Способ измерения температуры покрытий
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
СОЮЗ СОЕЕТСНИХсОцИАлистичеснихРЕСПУБЛИН А 1 01 755 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИ ИДЕТЕЛЬСТ К АВТОРСКОМ Н.1 Пестаков(71) Институт высоких температурАН СССР(54) СПОСОБ ИЗМКРКНИЯ ТКМПКРАТУРЫПОКРЫТИИ(57) Изобретение относйтся к радиационной пирометрии и мокет быть ис,801393039 пользовано в энергетических машинахи аппаратах, космической технике, приисследовании свойств покрытий. Цельизобретения - повышение точности иэмерения температуры покрытий. Дляэтого в объекте, на который нанесенопокрытие, помещают модель черноготела, измеряют его температуру, эатем измеряют излучение покрытия и модели черного тела на 10-12 длинахволн в спектральном интервале 0,150,25 мкм. Па измеренным данным рассчитывают температуру покрытия. Данный способ Измерения температурыпокрытий имеет широкую область применения и достаточно прост. 1 табл,Тираж 440 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета СССРио делам изобретений и открытий113035, Москпа, Ж"35) Раупскал наб., д. 4/5 Заказ 1 З 16 Производстве.о-полиграфическое предприятие, г. Ужгород) ул. .роектная) средой и других причин отличается от температуры основной массы расплава, т.еповерхностный слой может рассматриваться как покрытие. Температура черного тела измерялась оптически пирометром 3 Ис погрепностью 0)17 Излучение поверхности и черного тела напт;ялялось оптической систем"й в )нц хр,иято 1 КС) спектральные комиоцснть иьщелялись в области Длин воин от 0)8 до 10 мкм (т,е. сиектряльцый интервал Р)2 мкм).Приемником излучения служил Фото- диод ЬДГ. тноке:я величин сцгнялфъв) и.-еренные с помоцью циФрового ямгервольтметря при Т597 К, предсгявлены в тяблцце. На основании этих дяццьгх ио специалтъной прорамии) в ко;эрой длятовыления устойчивое ц реегия былапримененя ортогонялизяция системы,на ЗВМ была рссчцтяца разность тем,ператур; Л Т 52 К; т.е. Т Т, --ЛТ1445 К,Погреность измерения температурыТ, оцэне ц;-,ч путем измерягия иэлучательц й "иосг бцог тц и яркс"ойгемиер,турьф, с;.ставила 4 К,Данный сисисизмерения "емперятуры покрытий имеет ирокую областьприменения) вплоть до температур раэрунения матери,;л покрытия, достаточно прост и имеет всокую точность,приближаю.уюся ."; чности измерения 9 1039 темперят 1 ры оптическ и ;игоетр м ио модели черного тела. Формула изобретения6 Способ иэмересия темиер) гу ры покрытий) включаюций ра мещ цце в теле, ня котором нянесе(о цс л., уР)те пО- крытие, моде,г. чрц:-г. . а ние его темп рятурь, о т .-, и ч я к З и Й с я тем;то, с цс;,ю пяыпеция точноеи) ;и иол си -,.и ио цз - меряют иэлуче,ия ио.рьт:молеи 1. черного )ся н, 10-12 диицях вол." в)спектральном и.тервал 0,1-О "5; кь, а температуру иокртця Т о.ределяют Н иэ систем;. урявеьий длина волны излучения;постоянные для дяццой темпе" рятуры Т;вторая постоянная Иляикя; температура чеи;ого тела; величина сгнала) соответст. вунщего излуе)и покрытия на длине волны Л)величина сигналя)оответствующего излученцю черного тела на той . е длине волны Л.3
СмотретьЗаявка
4038777, 21.03.1986
ИНСТИТУТ ВЫСОКИХ ТЕМПЕРАТУР АН СССР
ЛАТЫЕВ Л. Н, ШЕСТАКОВ Е. Н, ЧЕХОВСКОЙ В. Я
МПК / Метки
МПК: G01J 5/52
Метки: покрытий, температуры
Опубликовано: 23.03.1992
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1393039-sposob-izmereniya-temperatury-pokrytijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения температуры покрытий</a>
Предыдущий патент: Способ промывки трубопровода
Следующий патент: Устройство для контроля преимущественно обсадных колонн в скважине
Случайный патент: Устройство для моделирования задач теории поля