Способ контроля процесса сушки сыпучих материалов

Номер патента: 1518632

Авторы: Багдатьев, Банников, Валовой

ZIP архив

Текст

к автомаель иэобва контро но опреде ческую ала (н ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОЧНРЦТИЯПРИ П(НТ СССР(54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ ПРОЦЕСЫПУЧИХ МАТЕРИАЛОВ(57) Изобретение относитсятиэации процессов сушки. Цретения - повышение качестля, Дпя этого предварительляют максимальную гигроскопивлажность Я сыпучего матери 2 пример, динамическим методом получения иэотерм сорбции), измеряют тем" пературы Т и Ттеплоносителя по "мокрому" термометру на входе и выходе из барабана 1 посредством датчиков 2 и 3, температуру Т материала после сушки посредством датчика 4 и его влажность У до сушки датчиком 5. Полученную информацию подают на вход вычислительного устройства 6, где рассчитывают значение конечной влажности И , которое затем сравнивают в блоке 8 сравнения с величиной заданной требуемой влажности У высуФ шенного материала, задаваемой задатчиком 9, Сигнал с блока 8 сравнения д используют в качестве информации о состоянии процесса сушки. 2 ил.С(11 -М )+1 .1 п -ьлЮО кК Изобретение относится к способамконтроля процесса сушки сыпучих материалов и может быть использовано вхимической и других отраслях промышленности для создания систем управления сушкой сыпучих материалов.Цель изобретения - повышение качества контроля,На фиг. 1 представлена блок-схема 1 Осистемы для реализации способа контроля процесса сушки сыпучих материалов; на фиг. 2 - алгоритм работывычислительного устройства,Система для реализации способа 15контроля процесса сушки сыпучих материалов содержит сушильный барабан 1,датчики температуры теплоносителя по"мокрому" термометру 2 и 3 соответственно на входе и выходе из барабана 201, датчик 4 температуры высушенногоматериала, вычислительное устройство6, задатчик 7 критической влажности,блок сравнения 8 и задатчик 9 требуемой влажности готового высушенного 25материала,Способ контроля процесса сушки сыпучих материалов (на примере сушки аммиачной селитры) реализуется следующим образом, 30 Измеряют параметры сушки: температуру теплоносителя по "мокрому" термометру на входе и выходе иэ барабана 1 Т и Т посредством датчиковмто антк35 2 и 3, температуру селитры после сушки Тм госредством датчика 4, влажность селитры до сушки 11 посредством датчика 5, и полученную информацию подают на вход вычислительного устройства 6. Предварительно измеряют лабораторным путем максимальную гигроскопическую влажность М селитры и это значение задают задатчиком 7, Было показано, что значения Ы практи чески равны значениям критической влажности Ч . Информация с выхода задатчика 7 поступает на вход вычислительного устройства 6, где в соответствии с алгоритмом, приведенным на фиг. 2, вычисляется значение конечной влажности селитры после сушки И, которое затем сравнивают на блоке сравнения 8 с величиной, заданной требуемой влажности высушенной селит 55 ры Уз, задаваемой задатчиком 9, Сигнал с выхода блока сравнения 8 используют в качестве информации о состоянии процесса сушки. Определение. максимальной гигроскопической влажности У можно осуществить динамическим методом получения изотерм сорбции, при этом для селитры в пределах одной партии величина У оказывается постоянной. Поскольку динамический метод получения изотерм сорбции предусматривает определение влажности материала, средней по объему, при равновесии окружающего влажного газа фактически с поверхностью тела, т,е. в условиях, аналогичных динамическому равновесию между газом и материалом в реальных сушилках, то полученные значения Мкак указывалось выше, фактически равны значениям критической влажности Ь.Показано, что конечная влажность Я связана с критической влажностью У и критической температурой Тр соотношением где С - коэффициент пропорциональности, зависящий от свойств материала (в частности, для аммиачной селитры С=0,015).Для определения Т было получено выражение Поскольку искомое значение У содержится в обоих выражениях (1) и (2), необходимо их совместное решение, которое осуществляют согласно приведенному на фиг, 2 алгоритму.Алгоритм реализует метод численного решения уравнений, известный как метод деления отрезка пополам.Для этого фиксируют параметры про" песа сушки Т Тфсвязи с тем, что величина 11 к имеет смысл только в пределах 0 И ( Ир,к то начальным значениям промежуточных переменных У и Ы присваивается уменьшенная вдвое величина параметра Ур. При этом 1 У - является проверяемой величиной параметра Ъ, а величина М, является корректирующей для проверяемой величины И По присвоенному значению И и значениям параметтров сушки Т, Тм- Т, Ч, Ур и в со -мф рответствии с зависимостями (1) и (2) вычисляют значения Ти 1 д. По величине Ы осуществляют проверку на со- яФиг г Составитель С.ПолянскийР(дактор В.Ковтун Техред Л,Сердюкова Корректор О.Ципле Заказ 6593/44 Тира,593 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж 35, Раушская наб д, 4/5Производственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул. Гагарина,10 5 5186 ответствие проверяемой величины М, истинному значению Ы, для чего величину коррекции уменьшают вдвое и присваивают еи значение Ьр, после чего(1 и сравнивается с Ыт. В случае, если М( (т, то новое значение Ыт уменьшается по сравнению с 1,г на величину Ыр, а если 1(п ), то новое значение И увеличивают по сравнению с У на( (г величину , , после чего процесс вычисления повторяют. Та( делают до тех пор, пока величина г не станет равной величине. В этом случае величине Ы присваивается вычисленное значение величины М, которое затем срав нивают в блоке сравнения 8 с заданной величиной требуемой конечной влажности селитры У. 32 6Формула из об ретенияСпособ контроля процесса сушки сыпучих материалов путем измерения температуры сушильного агента и влажности материала до и после сушки, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения качества контроля, предварительно определяют максимальную гигроскопическую влажность материала, измеряют температуру сушильного агента по "мокрому" термометру, измеряют температуру высушенного материала, определяют критическую температуру материала, рассчитывают значение текущей конечной влажности, сравнивают полученное значение с заданным и по результатам сравнения судят о состоянии процесса сушки.

Смотреть

Заявка

4218641, 08.01.1987

МОСКОВСКИЙ ЛЕСОТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ

БАННИКОВ АНАТОЛИЙ ГЕННАДЬЕВИЧ, ВАЛОВОЙ АЛЕКСЕЙ ВАСИЛЬЕВИЧ, БАГДАТЬЕВ ЕВГЕНИЙ ЕВГЕНЬЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: F26B 21/10, F26B 25/22

Метки: процесса, сушки, сыпучих

Опубликовано: 30.10.1989

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-1518632-sposob-kontrolya-processa-sushki-sypuchikh-materialov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ контроля процесса сушки сыпучих материалов</a>

Похожие патенты