Способ контроля качества изображения оптических и оптико электронных систем

СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИК 19) (11) ЧЕСТВПТИКОИЗОБЕКТРОН ОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМРИ ГКНТ СССР АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТ 4155879/24-101410, 8607. 11. 89, Бюл. Р 41Т.М.Айсин, А,В,Подобрянский(21) 22) (46) (72) и Ф,П (53) 56) В 779 54) РАБЕ НЬИ (57) тель упро миру на щ щеле рующ СПОСОБ КОНТРОЛЯ КА А ИЯ ОПТИЧЕСКИХ И О ЭЛ ИСТЕМ Изобретение относится к измериой технике. Цель иэобретения -щение способа. Пучок света, формый осветителем 1, направляется левую диафрагму 4. Иэображение ой диафрагмы 4 строится коллимиим объективом 6 и испытуемым объ 4 С 01 М 11/00 // С 01 Г 1 11/02 ективом 34 в плоскости анализа, которая переносится микрообъективом 7 в плоскость диска 8 анализатора. Растровые решетки, нанесенные на диск 8 анализатора, вращающемого приводом 9, последовательно проводят пространственную фильтрацию изображения щелевой диафрагмы, Измерительные и нормирующая гармонические составляющие выделяются блоком 11 выделения измерительных и нормирующей гармонических составляющих. Амплитуды измерительных составляющих сравниваются с амплитудой нормирующей гармонической составляющей в блоке 21 обработки сигналов. Результат сравнения связанный с коэфФфицйентом передачи модуляции контролируемого объектива 34, индицируется блоком 27 индикации, 3 ил.Изобретение относится к измерительной технике, может быть использовано для измерения коэффициентов передачи модуляции различных оптичес 5 ких систем, например объективов.Целью изобретения является упрощение способа.На фиг. 1 представлена функциональная схема устройства для реализа ции способа; на фиг, 2 - диск анализатора; на фиг. 3 - временные диаграммы сигналов, формируемых на выходах отдельных блоков.Устройство содержит оптически свя занные осветитель 1, состоящий из лампы 2 и конденсатора Э, щелевую диафрагму 4, блок 5 формирования изображения щелевой диафрагмы, состоящий из коллимирующего объектива б, микрообъектива 7, диск 8 анализатора, привод 9, связанный с диском 8 анализатора, фотоприемник 10, блок 11 выделения измерительных и нормирующей гармонических составляющих, состоящий 25 иэ полосовых фильтров 12 - 14, входы которых подключены к фотоприемнику 10, детекторов 15 - 17, входы которых подключены к выходам полосовых фильтров 12 - 14, Фильтров 18 - 20; нижних частот; блок 21 обработки сигналов, состоящий иэ переключателя 22, потенциометров 23 и 24, подключенных к фильтру 18 нижних частот, компаратора 25, входы которого подключены к выходу потенциометра 24 и фильтра 19 нижних частот, компаратора 26, входы которого подключены к выходу потенциометра 23 и переключателю 22 блок 27 индикации состоящий из свеФ40 тодиодов 28 и 29, подключенных к выходам компараторов 25 и 26.На диске анализатора нанесены измерительные решетки 30 - 33. Контролируется объектив 34.Устройство работает следующим образом.Иэображение тела накаливания лампы 2, входящей в осветитель 1, проецируется конденсатором 3 на щелевую диафрагму 4.Коллимирующий объектив 6, входящий в блок 5 формирования изображения щелевой диафрагмы, формирует параллельный пучок лучей, который Фокусируется объективом 34 в плоскости анализа, который переносится микрообъективом 7 в плоскость диска 8 анализатора, вращаемого приводом 9. Измерительные решетки 30 - 33, нанес нные на кольцевую дорожку диска 8, анализатора, приводят пространственную фильтрацию изображения щелевой диафрагмы 4.Световые потоки, промодулированные измерительными решетками 30 - 33 подают на фотоприемник 10, формирующий электрический сигнал сложного спектра, частоты спектральных составляющих которого определяются пространственными частотами измерительных решеток 30 - 33, нанесенных на диск 8 анализатора, а также протяженностью нанесения измерительных решеток 30 - 33 и расстояниями между ними.