Датчик индукции магнитного поля
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1406546
Авторы: Гусев, Киреенко, Корженевский, Яржембицкий
Текст
Изобретение относится к контрольно-измерительным приборам и можетбыть использовано для измерения индукции магнитного поля. 5Целью изобретения является повышение помехоустойчивости датчика иточности измерения индукции магнитного поля за счет обеспечения постоянства величины ЭДС Холла, генерируемой датчиком, при изменении токачерез него.На фиг, 1 схематически изображендатчик индукции магнитного поля, нафиг, 2 - кривая зависимости ЭДС Холла, вырабатываемой датчиком, от величины электрического тока при индукции магнитного поля 0,24 Тл,В качестве примера использовандатчик индукции магнитного поля, 20)представляющий собой кристалл 1 р 1 пАз, на поверхности которого посредством механической полировки алмазной пастой создан инверсионныйслой 2 е в ти проводимо ти. К слою 252 посредством напыления алюминия созданы контакты 3-6. Рабочая температура датчика составляет 77 К,При пропускании через контакты 3и 4 электрического тока контакт 3 30имеет положительный потенциал такойвеличины, когда падение напряженияна переходе между кристаллом 1 и слом 2 не превосходит порогового напряжения электрического пробоя перехода, электрический ток протекаетпо поверхностному слою 2 и измеряемая на контактах 5 6 ЭДС Холла, со. ответствующая по знаку и-типу проводимости, пропорциональна току и 40индукции магнитного поля. Увеличениеэлектрического тока приводит к возрастанию падения напряжения на переходе между кристаллом 1 и слоем 2. .При достижении порогового напряже ния на переходе в области контакта 3 происходит электрический пробой перехода и ток протекает через слой кристалла 1 датчика, Однако высокое сопротивление перехода в области 50 контактов .5 и 6 приводит к тому, что основной вклад в измеряемую ЭДС Холла дает составляющая слоя 2, В процессе дальнейшего возрастания тока через датчик происходит распро странение фронта области электрического пробоя от контакта 3 в направлении контакта 4.При этом составляющая тока через слой 2 сохраняется постоянной, что приводит к постоянству измеряемой ЭДС Холла при изменении тока. Постоянство ЭДС Холла сохранится до значения, при котором фронт области электрического пробоя достигнет контактов 5 и 6, в результате чего вклад составляющей ЭДС Холла кристалла 1 увеличится и постоянство измеряемой ЭДС Холла нарушится.Таким образом, в диапазоне величин тока через датчик от соответствующего началу пробоя поверхностного перехода до соответствующего достижения фронтом области пробоя контактов, на которых измеряется ЭДС Холла, величина ЭДС Холла н:. зависит от тока и пропорциональна индукции магнитного поля.На фиг. 2 представлена зависимость ЭДС Холла генерируемой датчиком, от величины тока при индукции магнитного поля 0,24 Тл. Из графика следует, что, действительно, в диапазоне величин тока от 10 ф до 2,10А ЭДС Холла соответствует п-типу проводимости и не зависит от величины тока,При подключении к контактам 5, б источника постоянного напряжения через добавочное сопротивление 57 Ом в магнитном поле 0,24 Тл величина ЭДС Холла 9,5.10В остается постоянной в процессе изменения напряжения от 1,5 до 0,063 В. Это позволяет использовать автономный элемент питания, сохраняя работоспособность датчика до глубокой разрядки элемента без корректировки тока.Ф о р м у л а и з о б р е т.е н и яДатчик индукции магнитного поля, содержащий полупроводниковый кристалл и две пары контактов, о т л ич а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения помехоустойчивости датчика и точности измерений за счет обеспечения постоянства гальваномагнитной ЭДС при изменении тока через него, на поверхности полупроводникового кристалла сформирован слой с противоположным типом проводимости,"онтакты нанесены на этот слой.1406546 10 о-ф у Составитель Г. ПавловЦиткина Техред Л.Сердюкова Корректор С, Черни едактор Производственно-полиграфическое предприятие, г, Ужгород, ул. Проектная каз 3189/42ВНИИП113035 772 ствен обрет -35,Тираж И Госуда делам и Москва, Подписноего комитета СССРий и открытийушская наб., д, 4/
СмотретьЗаявка
4163126, 19.12.1986
БЕЛОРУССКИЙ ПОЛИТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ
ГУСЕВ ОЛЕГ КОНСТАНТИНОВИЧ, КИРЕЕНКО ВЛАДИМИР ПЕТРОВИЧ, КОРЖЕНЕВСКИЙ АЛЕКСАНДР ГЕННАДЬЕВИЧ, ЯРЖЕМБИЦКИЙ ВИКТОР БОРИСОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01R 33/06
Метки: датчик, индукции, магнитного, поля
Опубликовано: 30.06.1988
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1406546-datchik-indukcii-magnitnogo-polya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Датчик индукции магнитного поля</a>
Измеритель переменной магнитной индукции
Номер патента: 746357
Опубликовано: 05.07.1980
Авторы: Бедов, Климова, Обоишев, Пигина
МПК: G01R 33/07
Метки: измеритель, индукции, магнитной, переменной
...приведена на фиг. 1; на фиг. 2 - апериодические частотные характеристики (АЧХ) измерителя.Датчик Холла 1(фиг. 1), возбужда емый источником переменного тока 2 совместно с избирательным усилителем , 3 по несущей, Фазовым детектором 4 преобразует в области ниэкочастотного поддиапазона переменную магнитную индукцию в пропорциональное напряжение, Дополнительно введенное апериоднческое звено 5, включенное последовательно с Фазовым детектором, ограничивает частотный диапазон ветви областью, в которой выходной сигнал про-порционален входному, и Формирует АЧХв низкочастотном поддиапазбне, Для Формирования высокочастотного поддиапазова АЧХ измерителя используетсядополнительная ветвь, состоящая из избирательного усилителя 6 по сигналу,...
