Способ измерения ширины штриха лимба

(53)5 6 01 В 11/00 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМПРИ ГКНТ СССР(56) фотоэлектриинформации/ПодМашиностроение,еские преобразователи ред, Л.Н,Преснухина, М.: 974, с. 347-349, рис, 176,занн этом ские осьюУ АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ШИРИНЫ ШТРИХА ЛИМБА(57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при контроле ширины штрихов или прозрачных участков лимбов. Цель изобретения - повышение точности контроля за счет исключения влияния эксцентриситета лимба на результаты измерения. Устройство, реализующее способ, работает следующим образом, При повороте базировочного устИзобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при контроле ширины штрихов или прозрачных участков лимбов, кодовых дисков и т.п,Целью изобретения является повышение точности контроля за счет исключения влияния эксцентриситета лимба на результаты измерения.На чертеже представлена функциональная схема устройства, реализующего способ измерения ширины штриха лимба.Устройство содержит осветител ь (не показан), базировочное устройство (не показано), установленное с возможностью поворота вокруг заданной оси, два фотоэлектрических датчика 1 и 2, установленные. на одной прямой, соединяющей ось повороройства штрих 4 контролируемого лимба 3 пересекает фотоэлектрический датчик 1 в точках А и А, а фотоэлектрический датчик 2 -в точках Б и Б, Сигналы с фотоэлектрических датчиков 1 и 2 поступают на вход измерителя временного интервала, который измеряет временной интервал г 1, соответствующий моментам пересечения границ штриха 4 фотоэлектрического датчика 1, временной интервал г 2, соответствующий моментам пересечения задней кромки штриха 4 фотоэлектрического датчика 1 и передней кромки штриха 4 фотоэлектрического датчика 2, и временной интервал тз, соответствующий моментам пересечения границ (кромок) штриха 4 фотоэлектрического датчика 2. В соответствии с измеренными временными интервалами рассчитывают ширину В штриха 4 по формуле. приведенной в описании изобретения, 1 ил. та базировочного устроиства и фотоэлектрический датчик 1 на заданном расстоянии Й 1 и Й 2 соответственно от этой оси, измеритель временного интервала (не показан). Контролируемый лимб 3 с нанесенным на нем штрихом 4 устанавливают на баэировочное устройство, при этом величина Е уст определяет расстояние между осью поворота О базировочного устройства и центром 01 контролируемого лимба 3.Выберем систему координат ХОУ, свяую с базировочным устройством, приось У проходит через фотоэлектричедатчики 1 и 2, а точка О совпадает с поворота базировочного устройства.стройство, реализующее способ, работает следующим образом..1620822 Для параллельных кромок штриха 4 ширина В штриха определяется из соотноше- ния в, х 2 31 п т В 1 В 2 со 12) Таким образом, предложенн позволяет определить параметры лимба 3, в том числе его ширину, точностью, так как смещение о относительно оси поворота бази устройства не влияет на результат ния,ый способ штриха 4 С выСОкои си лимба овочного ы измереСпособ измерения ширины штриха лимба, заключающийся в том, что устанавливают контролируемый лимб в базировочное устройство, выполненное с возможностью 25 поворота вокруг заданной оси, поворачивают контролируемый лимб вокруг этой оси, преобразовывают с помощью фотоэлектрического датчика ширину штриха контролируемого лимба в электрический импульс и 30 измеряют длительность этого импульса, о тлича ющийся тем,что,сцельюповышения точности контроля, с помощью второго фотоэлектрического датчика, который расположен на прямой, проходящей через ось 35 поворота лимба и первый фотоэлектрический датчик, на заданном расстоянии от оси поворота преобразовывают ширину штриха контролируемого лимба во второй электрический импульс, измеряют временной ин тервал между задним фронтом первогоимпульса и передним фронтом второго имса и длительность второго импульса, а ину штриха В рассчитывают по формуле(6 и этом ф 2 = же где рз =втзРешение системуравнение кромок шуравнение прямых, и(9) пуль уравнений определяет шир триха 4 лимба 3 как роходящих через точкиАБиЛБ:ХдБ + В 1(10) 2 з 1 п Уд х0 . % +В 2 - 2 В 1 В 2 с 0872где В 1 - расстояние от первого фоточеского датчика до оси поворота;В 2- расстояние от второго фоточеского датчика до оси поворота;т 1 - длительность первого импг 2 - длительность временногола между задним фронтом первогоса и передним фронтом второго имтз - длительность второго импу В 2 3 п у 2 лект УАБ электриХА 1 Б льса;нтерва импульпульса;ьса. В 1 з 1 п Р 1При повороте базировочного устройства штрих 4 контролируемого лимба 3 пересекает фотоэлектрический датчик 1 в точкахА и А, а фотоэлектрический датчик 2 - в1точках Б и Б, Сигналы с фотоэлектриче 1ских датчиков 1 и 2 поступают на входизмерителя временного интервала, который измеряет временной интервал т.1, соответствующий моментам пересеченияграниц штриха 4 фотоэлектрического датчика 1, временной интервал т 2, соответствующий моментам пересечения задней кромкиштриха 4 фотоэлектрического датчика 1 ипередней кромки штриха 4 фотоэлектрического датчика 2, и временной интервал тз,соответствующий моментам пересеченияграниц штриха 4 фотоэлектрического датчика 2. Можно показать, что временные интервалы г 1, г 2 и тз однозначно определяютширину штриха 4,Координаты точки А можно записать ввиде: Хд = В 1 з и 1УА =В 1 созе ,При этом р 1 =иг 1 , де а - угловая скорость враще очного устройства.Также можно записать коо екБиБ: ХБ = В 2 аи (Щ+фз) (7) УБ = В 2сов (р 2 +р 3 )(8) Таким образом, решение уравнений11 определяет параметры штриха 4 лимб ормула изобретения. Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужг аказ 4237 ВНИИПИ Тираж дарственного комитет 113035, Москва, Подписноепо изобретениям и открытиям при ГКНТ С35, Раушская наб 4/5