Спектральные составляющие электрического сигнала, снимаемого с фотоприемника 10, выделяются полосовыми 12 - 14, входящими в блок 11 выделения измерительных и нормирующей гармонических составляющих, детектируются детекторами 15 - 17, сглаживаются фильтрами 18 - 20.На выходе фильтров 19 и 20 нижних частот формируется напряжение, пропор. циональное коэффициенту передачи модуляции на соответствующей измерительной пространственной частоте. На выходе фильтра 18 нижних частот формируется напряжение, пропорциональное коэффициенту передачи модуляции на нормирующей пространственной частоте, близкой к нулевой.Пространственные частоты измерительных решеток 30 - 33 определяются периодом их нанесения на диск 8 анализатора. Пространственные частоты измерительных решеток 30 - 33 не равны друг другу и отличаются друг от друга, например, в два раза, что позволяет выделить соответствующие измерительные сигналы полосовыми фильтрами 13 и 14. На фиг. 1 условно показаны лишь два полосовых фильтра 13 и 14,Нормирующая пространственная частота определяется протяженностью нанесения измерительных решеток и расстоянием между решетками, т. е. периодом нанесения измерительных решеток. Дополнительной дорожки с нанесенной нормирующей частотой нет. Нормирующий сигнал формируется из измерительных сигналов. Амплитуда нормирующего сигнала связана с усредненным значением постоянных составляющих из73 20 ЗО оставитель Г.Гатили Кабаций едактор Н,Лазаренко Техред Л.Сердюкова Коррект Ь 74843Государс Подписно Зак БИИПИ ри ГКНТ ССС зоб Ра енного комитета п 13035, Москва, Жтениям и открытия ская наб., д, 4(5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул. Гагари 0 5 15203 мерительных сигналов, а частота - с числом измерительных решеток и их пространственным расположением (фиг.3).Сигнал с выхода фильтра 18 нижних частот поступает на потенциометры 23 и 24, входящие в блок 21 обработки сигнала, С выходов потенциометров 23 и 24 нормирующие сигналы поступают на первые входы компараторов 25 и 26, на вторые входы которых поступают измерительные сигналы с фильтра 19 нижних частот и с выхода переключателя 22, с помощью которого осуществляется выбор верхней измеритель ной частоты. При величине измерительных сигналов меньше опорных сигналов, величина которых задается потенциометрами 23 и 24, срабатывают компараторы 23 и 24, формирующие сигналы порогового допускового контроля величины коэффи-. циентов передачи модуляции, которые индицируются светодиодами 28 и 29, входяшими в блок 27 индикации.При изменении яркости лампы 2, светопропускания объектива 34, чувствительности ФЭУ 10 происходит одновременное изменение сигналов на выходах нормирующего и измерительного каналов, выходах фильтров 18 - 20 нижних частот, что не изменяет реэуль-ат контроля,Ф о р и у л а и з обретения Способ контроля качества изображения оптических и оптико-электронных систем, заключающийся в том, что формируют изображение протяженного тест- объекта на входе контролируемой системы, проводят пространственную фильтрацию иэображения тест-объекта на выходе контролируемой системы на измерительной и нормирующей частотах с одновременным преобразованием в электрический сигнал, выделяют нормирующую и измерительные гармонические составляющие электрического сигнала, по соотношениям амплитуд которых судят окачестве контролируемой системы, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью упрощения, пространственную фильтрацию изображения тест-объекта на измерительных частотах проводят последовательно, а электрический сигнал формируют в виде пачек импульсов, нормирующую частоту формируют как огибающую пачек измерительных сигналов, а период формирования пачек импульсов равен удвоенной длительности пачек импульсов.