Устройство для измерения магнитной индукции
Номер патента: 534712
Опубликовано: 05.11.1976
МПК: G01R 33/02
...При изменении индукции магнитного поля генератор 2 высокой частотыпроцолжает слецить за частотой прецессиипо двум цепям; первая цепь- блок 3 выделения сигнала ЯМР с цепью автоподстройки частоты и вторая цепь - магниторезистор 4,преобразователь 5, блок 6 нелинейности.Применение цепи слежения с магниторезистором облегчает работу первой .цепи автоподстройки частоты, расширяет полосу удержания и снижает погрешность статизма, таккак на долю первой .цепи АПЧ остается отработка меньшего рассогласования,В случае отсутствия сигнала ЯМР в на- Ячальный момент частота генератора 2 приводится к частоте прецессии по пепи:магниторезистор 4, преобразователь 5, блок 6нелинейности, управляемый элемент генератора 2, Блок 6 нелинейности позволяет бО...
Устройство для измерения магнитной индукции
Номер патента: 653590
Опубликовано: 25.03.1979
Авторы: Гусев, Константинов, Кусков
МПК: G01R 33/07
...и подключены к второму входу элемента сравнения, причем одна иэ первичных обмоток подключена параллельно моду ляционной катушке, а вторая - параллельно компенсационному резистору.Структурная схема устройства изображена на чертеже.Измеритель содержит гальваномаг 45 нитный преобразователь 1, модуляционную катушку 2, генераторы 3 и 4 переменного тока, усилитель 5, детектор б, фильтр 7 частоты Ю питания преобразователя 1,. фильтр 8 частоты модуляции Ш 2, регистрирующий прибор 9 иэлемент сравнения 10.Измеритель работает следующим образом.Гальваномагнитный преобразователь 1 находятся под воздействием постоянного магнитного поля Н и .переменного магнитного поля Нм , создаваемого модуляционной катушкой 2. Так как преобразователь...
Устройство для измерения эдс холла в области пространственного заряда
Номер патента: 1377787
Опубликовано: 28.02.1988
Авторы: Кубашев, Николаев, Стерхова, Худяков
МПК: G01R 33/07
Метки: заряда, области, пространственного, холла, эдс
...образцов без нарушения целостности их и за счет использования бесконтактного метода измерений. 15На фиг. 1 изображено предлагаемое устройство, вид сбоку; на фиг, 2 - разрез А-А на фиг, 1.Устройство содержит изоляционную пластину 1, первый потенциальный 20 электрод (резистивный) 2, холловские 3 и токовые 4 электроды. держатели 5, размещенные на пластине 1, образец 6 и второй потенциальный электрод 7, находящийся в контакте с образцом. 25Образец 6 укрепляют на держателях 5 исследуемой поверхностью к потенциальному электроду 2. При этом электро. ды 2 и 7 расположены друг под другом и укреплены на штативе (не показан) с возможностью вертикального перемещения относительно друг друга, Метал- лизированный электрод 8 опускают до соприкосновения...
Устройство для измерения переменной магнитной индукции
Номер патента: 741207
Опубликовано: 15.06.1980
МПК: G01R 33/02
Метки: индукции, магнитной, переменной
...5и б,где Я - чувствительность датчикаХолла к индукции;1 - ток питания датчика;В - В,созна;В - амплитудное значение- индукции,Цикл измерения происходит в два такта коммутации.В первом такте на преобразователь 8 напряжение - код через автоматический переключатель 7 поступает переменная составляющая выходного сигнала датчика 1 Холла. Она выделяется формирователем 5 и там же преобразуется в постоянный ток. Код Б выходного регистра преобразователя 8 напряжение - код, соответствующий измеряемой индукции переменного магнитного поля Вщ, переписывается в блок 9. 1= С К 1 В К,где К 4 - коэффициент преобразованияформирователя переменнойсоставляющей;К - коэффициент преобразованияпреобразователя фнапряжение - код,Во втором такте...
Предыдущий патент: Устройство для измерения величины и направления магнитных полей
Следующий патент: Устройство для поверки электроизмерительных приборов
Случайный патент: Буровое шарошечное долото