Матричный преобразователь к дефектоскопу

Номер патента: 1562869

Авторы: Абакумов, Чегодаев

ZIP архив

Текст

(51)5 С О К 44 003 63/25-2831.03.8807.05.90. Бюл 22) 46) Об ий институт ои эне(57 )шаюш,езован МЛТРИЧ ПРЕОСКОПУ Изобретение о му контролю и о при визуали ОБРЛЗОВЛТЕЛЬ К ЛЕносится к неразру- может быть испольации структуры изГОСУДАРСТВЕННЫЙ НСМИТЕТПО а 0 Б ЕТЕНИЯЧ И ЛНРЦтрПРИ ГКНТ СССР ПИОАНИЕ БРЕТЕНИЯ делии из композиционных материаловЦелью изобретения является повышениедостоверности контроля эа счет устранения зон нечувствительности. С помощью внешнего источника в контролируемом изделии создается электрическоеноле. В. зависимости от наличия дефектов происходит его перераспределение,Матричный преобразователь накладывается на контролируемое изделие, и величина элементарных конденсаторов 9изменяется в зависимости от значениянапряженности поля. Последовательнокоммутируя металлические полости 7и 8, считываются величины зарядовэлементарных. конденсаторов 9 и в видеяркостной картины представляется распределение поля, а следовательно, иналичие дефектов на экране видеоконтрольного блока. 3 ил.Изобретение относится к неразрушающему контролю материалов и иэделий и может быть использовано при визуализации структуры изделий из композиционных материалов,Белью изобретения является повышение достоверности контроля за счет устранения зон нечувствительности.На Фиг,1 приведена блок-схема уст ройства, на фиг,2 - схематично матричный чувствительный узел; на йиг,З - сечение А-А на Фиг,2.Устройство содержит последовательно соединенные матричный чувствитель ный узел 1, усилитель 2 и видеоконтрольный блок 3, блок 4 развертки, выходы которого подключены к матричному магниточ вствительному узлу 1 и видеоконтрольному блоку 3. На Жиг,1 . 20 приведено также контролируемое изделие 5, расположенное вблизи матричного чувствительного узла 1, В составматричного чувствительного узла 1 1входит сплошная плоская пластина 6 из сегнетоэлектрика, на противоположные поверхности которой нанесены металлические полости 7 и 8, расположенные взаимоперпенднкулярно и образующие в местах пересечения элементарные кон денсаторы 9. Устройство работает следующим образом35На контролируемое изделие 5 помещается матричный чувствительный узел 1, В контролируемом изделии 5 создается внеинее электрическое поле, величина которого определяется неоднородностями в контролируемомиэделии 5. Под действием этих неоднородностей происходит изменениеемкости элементарных конденсаторов 9,образованных в точках пересечения металлических полосок 7 и 8, Блок 4развертки последовательно коммутирует металлические полоски 7 и 8 навход усилителя 2, который усиливаетсигналы с образованных элементарныхконденсаторов 9. Полученный сигналотображается на экране видеоконтрольного блока 3 в виде яркостного пятна,перемещаемого синхронно со считыванием конденсаторов 9,Формула и з о б р е т е н и яМатричный преобразователь к дебектоскопу, содержащий последовательносоединенные матричный чувствительныйузел, усилитель, видеоконтрольныйблок и блок разверток, выходы которого подключены к матричному чувствительчому узлу и видеоконтрольномублоку, о т л и ч а ю щ и й с я тем,что, с целью повышения достоверностиконтроля, матричный чувствительныйузел выполнен в виде сплошной плоскойпластины из сегнетоэлектрика, на обеФповерхности которой нанесены металлические полоски, расположенные взаимоперпендикулярно и сбразующие в местахпересечения чувствительные элементарные конденсаторы..Гратилло Корректор С,Черни подписн при ГКНТ СССР етениям и шская наб 1 роизводственно-издательскиц комбинат "Патент", г. Ужгород, ул. Гагарина, 101 каз 1063 Тираж 5 НИИПИ Государственного комцт113035, Москва та по изо ,. Ж, Р ткрьгсия д. 4/5

Смотреть

Заявка

4400363, 31.03.1988

ОБНИНСКИЙ ИНСТИТУТ АТОМНОЙ ЭНЕРГЕТИКИ

АБАКУМОВ АЛЕКСЕЙ АЛЕКСЕЕВИЧ, ЧЕГОДАЕВ ВЛАДИМИР ВАСИЛЬЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01R 33/12

Метки: дефектоскопу, матричный

Опубликовано: 07.05.1990

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-1562869-matrichnyjj-preobrazovatel-k-defektoskopu.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Матричный преобразователь к дефектоскопу</a>

Похожие патенты