Способ определения мест расположения дефектов в высоковольтной изоляционной покрышке

Номер патента: 1698849

Авторы: Вишневский, Грейсух, Севастьянов, Сыромятников

ZIP архив

Текст

(51) 5 31/ В 5 (54 ЛОЖЕ ИЗО (57 ных быт выс схема устагаемый ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЦТИПРИ ГКНТ СССР. 1(71) Научно-исследовательский, про:ектно-конструкторский и технологический институт высоковольтного аппаратостроения Ленинградского производственного объединения "Электроаппарат" (72) Ю.И, Вишневский И.А, Грейсух Б,Д. Сыромятников и В.Н. Севастьянов (53) 62 1.315.62(088.8)) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ИЕСТ РАСПОНИЯ ДЕФЕКТОВ В ВЫСОКОВОЛЬТНОЙЛЯЦИОННОЙ ПОКРЬШ 1 КЕ) Изобретение относится к технике неразрушающего контроля высоковольтиэоляционных покрышек и можеть использовано при производствеоковольтных изоляторов для электИзобретение относится к неразрушающему контролю высоковольтных изоляционных покрышек и может бить применено при производстве высоковольтных изоляторов для электрических аппаратов, в частности многослойных полимерных покрышек дугогасительных камер элегазовых выключателей.Цель изобретения - повышение точности определения мест расположения дефектов в высоковольтной изоляционной покрышке.На чертеже представленаройства, реализующего преппспособ,рических аппаратов, Целью изобретенияявляется повышение точности определения мест расположения дефектов .засчет повышения разрешающей способности и чувствительности при обнаружениидефекта и места его расположения. Целдостигается тем, что по способу, включающему одновременные испытания высоким напряжением изоляционной конструкции и измерение характеристик частичных разрядов в изоляции, на время испытаний во внутреннюю полость покрышки, заполненную электроизоляционнойсредой, вводят концентратор электрического поля, состоящий из двух некоронирующих электродов, имеющих потекциалы фланцев перемещают его вдольпродольной оси покрышки, измеряя характеристики частичных разрядов, ипо нжч судят о наличии, характер; ,1 и месте расположения дефекта,Устройство содержит объект испытания - изоляционную покрышку 1, состоящую из двух параллельно располо-.женных слоев изоляции, например, лав ф саноэпоксидного цилиндра 2 и ребристой кремнийорганической оболочки 3, между которыми расположен предполага емый дефект 4, причем с обеих концов фЭ покрышка 1 снабжена фланцами 5 и гер-. метизирующпми крышками 6. Внутри по аваев крышки 1 установлен концентратор 7 электрического поля, состоящий из некоронирующих электродов 8 и 9, закрепленных на стержнях 10 и 11. Стержень 11 подключен к источнику 12высокого напряжения, а стержень 10 -к измерительному устройству 13, состоящему из измерительного элемента14 измерительного кабеля 15 и измеУ5рительного прибора 16, Электроды 8и 9 соответственно через стержни 10и 11 электрически соединены с соответствующими Аланцами 5 покрышки 1.устройство работает следующим образом.Внутреннюю полость покрышки 1 заполняют электроизоляционцой средой, например элегазом и, приложив высокоеиспытательное напряжение к фланцам 5покрышки 1 и между электродами 8 и 9,последние перемещают вдоль продольной оси покрышки, Одновременно измеряют параметры частичных разрядов,например, значения кажущегося зарядаЧР, мощность ЧР и др.Некороцирующие электроды 8 и 9увеличивают напряженность электрического поля в теле покрьппки 1 в зонезазора между электродами 8 и 9, Зонаповьппецнои напряженности в теле покрьппки 1 перемещается вместе с перемещением электродов Я и 9 и вызываетзцкигацие частичных разрядов в дефек-,тах, попадающих в эту зону. Положение электродов в моменты максимумов30сйгцапа частичных разрядов определяет положения деАектов в теле покрышки 1. При этом, точность определениямест расположения дефектов по предлагаемому способу зависит от минималь но допустимого расстояния между электродами, ограниченного напряжениемзажигания короны на электродах ввыбранной изоляционной среде,Перемещение электродов может осуществляться дискретно с измерениемуровня частичных разрядов ца каждом шаге их перемещения. При непрерывномперемещении электродов запись зависимости уровня частичных разрядов отположения электродов, например, с.помощью ЗВМ, позволяет существенно по-,высить точность определения мест расположения депектов по максимумам этихзависимостей,Изобретение повышает точность определения мест депектов в изоляционной покрышке за счет повышения разрешающей способности и чувствительности,достигаемых в результате повьппениянапряженности электрического поля последовательно на всех участках изоляции изделия.Формул а из о бре те нияСпособ определения мест расположения депектов в высоковольтной изоляционной покрышке, заключающийсяв приложении к изоляции высокого испытательного напряжения и измерениив ней параметров частичных разрядов,о т л и ч а ю щ и й с я тем, что,с целью повышения точности определения мест расположения дефекта, вовнутреннюю полость покрьппки вводятдва цекоронирующих электрода с зазором между ними, каждый из которыхэлектрических соединен с вблизи расположенным сланцем высоковольтнойизоляционной покрышки, прикладываютвысокое испытательное напряжениек указанным Алаццам покрьппки, перемещают при этом укаэанные электродывдоль продольной оси высоковольтнойизоляционной покрышки и измеряют параметры частичных разрядов в изоляции и по их максимуму судят о местерасположения дефектов,Составитель Е, БерезовРедактор Н, Яитев Техред А.Кравчук Корректор М. Самборская Заказ 4395 ТиражВНИИПИ Государст изо м при ГКНТ СССР изводственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород Гагарина, 101 венного комитета по 113035, Москва, ЖПодписное бретениям и открытия аушская наб., д. 4/5

Смотреть

Заявка

4443328, 11.05.1988

НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ, ПРОЕКТНО-КОНСТРУКТОРСКИЙ И ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ ВЫСОКОВОЛЬТНОГО АППАРАТОСТРОЕНИЯ ЛЕНИНГРАДСКОГО ПРОИЗВОДСТВЕННОГО ОБЪЕДИНЕНИЯ "ЭЛЕКТРОАППАРАТ"

ВИШНЕВСКИЙ ЮРИЙ ИОСИФОВИЧ, ГРЕЙСУХ МИХАИЛ АЙЗИКОВИЧ, СЫРОМЯТНИКОВ БОРИС ДМИТРИЕВИЧ, СЕВАСТЬЯНОВ ВЛАДИМИР НИКОЛАЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01R 31/14

Метки: высоковольтной, дефектов, изоляционной, мест, покрышке, расположения

Опубликовано: 15.12.1991

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-1698849-sposob-opredeleniya-mest-raspolozheniya-defektov-v-vysokovoltnojj-izolyacionnojj-pokryshke.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения мест расположения дефектов в высоковольтной изоляционной покрышке</a>

Похожие патенты