение точности регистрации.С этой целью в способе регистрации заряженных частиц по авт,св, М 1340371 производят первое измерение, а затем изменяют разрешающее время, так как особенностью основного изобретения является возможность изменения этого времени, далее проводят повторное измерение в течение того же времени регистрации и определяют значение отсчета в и-м окне спектра Япист из системы уравнений Яп = Зпн + пист(2) где Яп и Яп - отсчеты в и-м окне в первом и втором измерениях соответственно; Зпн - отсчет наложений; 1(Зпн, 3 пн) = О - уравнение, связывающее наложения в первом и втором измерениях при изменении временного разрешения.На чертеже приведен один из вариантов реализации способа.Устройство содержит, установленные на одной оптической оси источник заряженных частиц 1, фокусирующую систему 2, отклоняющую систему 3, щелевую диафрагму 4 и детектор 5 частиц, электрически связанный с анализатором б, источник 7 постоянного напряжения, соединенный с отклоняющей системой 3, и источник 8 постоянного напряжения и генератор 9 прямоугольных импульсов, соединенные с отклоняющей системой 3 через делитель 11 напряжения или непосредственно с помощью переключателя 10. Делитель 11 напряжения служит для уменьшения амплитуды импульсов в К раэ (переключатель 10 в положении, указанном на чертеже) и соответственно изменяет временное разрешение в К раз, Первое измерение производится в соответствии с основным способом, при этом переключатель 10 находится в верхнем положении и импульсы поступают на систему 3, минуя делитель 11. При повторном измерении переключатель 10 переводят в нижнее положение, тем самым подключая делитель 11.Возможны также варианты варьирования временного разрешения путем изменения фронта импульсов (например, используя Обострители) или же - для случая55 где Зп и Зп - отсчеты в и-м окне спектра в первом и втором измерениях соответственно;Зпн - отсчет наложений;1(Япн, Япн) - О - уравнение, связывающее наложения в первом и втором измерениях при изменении разрешающего времени. основного способа - изменяя длительность импульса режекции.В качестве пояснения рассмотрим наиболее распространенный случай пуассонов ского распределения частиц. Пусть временное разрешение изменяется в К раз, тогда имеем для второго окна спектра(Я 2 н,З 2 н) = Я 2 н КЯ 2 н = 0и окончательно 10 11+Ке З 2 ист 2(З 2+З 2 1 К (З 2 Я 2) (3) Из формулы (3) видно, что ошибка измерения д(Я 2 ист) в основном определяется ошибкой измерения коэффициента "Ки сг(К). При 15 этом относительную погрешность измерения величины "й" дК) = -- можноК сделать значительно меньшей в сравнении , (,р) ХТаким образом, способ позволяет получить большую точность измерений, как если бы истинное значение отсчета определялось из выраженияЯ 2 ист З 2 (1 Р тр) (4) где Р - величина потока частиц,Для. реализации варьирования времени разрешения с высокой точностью удобнее всего изменять величину Я в формуле (1), которая пропорциональна амплитуде импульса режекции.формула изо бр ете н и я СпОсоб регистрации заряженных частиц по авт.св. М 1340371, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения точности регистрации, изменяют разрешающее время, проводя повторную регистрацию частиц в течение того же времени регистрации и определяют значение отсчета в и-м окне 40 спектра Зпист из системы уравнений Ь Зпист + Зпн Яп = Зпрст + Зпн т ( ЗпнЗпн )1746340 Составитель В, ЗахаровТехред М.Моргентал Корректор С, Черниэктор Г. Ге оизводственно-издательский комбинат "Патент"., г. Ужгород, ул.Гагарина, 101 Заказ 2394 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СС 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5