Измеритель структурных характеристик материалов

Номер патента: 1543333

Авторы: Василенко, Кринкер, Мовшиц

ZIP архив

Текст

(:01 И 27 1 1 ы 33МтНЛ 6Е БЬ:-1 О ИЕ ИЗО ЕНИЯ Бюл. М 6осударствМечниковаых металл ный универ- Светловод.50-ле М ринке.8)еразруиэделКлюев99-1Карттемпер нт шающегой. СправМ,: Ма9. В.Ф.ЦвеМ.: Энер вце тур измерительзоватьсяисталличесс). мер сточник 1 имргетически и неоднородоженного в одна из обет поток энермерителю 5. ль содержитзлучения, эндвумя частяа 2-3, расподенсаторе ч,рого пропусключенный к и пульсногосвязанныйного объеккассете-ко кладок котГии и под ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТИЯПРИ ГКНТ СССР ВТОРСНОМУ СВИДЕТЕЛЬСТ(56) Приборы для нроля материалов иник под ред. Р,В.строение, т, 1, сАбрамович Б.Г.товые индикаторыгия, 1978; с. 58 Изобретение относится кной технике и может испольдля оценки однородности крких и аморфных материалов.Целью изобретения является расшире ние функциональных возможностей измерителя за счет определения местонахождения неоднородностей,На фиг. 1 показана блок-схема устройства; на фиг. 2 - график зависимос(5) ИЗМЕРИТЕЛЬ СТРУКТУРНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК МАТЕРИАЛОВ(57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для выявления неоднородностейматериала, Цель изобретения - расширение функциональных возможностей устройства эа счет определения местонахождения неоднородностей. Устройствосодержит импульсный источник энергии,емкостный датчик с пластинами, пропускающими поток энергии, вторичный прибор, дифференцирующий усилитель, регистратор. Устройство позволяет проводить эффективный контроль слоистыхи неоднородных материалов. 2 ил. электрической емкости, которыи через дифференцирующий усилитель 6 подключен к регистратору 7.Измеритель работает следующим образом.После срабатывания источника 1, например, импульсной лампы-вспышки, лазера, плоского электрического наг" ревателя и т,д., поток лучистой энергии через прозрачную обкладку кассеты 4 воздействует на часть 2 объекта 2-3, в результате чего передний фронт тепловой волны проникает в глубь объекта, повышая его температуру. Каждая иэ частей объекта 2-3 характеризуется своими физическими параметрами: температуропроводностью, температурным коэффициентом диэлектрической про1543333 Предлагаемый измеритель позволяетпроводить эффективный контроль слоистых и неоднородных материалов, 10Формула изобретения ницаемости (ТК) и т,д. Гсли часть 2имеет положительный ТК, то первоначально емкость С объекта 2-3 возрастает (левая цасть графика на фиг. 2,кривая 8),После вхождения фронта тепловойволны в часть 3 объекта 2-3 временной ход кривой С(с) изменяется, и если, например, часть 3 имеет большийТКЕ, то это отражается на зависимости С(с). Так как изменяющийся во времени сигнал на выходе измерителя 5дифференцируется усилителем 6, торегистратор 7 фиксирует временнуюзависимость сигнала 1-ой производнойизменения емкости С (фиг. 2,кривая 9), по.которой судят о наличиии местоположении неоднородности, Вмомент с передний фронт волны достйгает тыльной стороньь объекта 2-3,после чего температура объекта нацина"ет монотонно убывать.Пространственное положение границыц 4 стей 2 и 3. определяется по отношению длины участка с - с ко всемуинтервалу с - с.Применение датчика, выполненного ввиде конденсатора, функционально объединенного с кассетой и подключенного кизмерителе емкости, позволяет получить пространственное разрешение неоднородностей и определить их местона",хождение,Измеритель структурных характеристик материалов, содержащий последовательно соединенные импульсный источник энергии, кассету с образцом, датчик, вторичный прибор и регистрирующий прибор, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью расширения функциональных возможностей за счет определения местонахождения неоднородностей, он содержит дифференцируоций усили" тель, подключенный между вторичным и регистрирующим приборами, причем вторичный прибор выполнен в виде измерителя электрической емкости, а датчик и кассета функционально объединены в виде плоского конденсатора с пропуска. ющими поток энергии обкладками.Недолуженко Редактор аказ 397 Тираж 509 Подписное НИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ ССС 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. /5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул.Га а, 1 оставитель В.ехред М.Ходаяи ев Корректор Т.М

Смотреть

Заявка

4341865, 09.10.1987

ОДЕССКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ ИМ. И. И. МЕЧНИКОВА, СВЕТЛОВОДСКИЙ ЗАВОД ЧИСТЫХ МЕТАЛЛОВ ИМ. 50-ЛЕТИЯ СССР

ВАСИЛЕНКО НИКОЛАЙ ДМИТРИЕВИЧ, КРИНКЕР МОИСЕЙ СЕМЕНОВИЧ, МОВШИЦ БОРИС ИОСИФОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01N 27/22

Метки: измеритель, структурных, характеристик

Опубликовано: 15.02.1990

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-1543333-izmeritel-strukturnykh-kharakteristik-materialov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Измеритель структурных характеристик материалов</a>

Похожие патенты