Способ контроля состава материалов и веществ

) (1 ) 01 М 21 51) ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТПРИ ГКНТ СССР ПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН КА СКОМУ С ТЕЛЬСТВ 43 ственное объединв РЯ.В. сеутса тес) и ргпепт о ргагастсе, 1982 г пФгаге Ое. Рап 2 стса с 31%5, р Сусаев Э.С. Оптические онтроля влажности, - , 1986, с, 15-16, 22 - 28 СОСТАВА МАТ(54) СПОСОБ КОНТРО РИАЛОВ И ВЕЩЕСТ (57) Изобретение отн метрии и может быть мерении состава сы волокнистых материа ми приборами, Предл шает точность и осится к спектрофото использовано при из пучих, пористых ил лов фотометрически агаемый способ повь змерения состав На чертеже ния и наблюден Способ осущ разом,Исследуемы плоскость измер поверхность пла рассеивающего ческого стекл освещается пара тенсивности Фприведена схемя образца,ествляется следу осве о- оим оби- ьй образец 1 поме ения ОО, которо стины 2 из прозра материала, напри . Поверхность ллельным пучкома, падающим под щается на й служит чного немер оптиобразца лучей инуглом ак(56) Оау М.Я, Ееаггенестапсе аз ап апэОездп сп 1 о сечеопвтгигпептз, - ЕаЬ, Р439-443.Мухитдинов Мметоды устройстваМ,: Энергоатомизда Изобретение относится к спектрофот метрии и может быть использовано в приб рах, предназначенных для оценки соста сыпучих пористых или волокнистых матер алов и веществ, способных деформироват ся без разрушения,Целью изобретения является повышеие точности измерения состава материаов и веществ с хаотически неоднородной труктурой, способных деформироваться ез разрушения. материалов и веществ с хаотически неоднородной структурой, способных деформироваться без разрушения, Образец облучаютнаправленным пучком лучей, измеряют нааналитических длинах волн А 1, 12 уровни О 1.02 отраженного под углом /3 к поверхностиобразца излучения, а концентрацию С искомого компонента определяют по функциональной зависимости С = 1(О 1, О 2), установленнойв процессе градуировки. Отраженное излучение дополнительно измеряют под углом3 ФД на тех же длинах волн А 1 и А 2, пол 1ученные уровни излучения О 1, 02 соотносят с измеренными под у.ломф, проверяютвыполнение следующих условий:О 11 И 1=)+су, О 1 О 2/О 1 О 1 =р - Лр,гдег), Ь и, Ьр постоянные величины,определенные при градуироале, и е случае Суих выполнения и ризнают результат С = 1(О 1,Ог) достоверным, а в противном случае образец уплотняют до получения достоверного результата или признают дефектным, т.е.не соответствующим градуировочной зависимости. 1 ил,елеейОлотнения нормали о поверхностл образца, последовательно на аналитических длинах волн Ь иг. Отраженное излучение наблюдают фотоприемником 3, устанавливаемым под углами /3 или 8 к нормали и поверхности обоазца (или двумя фотоприемниками, установлен н ыми под этими углами). Пластина 4 служит для равномерного распределения силы Р, которой при необходимости воздействуют на образец для его уплотнения.Сигналы 01 и Ог с фотоприемника, полученные соответственно на длинах волн Л.1 иАг для угла наблюдения Р, и 01 и Ог" для угла /3 измеряются и проводятся вычисления по формулам(1) О 1 ОгВ Ог2)где ф, р-постоянные величины, определяемые при тех же условиях наблюдения и освещения в процессе градуировкииспол ьзуемого фотометоического устройстПри выполнении условийм,н ц макс И рмнн ,и:=,имакс гдЕЦМлн /максаннин, ЯмаксСООТВЕТСТВЕННОнаименьшие и наибольшие значения тех жесоотношений, полученных для участвовавших в градуировке Ьездефекткых образцов,приведенных к однородной структуре и постоянной степени уплотнения, концентрация искомого компонента С определяетсяпо установленной при градуировке зависимости С = 1(01, Ог), Б противном случаеобразец уплотняется до выполнения указанньа условий или признается дефектным,и.