Способ магнитографического контроля

. С. и др. Магнитографисварных соединений. М.: 1966, с.162-171,агни ожет к и и теонтрол ьожет Изобретени е относится ной технике лентыоскопа я неразрушающегонитных изделий и ихйия - расширение эможностеи Кже и положения поверхности. образоНа схема реавз аим ставле на фиг ка усилют магии ент, деениег 3 нитных иэобр е расположени ты 3 и 4, намагни с изделием 1, эрасшифровывают п елия дефек экране ктов и ают оров; н дефекто кран ал н тывают имагнитоагнитогро с обихно в во па послетству тем и аммыпри чемм производялент, помещроизводящие че со ия ам суммир о одноихтройс ровкувременсинхро ульсов магнитогр х и оба пок еачиэ ации спо1 с дефектом но иэдел ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯИПРИ П 1 НТ СССР(57) Изобретение относится графической дефектоско 1 ии и быть использовано при контр чества ферромагнитных издел сварных соединений, Цель из но-измеритель использоваться дл контроля ферромаг сварных соединениЦель изобретен функциональных во о пр едел еия та к та относительноНа фиг, пред лизации способа;,801490613 А 1 ния - расширение функциональных воэможностей за счет определения такжеи положения дефекта относительно поверхности - достигается за счет того,что на контролируемое изделие с двухсторон укладывают магнитные ленты,намагничивают изделие совместно .смагнитными лентами, считывают и сихронно расшифровывают обе магнитограммы. При этом по амплитудам импульсов от дефектов с обеих магнитограмм определяют глубину залеганиядефекта, Суммируют амплитуды соответствующих импульсов и по результирующей амплитуде определяют размердефекта, 1 з,п, ф-лы, 3 ил,женные на изделие с двух с орон магнитные ленты 3 и 4, Сигналы от дефектов, считанные с магнитной 3, показаны на экране 5 дефект Соответствующие им сигналы, считанные с магнитной ленты 4, показаны на экране 6 дефектоскопа,Способ осуществляется следующим онтролируемое иэделие 1, насварной шов, вдоль его велиения с двух сторон накладыва 1490613ва дефектоскопа. На фиг.2 показано,что в зависимости от глубины залегания дефектов сигналы на экранах 5и 6, дефектоскопов имеют различнуюамплитуду, . По величине импульсов наэкранах дефектоскопов проводят расшифровку магнито грамм, Одновременнорасшифровка магнитограмм позволяетопределить месторасположение дефекта 10по толщине иэделия, так как при намагничивании изделия поле рассеяния,вызванное дефектом, намагничивает обеленты в месте расположения ее наддефектом, причем ту иэ них сильнее, 15ближе к которой расположен дефект,Следовательно, сравнивая амппитудыимпульсов от дефекта с обеих лентможно определить его месторасположение. Поскольку амплитуда импульса 20от дефекта зависит как от глубиныего залегания, так и от размера дефекта, для более точного определенияпоследнего аммппитуды импульсов отдефекта с лент 3 и 4 суммируют 25( фи г, 3), При суммировании уменьшениеамплитуд импульса с одной ленты компенсируется увеличением амплитуды, импульса с второй ленты, в результате чего суммарные амплитуды импульсов от дефектов одинаковогб размера равны,Таким образом, происходит отстройка от параметров, хар актеризующнх глубину залегания, и выделяются параметры, характеризующие размеры дефекта. Фор мула изобретения1, Способ магнитографического контроля изделий, заключающийся в том, что на поверхность контролируемого изделия накладывают магнитную ленту, намагничивают совместно с изделием, затем считывают и расшифровывают магнитограмму, о т л и ч а ющ и й с я тем, что, с целью расширения функциональных воэможностей за счет определения также и положения дефекта относительно поверхности, используют дополнительные магнитные ленты, которые перед намагничиванием накладывают на изделие с нескольких сторон, а р.- сшифровку магнитограмм после намагничивания производят совместно.2, Способ по п,1, о т л и ч а ющ и й с я тем, что, с целью повышения точности при определении размера дефекта, суммируют амплитуды соответствующих импульсов магнитограмм и размер дефекта определяют по величине результирующей амплитуды,14906 13 г ставитель И,Кесохред М.Дидык орректор М, Максимиаинец акто сина Заказ 3749/52ВНИИПИ Государс нного коми3035, Моск Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Улгород, ул, Гагарина 101 89ета по изобретенияма, Ж, Раушская н Ю Подписноеоткрытиям при ГКНТ Сд. 4/5