Устройство для измерения эмиттанса пучка ускоренных частиц

внешней, умецьи 111 лгя ця некоторую величину. Разница между радиусами изгиба пластин 5 определяет шаг размещения колекторов частиц на платформе 4 при заданном расстоянии Е от5 сепаратора 1 до коллекторов 2, Ширина пластин 5 выбирается больше максимального поперечногО размера пучка. Толщина Б крцсталличегких пластин 5 может составлять 0,3-1 мм и определяет шаг дискретизации измерения при заданном поперечном размере пучка частиц, а также количество коллекторов 2 на платформе 15Платформа 3 с установленным на ней сепаратором 1 может поворачиваться с помощью гоциометра вокруг оси У, проходящей на входе сепаратора через его середину. Синхронно с платформой 2 О 3 поворачивается платформа 4 с установленными ца цей с шагом 11 коллекторами по радиусу, проведенному вокруг оси У.Угол сканирования многоканального 25сепаратора 1 определяется максимальнопоэгЕожцой величиной угловогоразбросачастиц в пучке и выбирается заведомобольшим.Устройство работает следующимобразом,Пучок частиц, параметры которогонеобходимо иэмерить, направляется наторцы кристаллических пластин многоканального сепаратора 1. Каждаяпластина 5 вь 1 резает частицы пучка ссоответствующей ей координатой Х снекоторым разбросом, равным толщинекристаллической пластины. 1 ерезкристаллическую пластину 5 прОходят 40лищь те частицы, которые лежат вдиапазоне углов каналирования вдолькристаллографической оси (111) 1 который составляет очень малую величину .л 50 10рад, Следовательно,ца ве 1 ходе каждой пластины 5 появляется пучок лишь прц определенномугле поворота сепаратора 1 относительно оси У, соответствующем углово"му разбросу частиц в пучке с даннойпоперечной координатой, Далее пучок50из выходного торца каждой пластиныдвижется к своему коплектору 2 заряженных частиц, расположенному вдолькасательце 1 х к кристаллографическим55плоскостям (111) соответствующихкристеелпических плаГтиц,Поскольку пластины 5 изогнутыца различные радиусы, то пучок частиц, выходящий из ццх, имеет разныйугол отклонения отцос.цтЕпьно ОСИизмеряемого пучка, Благодаря этомусугеествует возможцост 1 разнестиколлекторы 2 по азимуту на расстояние Ь, достаточное, чтобы разместитЪэти колпекторы и зафиксировать токпучка частиц, выходящих иэ пластин5 без потерь,Блок коллекторов 2, размещенныхна платйорме 4, движется по радиусуВ синхронно с платформой сепаратора,поэтому на выходе каждого коллектора2 появляется сигнал, пропорциональныйтоку частиц, выходящих иэ соответствую 11 Ее 11 ему пластины. Фиксируя токс коллекторов 2 и, соответственноугол поворота сепаратора 1, строитсяпроекция фазового объема пучка наФаэовой плоскости ХХ. Затем по этойхарактеристике вычисляется эмиттацспучка, Измерение эмиттанса пучка вдругой взаимно перпендикулярнойплоскости производйтся второй аналогичной системой,Следовательно, увеличение точности измерения эмиттанса пучка частиц при повышении оперативности достигается уменьшением шага дискретизации измерения и точности Фиксации величины тока выделенной части пучка.Кроме того, дополнительным преимуществом предлагаемого устройства является значительно 1 в 1000 и более раз ) меньшая масса сепаратора, что очень важно при разработке точнейшего сканирующего устройства, а также возможность размещения коллекторов вне оси пучка, Последнее преимущество позволяет снизить время ца подготовку к проведению измерений и экспериментон на пучке.Формула изобретенияФУстройство для измерения эмиттацса пучка ускоренных частиц, содержащее расположенный вдоль оси канала транспортировки пучка миогоканальный сепаратор с коллекторами, расположенными ца выходе каждого канала соосно их выходным отверстиям, и механизм .синхронного поворота многоканального сепаратора и коллекторов относительно продольной оси канала транспортировки, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, Г 1 еле 0 110 вышеция точнОГти ц 111 Ррлтийн, и л 1 сс 1 де с.сИср)тс 1 парси/изкс сс,сщссся сссас г сн;, иполн нп и со иу 1 ссссос 1 сч ИЖ асл Составитель Е.Громоведактор Т,З)рчикова Техред Л.Сердюкова Корректор Л.Коаориэ ЗакаВНИИП 09 Ги зобретенинм и Раушская наб осударственного комитет113035, Москва,по -3 оиэводственно-излательскис комбинат "Патент", г. ужгс 1 рс 1,с, :с, Г; г арина, 1 ности намерений н,сбссгтс с с 1 ьихэнергий, лспоокнас нссй с,сдрд сэрвьаолиен В ниЛе набора крссс апис сес -ких изогнутых пластин, рсенс 1 псжс" ннс,схтак, что касательньсе к кристаллс 1 рабическим плоскостям ссжлссй ппас.тит 1 й с 1 тссс 1 сс (ссис Рхс 1 Па так1 сс сПинс изгнан ьссждсс сеселусей исосиссн иноя с внесис сраниоме 1)и Подссис нсеткрытилм при ГК Д. с/