е. не соответствующим установленнойградуировочной зависимостл,Для градуировки отбираются образцы,не имеющие видимых дефектов пустот, кехарактерньа включений). Градуировка фотометрического устройства попредлагаемому способу измерения составаматериалов или веществ проводится по известным в фотометрии методикам, устанавливающим зависимость междуконцентрацией С искомого компонента, определяемой стандартным (например, химическим) методом, и уровнями отраженногоизлучения 01, Ог на аналитических длинахВолк А 1 илг(измеренными гн)дугломр)..Одновременно измеряются уровни отраженного излучения 01, Ог (подутлом р) и фиксйруются пределы изменения параметровд Ии для некоторой постоянной плотностисжатия образца. Усредненные значения параметров у И,и задаваемые из требуемой точ 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 ности фотометрического определения границы их разброса,имакс,имин, /макс и мин при нимают в качестве критериев соответствия образца условиям градуировки, Искомая калибровочная зависимость С == 1(01, Ог) находится с учетом параметровир, к которым в дальнейшем, в процессе измерения, образец приводится необходимой степенью упСпособ использовался для определения влажности растительных кормов на экспериментальной гонифотометрической установке. Установка была отградуирована как влагомер кормов (сена. сенажа, свежескошенной растительной массы) для измерения образцов с влажностью 40-85/. Измерения проводились для условий освещения а = 0 и наблюдения Р = 20, Д = 45 на аналитических длинах волн Л 1= 1,30 кмк и Лг =- 1,45 кмк, выделяемых интерференционными светофильтрами,Измерение влажности кормов ро предлагаемому способу позволяет снизить основную погрешность измерения влажности экспериментальной установки с 8,5 до 3,90 ь. При этом пробоподготовка образцов (измельчение, перемешивание, прессование и т.п,) не проводилась,Формула изобретения Способ контроля состава материалов и веществ, заключающийся в том, что направляют на образец пучок излучения, измеряют на аналитических длинах волн 1,1 и 1 г уровни отраженного под углом /3 к поверхности образца излучения О и Ог, а концентрацию С контролируемого компонента определяют по функциональной зависимости, установленной в процессе градуировки, о т л и ч аю щ и й с я тем, что, с целью повышения точности контроля материалов л веществ, и реимуществен но сы пучих или волокнистых, способных деформироваться без разрушения, отраженное от образца излучение дополнительно измеряют под углом Р ф на тех же длинах волн Й илг, для полученных уровней излучения 01, Ог, соответственно вычисляют соотношения01 /01 и 5=(01 02 ЯОгОг ) и, в случае выполнения усло- ВИЙ мин- - 3/макс И,Имин 5,И 5 фмакс Г д Е мин /м а к самин Ем а к С- СООТВЕТСтвенко наименьшие и наибольшие значенич тех же соотношений, полученных для участвовавших в градуировке бездефектных образцов, приведенных к однородной структуре и постоянной степеки уплотнения, признают результат достоверным, а в противном случае подвергают образец сжатию, повторно измеряют уровни излучения 01, Ог, 01, Ог, вычисляют соотношения11693485 Составитель В.Кале Техред М.Моргентал Корректор М.Кучерявая едактор М.Янков Заказ 4073 ВНИИПИ Тираж Подписноеарственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ С 113035, Москва, Ж, Раущская наб., 4/5 роизводственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул. Гагарина, 10И,и и при соответствии их значений указанным для дИ,и условиям, определяют концентрацию С, а при несоответствии повторяют цикл сжатия-измерение до выполнения указанных условий, при этом в случае неизменности значений величинИ,и после сжатия или в случае достижения плотностью сжатия образца предельного значения, допускаемого при нераэрушающем 5 контроле данного материала или вещества,признают образец не соответствующим градуировочной зависимости.